红外光学材料

摘要： 介绍了红外光学材料钙铝酸盐玻璃陶瓷的国内外研究过程和现状。结合钙铝酸盐玻璃陶瓷的材料组分、光学特性和表面硬膜等试验研究,分析其作为红外、激光窗口和红外光纤器件的理想材料所具备的高透射、低吸收、低损耗和硬膜适用性等特征。

摘要： 为了实现红外光学微结构表面的高效、高精度、低损伤加工,提出了一种超精密自适应飞刀切削方法,并进行了实验验证。根据飞刀切削的运动学特性,建立了飞刀切削塑性加工模型。以最大切屑厚度始终小于脆塑转变临界为原则,根据微结构表面的局部形貌特征,采用迭代算法规划出具有动态变化进给速度的刀具轨迹。最后,将所提出方法与传统飞刀切削方法进行对比实验,验证了所提出自适应飞刀切削方法的有效性。通过实验成功在单晶硅材料上加工了无脆性断裂的微沟槽,表面粗糙度达到18 nm。与传统飞刀切削方法相比,超精密自适应飞刀切削方法在不降低进给速度的前提下,避免了脆性断裂,加工效率是传统方法的2.5倍。

摘要： 云南北方光学科技有限公司为北方夜视科技研究院集团全资子公司,具备良好的产业能力及技术优势,长期致力于光学领域中红外光学材料、器件产品的研发、制造和销售,具备非球面、整流置/球罩、红外窗口、异形棱镜等球面、非球面、平面光学元件等产品的生产能力。依托夜视院集团成熟且完整的产业链优势,具备整机测试条件,消热差镜头、连续变焦镜头为代表的产品在国内民用市场具备国内先进水平,是公司的主力镜头产品。

摘要： ZnSe晶体是红外光学材料的基板和光电调制器的基础材料.本文介绍了ZnSe晶体的光学基本性质,以及在ps或者fs等微小时间量级上,ZnSe晶体在非线性光学领域的应用.通过阐述光学晶体的非线性测量方法,解释了光致折射的变化,主要产生的是自聚焦、自散焦以及光学克尔效应等光学非线性特性.通过光学模拟,详细分析在激光器作用下的快速微观过程的基础研究.通过改变ZnSe晶体的非线性,可实现对腔内自相位调制强度的调控,使得脉冲光谱得到有效展宽和脉冲压缩.

摘要： 对2019年国内几家期刊发表的与红外专业有关的231篇文献进行了归类汇总,内容涉及碲镉汞、碲锌镉、锑化铟、超晶格、杜瓦/制冷机、非制冷探测器、光学材料/光学系统、整机、信号处理、红外隐身等方面。

摘要： 激光辅助切削通常是利用激光热软化工件表面,改善材料的局部切削性能,研究发现激光辅助可显著加大材料脆塑转变临界深度,降低工件表明粗糙度,改善工件表面质量,同时降低刀具磨损、减小切削力、延长刀具使用寿命。本文综述了激光辅助技术在切削工程陶瓷、光学材料等难加工材料的应用,总结了激光辅助条件下材料微观去除机制,并预测了激光辅助技术在未来切削加工的发展趋势。

摘要： 为准确快速获得块体硫系玻璃红外波段的折射率,搭建了基于类准直测量法的折射率测量系统.该系统采用液氮制冷的碲镉汞探测器和特殊的光路实现了光强信息的高分辨采集,使用高分辨数据采集卡将角度信息数字化,利用精密步进电机传动控制系统实现了光强信号与位置信号的同步记录.开发的测量软件可自动判别光强峰位信息,自动计算获得待测样品的折射率.对比测试Ge20Sb15Se65、Ge28Sb12Se60、As2S3和As2Se3商用硫系玻璃在3.39 μm和4.8 μm处的折射率.实验结果表明,该装置系统测量折射率的标准偏差为10-3,测量不确定度为0.0029,可快速、准确测量块体材料红外波段的折射率.%In order to determine the refractive index of bulk glasses in the infrared band,a refractive index measurement system based on the optical auto-collimation principle is proposed.We use a liq-uid-nitrogen-cooled mercury telluride detector and a special optical architecture to collect high-resolu-tion light intensity information.The angle information is converted to digital information by a data ac-quisition card.A precision stepper motor drive control system is used to synchronize the light intensity signal and the position signal.The software automatically determines the peak position of the light in-tensity,and automatically calculates the refractive index of the sample.T he refractive indices of the Ge20Sb15Se65,Ge28Sb12Se60,As2S3and As2Se3commercial chalcogenide glasses were measured at 3.39 μm and 4.8 μm.The standard deviation of the refractive index measurement system is 10-3with a measurement uncertainty of 0.002 9.The system can be useful to quickly and accurately measure the refractive index of bulk materials in the infrared band.

