系统设计者

摘要： 突破性的SIMO技术取代传统电源管理架构,帮助消费类产品缩减40%材料清单。Maxim Integrated Products,Inc(NASDAQ:MXIM)宣布推出MAX77654单电感多输出(SIMO)电源管理IC(PMIC),帮助消费类产品开发人员将方案尺寸减小50%,电池寿命延长20%。这款下新一代SIMO PMIC仅采用单个电感即可提供三路输出,效率高达91%,比传统的四芯片系统提高16%。由于方案尺寸大幅缩小,与传统电源方案相比,系统设计者能够在可穿戴、耳戴式及其他小尺寸消费类产品中集成更多功能。MAX77654基于Maxim Integrated的高可靠性SIMO PMIC专利技术构建。

摘要： Maxim宣布推出超紧凑型、引脚相互兼容的MAX20075和MAX20076降压转换器，帮助系统设计者构建小尺寸、高效率、需要承受40V抛负载的应用方案。MAX20075和MAX20076降压转换器提供业界最小的静态电流（IQ）和超小方案尺寸，并集成内部补偿。该方案只需要最少的外部元件，可节省至多50％的电路板空问，是不问断供电汽车应用的理想产品。

摘要： Maxim宣布推出超紧凑型、引脚相互兼容的MAX20075和MAX20076降压转换器,帮助系统设计者构建小尺寸、高效率、需要承受40V抛负载的应用方案。MAX20075和MAX20076降压转换器提供业界最小的静态电流和超小方案尺寸,并集成内部补偿。该方案只需要最少的外部元件,可节省至多50%的电路板空间,是不间断供电汽车应用的理想产品。

摘要： 2018年3月28日,Maxim宣布推出超紧凑型、引脚相互兼容的MAX20075和MAX20076降压转换器,帮助系统设计者构建小尺寸、高效率、需要承受40V抛负载的应用方案。MAX20075和MAX20076降压转换器提供超小的静态电流（IQ）和超小方案尺寸,并集成内部补偿。该方案只需要最少的外部元件,可节省至多50%的电路板空间,是不间断供电汽车应用的理想产品。

摘要： ADAS因其大幅提升车辆安全性、增强驾驶体验,它的大部分功能已经或很快将成为汽车的强制要求。这些功能包括:智能制动防撞系统、GPS/导航、自适应巡航控制、车道保持、车道偏离报警,以及备份/全景视频。尽管这些功能在设计上非常受重视,但是对于ADAS系统设计者来说,在恶劣的汽车环境中保持稳定的直流供电面临这非常严峻的挑战。

摘要： 高性能62mm模块代表着新一代全SiC电源模块,为大电流电力电子设备实现了高效率和电源密度,例如转换器/逆变器、电机驱动、工业电子和高性能电动汽车系统。新模块让系统设计者能够实现重量更轻的系统,其效率超过98%,与利用硅基技术构建的系统相比,其尺寸小67%之多,电源密度高10倍。

摘要： 应该意识到，许多试验方法是具体海底光缆系统设计所特有的，因此是系统设计者／供应商的专有信息。然而，系统设计者／供应商与系统购买_方／操作人员必须就试验的通用性和结果的用意达成共识。ITU-TG．976建议书强调了进行海底光缆系统试验的目的，同时列出适用于这些系统的主要试验方法，描述了具体的试验方法。该建议书的这一版本包括增加的耐振动性和耐冲击性试验。

摘要： 概述Ember EM359x片上系统集成了符合IEEE802.15.4-2003标准的2.4GHz收发器、32位ARM Cortex TM-M3微处理器、闪存与RAM存储器和外设,面向基于Zig Bee的系统设计者。收发器采用了动态范围超出IEEE802.15.4-2003标准规定值15d B的高效架构。集成式接收通道滤波使得它能够在2.4GHz频谱内与其他通信标准稳定共存,例如IEEE802.11-2007和蓝牙。集

摘要： 如今的x86处理器设计是之前30年的功能融合，达到目前的Intel-VT与AMD—V指令，支持硬件辅助虚拟化。如果一个x86CISC处理器能做任何事，其实它已经不是最佳选择。专为简化与高集成设计的RISC处理器可提升数据中心里的效率与能耗。出于高计算性能与低功耗使用的需求，系统设计者意识到包罗万象的x86处理器及其负责的指令集使得构建功能与效率都不高。

摘要： 提供一种用于设计数字PCR(dPCR)实验的计算机实施的方法。所述方法包含从用户处接收优化类型的选择。所述优化类型可以是例如将动态范围增至最大、将包含用于所述实验所需的反应部位的衬底的数目减到最小、确定稀释因子或确定检测的下限。所述方法进一步包含从所述用户处接收用于实验的精度测量，以及用于所述实验的反应部位中目标的最小浓度。所述方法还包含基于所述优化类型确定用于所述实验的一组dPCR实验设计因素。随后向所述用户显示所述dPCR实验设计因素组。

摘要： 提供了一种使用设计者意图数据检查晶片和掩模版的方法和系统。一种计算机实现的方法包括基于检查掩模版所产生的检查数据，标识晶片上的干扰缺陷，在检查所述晶片之前，使用所述掩模版在所述晶片上形成图形。另一种计算机实现的方法包括通过结合代表掩模版的数据分析检查晶片所产生的数据来检测晶片上的缺陷，代表掩模版的数据包括标识所述掩模版不同类型部分的标记物。再一种计算机实现的方法包括基于更改了晶片上形成的器件的特性的缺陷，确定用来处理晶片的制造工艺的性能。又一种计算机实现的方法包括基于检查晶片所产生的数据，更改或者模拟集成电路设计的一个或更多个特性。