摘要： 在空间光学领域中,光学系统的发展趋势为长焦距、大视场、轻量化、大相对孔径、高成像质量等.为适应该发展趋势,对大口径反射式光学系统进行研究,在共轴三反系统的成像理论基础上,为避免中心遮拦,提高成像质量,采用视场离轴方式,设计了一款大口径离轴三反式光学系统.该光学系统在奈奎斯特空间频率17 lp/mm处,光学传递函数MTF大于0.75,成像质量接近衍射极限.此外,光学系统公差的合理分配是影响相机总体性能的主要因素,运用公差灵敏度分析和反转灵敏度分析,计算各公差对光学系统成像质量的影响,给出了合适的公差分配,经过模拟分析,按照给定的公差加工装调,系统光学传递函数大于0.55.

摘要： 在当前复杂的战场情况下，军用光电系统需要在各种环境条件下工作，这就要求这些系统的外部光学元件(窗口和整流罩)具有能够在各种苛刻的环境条件下正常工作的能力。根据系统的应用，常用的窗口和整流罩材料有蓝宝石、ZnS、ZnSe、Ge、Si等。另外，还可选择如尖晶石、AlON和MgF2等其它材料。对上述材料的制备技术和应用情况进行了收集和整理，给出了其性能参数，并对其发展趋势进行了预测。

摘要： 基于多样品多型号仪器的测试信息及其GUM和MCM方法,讨论了四步干涉法测量红外光学材料折射率均匀性的测量范围及其测量不确定度评定.红外干涉测量的绝对灵敏度和准确度虽不及可见激光干涉仪,但采用了四步干涉测量的方法,消除了干涉仪的固有系统误差,有利于实现对红外光学材料折射率均匀性的高准确度测量.实际测试表明,该测量范围覆盖l×10-5～5×10-3,相对测量标准不确定度2×10-1～2×10-3.

摘要： 针对于红外光学材料温度测试需求及传统测温技术的局限性,本文开展半透明红外光学材料的辐射测温方法研究.基于半透明介质辐射传递理论分析,研究建立镜反射辐射边界条件下、非散射介质的有效光谱辐射强度及有效光谱发射率模型,有效光谱发射率表征了目标介质内部发射辐射、环境反射辐射以及透射辐射的叠加效应.论文以CVD-ZnS红外光学材料为研究对象,采用数值模拟方法,研究分析了不同透射源、反射源以及不同的目标介质温度(25～600°C)等条件对8～14m有效光谱发射率的影响规律.上述研究工作将为半透明光学材料的辐射测温提供理论指导.

摘要： 本文介绍了红外光学材料用ZnS粉体标准物质的研制工作。以ZnS粉体为基体材料，通过提纯方法进行ZnS粉体中硫酸根含量标准物质的制备。经过均匀性检验、稳定性考察后，采用离子色谱法进行定值。制备的标准物质硫酸根含量在0.1％～0.5％范围呈三个梯度分布，不确定度U不高于7％(k=2)。

摘要： CVDZnSe是目前光学性能最好的红外光学材料之一.但在制备CVDZnSe时,尾气中未反应完全的剧毒硒化氢气体,对操作人员及环境的危害很大.采用逆流填料塔来吸收CVD方法制备ZnSe系统中的剧毒尾气硒化氢.为加快传质速率,提高吸收率,选用NaOH溶液作吸收液;利用H2Se气体与此溶液反应,降低气体在水溶液中的浓度,加大传质推动力;选择了具有高效分离因子的填料以减小塔身的高度和直径.并且对循环吸收液进行氧化,双重过滤等处理.最后用型号为TX-FMD的H2Se检测仪测量处理后的尾气中H2Se气体的含量,达到排放要求.

摘要： ZnS是宽禁带Ⅱ-Ⅵ族化合物半导体材料,兼有立方闪锌矿(β晶型)和六方纤锌矿(α晶型)两种结构.β-ZnS具有良好的红外透过性能,但在制备过程中,α-ZnS的出现会影响红外透过性能以及镀膜性能,因此,监测这类材料的物相含量十分必要.为此,本研究中采用X射线衍射中的Rietveld分析方法模拟测算这类材料的物相含量,结果表明:模拟计算的α-ZnS含量数据与实测值相符.该法的优点是无损、无标和快速测定,而且可以用于提取材料的微结构信息,如晶粒度、晶格畸变以及层错结构缺陷等信息,对于ZnS半导体红外材料的优化制备以及性能改善具有重要的意义.

摘要： 采用射频磁控溅射方法在纯Ar、CH气氛中在单晶Si(100)衬底上沉积了非晶GeC薄膜.利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)讨论了CH/(CH+Ar)流量比对GeC薄膜化学键合的影响.结果表明,当CH/(CH+Ar)流量比在0~20﹪之间时最有利于GeC膜中Ge—C健的形成.

摘要： 采用射频磁控溅射方法在纯Ar、CH气氛中在单晶Si(100)衬底上沉积了非晶GeC薄膜.利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)讨论了CH/(CH+Ar)流量比对GeC薄膜化学键合的影响.结果表明,当CH/(CH+Ar)流量比在0~20﹪之间时最有利于GeC膜中Ge—C健的形成.

摘要： 采用射频磁控溅射方法在纯Ar、CH气氛中在单晶Si(100)衬底上沉积了非晶GeC薄膜.利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)讨论了CH/(CH+Ar)流量比对GeC薄膜化学键合的影响.结果表明,当CH/(CH+Ar)流量比在0~20﹪之间时最有利于GeC膜中Ge—C健的形成.

摘要： 采用射频磁控溅射方法在纯Ar、CH气氛中在单晶Si(100)衬底上沉积了非晶GeC薄膜.利用傅里叶变换红外光谱(FTIR)讨论了CH/(CH+Ar)流量比对GeC薄膜化学键合的影响.结果表明,当CH/(CH+Ar)流量比在0~20﹪之间时最有利于GeC膜中Ge—C健的形成.

摘要： 本文提出了用射频溅射淀积技术沉积SiO红外减反保护膜的方法,对形状复杂红外罩,用该法能得到热蒸发无法达到的牢固致密薄膜,并给出了其光谱曲线.

摘要： 本发明的光学材料用聚合性组合物含有环硫化物化合物(A)、有机系色素(B)、紫外线吸收剂(C)、和聚合催化剂(D)，对于有机系色素(B)而言，在利用该有机系色素(B)的氯仿或甲苯溶液测得的可见光吸收分光光谱中，在565nm～605nm之间具有主吸收峰(P)，该峰(P)的显示最大吸光系数的峰顶点(Pmax)的吸光系数(ml/g·cm)为0.5×105以上，该峰(P)的峰顶点(Pmax)的吸光度的1/4的吸光度处的峰宽为50nm以下，并且该峰(P)的峰顶点(Pmax)的吸光度的1/2的吸光度处的峰宽为30nm以下，并且该峰(P)的峰顶点(Pmax)的吸光度的2/3的吸光度处的峰宽为20nm以下的范围。

摘要： 本公开文本的光学材料包含(硫)氨酯树脂和近红外线吸收剂，在以2mm的厚度测定的CIE1976(L＊,a＊,b＊)颜色空间中，a＊为‑10以上且0以下，L＊为70以上，在可见光吸收分光光谱中，主吸收峰(P)的峰顶点(Pmax)的吸光度的2/3的吸光度处的峰宽为150nm以上且400nm以下。

摘要： 一种光学材料，其包含树脂和近红外线吸收剂，所述树脂为选自由聚碳酸酯树脂、(硫)氨酯树脂及环硫树脂组成的组中的至少1种，在以2mm的厚度测定的CIE1976(L＊,a＊,b＊)颜色空间中，a＊为‑30以上且0以下，L＊为80以上。

摘要： 对于本公开文本的光学材料而言，以2mm的厚度测定的透过率曲线满足以下(1)～(2)的特性，并且CIE1976(L＊,a＊,b＊)颜色空间中的色相满足以下(3)的特性。(1)在波长400nm～450nm或520nm～570nm处具有透过率的极大值，并且，波长400nm～450nm的透过率的最大值及520nm～570nm的透过率为50％以上。(2)在波长470nm～500nm处具有透过率的极小值，该极小值为40％以下。(3)CIE1976(L＊,a＊,b＊)颜色空间中的色相中，a＊为2.5以上且5.5以下，b＊为5以上且25以下。