摘要： 提供了一种使用设计者意图数据检查晶片和掩模版的方法和系统。一种计算机实现的方法包括基于检查掩模版所产生的检查数据，标识晶片上的干扰缺陷，在检查所述晶片之前，使用所述掩模版在所述晶片上形成图形。另一种计算机实现的方法包括通过结合代表掩模版的数据分析检查晶片所产生的数据来检测晶片上的缺陷，代表掩模版的数据包括标识所述掩模版不同类型部分的标记物。再一种计算机实现的方法包括基于更改了晶片上形成的器件的特性的缺陷，确定用来处理晶片的制造工艺的性能。又一种计算机实现的方法包括基于检查晶片所产生的数据，更改或者模拟集成电路设计的一个或更多个特性。

摘要： 提供一种用于设计数字PCR(dPCR)实验的计算机实施的方法。所述方法包含从用户处接收优化类型的选择。所述优化类型可以是例如将动态范围增至最大、将包含用于所述实验所需的反应部位的衬底的数目减到最小、确定稀释因子或确定检测的下限。所述方法进一步包含从所述用户处接收用于实验的精度测量，以及用于所述实验的反应部位中目标的最小浓度。所述方法还包含基于所述优化类型确定用于所述实验的一组dPCR实验设计因素。随后向所述用户显示所述dPCR实验设计因素组。

摘要： 提供了用于治疗癫痫发作紊乱的方法和组合物，所述方法和组合物包括向患者施用编码修饰的受体的载体，用于将修饰的受体递送至靶位置，该修饰的受体被修饰以被合成配体激活，其中修饰的受体在被激活时抑制神经元放电；以及向患者施用合成配体。还提供了用于治疗需要其的患者中的癫痫发作紊乱的方法和组合物，所述方法和组合物通过向患者施用编码修饰的受体的载体，用于将修饰的受体递送至靶位置，该修饰的受体被修饰以被合成配体激活，其中修饰的受体在被激活时增加神经元放电；以及向患者施用合成配体。所述方法用于改善或减轻癫痫发作紊乱的一种或更多种症状。

摘要： 本发明提供一种图像检查系统设计装置、图像检查系统设计方法以及图像检查系统设计程序，以不具有专业知识的人也能进行图像检查系统的设计的方式进行支持。图像检查系统设计装置10包括：输入部10e，受理表示图像检查系统100的检查内容的信息、及表示成为图像检查系统100的检查对象的工件1的绝对尺寸的信息的输入；以及计算部13，向基于以往的事例所生成的学习模型12输入表示检查内容的信息及表示绝对尺寸的信息，基于学习模型12的输出而算出构成图像检查系统100的机器的参数。

摘要： 具有：存储部(54)，其对多个配置文件数据(54a)进行存储，该配置文件数据(54a)分别包含工程数据信息和记述有通信路径的网络识别信息，该工程数据信息记述有被转发至控制仪器的工程数据的结构；系统结构图创建部(51b1)，其对系统结构图进行创建；选择接受部(51b2)，其接受对控制仪器的选择；以及备份部(51b6)，其基于与所选择的控制仪器相对应的配置文件数据内的工程数据信息，对备份工程数据(54d)进行创建。

摘要： 本发明属于定制产品辅助设计领域，提供一种辅助概念设计者进行定制产品概念设计的系统，包括：知识推送模块，用于提供设计资源，通过所述知识推送模块检索相关知识；信息交互模块，用于为各种人员提供设计信息输入的功能，并由该人员选择设计信息的类别；过程设计模块，用于提供方案创建窗口，并以结构图的形式建立过程方案，并支持概念设计者进行编辑。本发明能够以结构化的方式辅助设计者进行产品创新设计。

摘要： 本申请提供视觉AI算法系统设计方法、视觉AI算法系统设计装置以及视觉AI算法系统，方法包括：在云端服务器上设置触发规则、与触发规则对应的触发算法、识别规则以及与识别规则对应的识别算法；云端服务器将触发规则以及与触发规则对应的触发算法发送至摄像设备；提供用户开发界面，开发者在用户界面上选择触发规则以及识别规则；控制摄像设备在录制视频；控制云端服务器运行识别规则对应的识别算法。本申请能够使得开发者快速地实现视觉AI算法系统的开发，使得开发者在研发具有深度学习功能的摄像设备时，降低了开发成本，对开发人员的能力要求也极大降低，同时也使得开发出的功能能够满足大部分开发者的需求。

摘要： 本申请涉及一种使用设计者意图数据检查晶片和掩模版的方法和系统。一种计算机实现的方法包括基于检查掩模版所产生的检查数据，标识晶片上的干扰缺陷，在检查所述晶片之前，使用所述掩模版在所述晶片上形成图案。另一种计算机实现的方法包括通过结合代表掩模版的数据分析检查晶片所产生的数据来检测晶片上的缺陷，代表掩模版的数据包括标识所述掩模版不同类型部分的标记物。再一种计算机实现的方法包括基于更改了晶片上形成的器件的特性的缺陷，确定用来处理晶片的制造工艺的性能。又一种计算机实现的方法包括基于检查晶片所产生的数据，更改或者模拟集成电路设计的一个或更多个特性。