摘要： 本发明的光学材料用聚合性组合物含有环硫化物化合物(A)、有机系色素(B)、紫外线吸收剂(C)、和聚合催化剂(D)，对于有机系色素(B)而言，在利用该有机系色素(B)的氯仿或甲苯溶液测得的可见光吸收分光光谱中，在565nm～605nm之间具有主吸收峰(P)，该峰(P)的显示最大吸光系数的峰顶点(Pmax)的吸光系数(ml/g·cm)为0.5×10

摘要： 本公开提供了一种厚尺寸红外光学材料的制备方法。其包括骤：(S1)：以化学气相沉积法获得的红外光学材料为基板，研磨抛光；(S2)：对基板进行等离子清洗；(S3)：将基板放置于化学气相沉积炉的沉积室，向化学气相沉积炉中的坩埚内装入反应固体；(S4)：对化学气相沉积炉进行抽真空；(S5)：将沉积室温度缓慢升至600‑850°C之间；将坩埚的温度缓慢升至500‑800°C；(S6)：分别以反应固体的蒸气、反应气体为原料，以氩气作为反应固体的蒸气和反应气体的载气通入沉积室；(S7)：坩埚内的反应固体蒸发完毕，停止向沉积室通入反应气体，对沉积室和坩埚进行降温；(S8)：研磨抛光，然后放置于热等静压炉中，恒温恒压处理时间为40‑250h；(S9)：降温降压然后出炉。

摘要： 本发明公开了一种测试红外光学材料热光系数的温控装置及其使用方法，将单面抛光的红外光学材料样品通过样品固定支架固定在温控台上，样品的抛光面朝上；盖上密封盖，将导气管与真空泵连接，抽出样品仓内的空气，使得其仓内压力低于0.1Pa；采用加热方式或制冷方式将温控台温度调节至设定温度，并保温2个小时以上，使得待测样品的温度趋于均匀，然后采用红外椭偏仪测试样品的折射率；测试样品在多个温度下的折射率，将不同温度下的折射率差除以温度差，即获得样品的热光系数。本发明将温控装置与红外椭偏仪结合，可用于测试‑60°C～400°C温度范围内红外光学材料的热光系数。

摘要： 本发明涉及一种红外光学材料微观缺陷检测装置、用于该装置的远红外显微镜头及该检测装置的检测方法，远红外显微镜头包括：沿着光轴从物侧至像侧依次排列的第一透镜、第二透镜、第三透镜和第四透镜；所述第一透镜、所述第三透镜和所述第四透镜为锗系玻璃，所述第二透镜为硫系玻璃；所述第一透镜和所述第三透镜的物侧面为球面、像侧面为非球面；所述第三透镜的非球面具有衍射环带；所述第二透镜和所述第四透镜的物侧面和像侧面均为球面。根据本发明的远红外显微镜头可以对肉眼无法观察的透远红外线的红外光学材料(硅、锗或硫系玻璃等)内部的微观缺陷进行观察，可以清晰地观察到气泡、杂质和/或裂纹等不同类型的缺陷。

摘要： 本实用新型涉及一种红外光学材料微观缺陷检测装置以及用于该装置的远红外显微镜头，远红外显微镜头包括：沿着光轴从物侧至像侧依次排列的第一透镜、第二透镜、第三透镜和第四透镜；所述第一透镜、所述第三透镜和所述第四透镜为锗系玻璃，所述第二透镜为硫系玻璃；所述第一透镜和所述第三透镜的物侧面为球面、像侧面为非球面；所述第三透镜的非球面具有衍射环带；所述第二透镜和所述第四透镜的物侧面和像侧面均为球面。根据本实用新型的远红外显微镜头可以对肉眼无法观察的透远红外线的红外光学材料(硅、锗或硫系玻璃等)内部的微观缺陷进行观察，可以清晰地观察到气泡、杂质和/或裂纹等不同类型的缺陷。

摘要： 本申请公开了一种红外光学材料导电型号检测用工装，涉及红外光学材料的导电型号检测技术领域，包括至少两个工装底座，可以用于支撑任意长度的锗产品，以实现任意长度的锗产品检测。其中，工装底座的顶面均设有呈V形的支撑卡槽，利用三角形原理来支撑卡住锗产品，能够较好支撑锗产品，避免锗产品放置不平或滑出，实现更好的检测准确性以及检测效率。再者，工装底座的底部还设置有支撑凸起，使得工装底座可水平设置、或往所述支撑凸起的一侧倾斜设置，从而利用其水平设置或可倾斜设置的特点能够根据实际需要对锗产品的支撑进行自适应的调整，使用更加灵活，适用性更好。