电源管理芯片
电源管理芯片的相关文献在1995年到2023年内共计654篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、工业经济
等领域,其中期刊论文372篇、会议论文5篇、专利文献582621篇;相关期刊98种,包括国际电子变压器、电子与电脑、电子产品世界等;
相关会议5种,包括2014航天可靠性学术交流、第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛、第二届中国高校电力电子与电力传动学术年会等;电源管理芯片的相关文献由519位作者贡献,包括任留涛、刘仕强、周泽坤等。
电源管理芯片—发文量
专利文献>
论文:582621篇
占比:99.94%
总计:582998篇
电源管理芯片
-研究学者
- 任留涛
- 刘仕强
- 周泽坤
- 贺策林
- 俞斌
- 张先明
- 本刊通讯员
- 杨维琴
- 郑秀峰
- 陈福操
- 陈良金
- 俞德军
- 单祥茹
- 吴晓波
- 张书瑜
- 张龙
- 曹丹
- 李文芳
- 杨建新
- 章金玉
- 赵梦恋
- 魏荣臣
- 刘珍超
- 张秀红
- 杨斌
- 王钊
- 班福奎
- 田云
- 詹陈长
- 赵永刚
- 郭光超
- 齐慰宗
- 龚州
- Marijana Vukicevic
- 丁国华
- 严亮
- 任航
- 伍滔
- 何
- 何旺旺
- 何浏
- 何筠
- 何钰
- 冯全源
- 刘一锋
- 刘小勇
- 刘彬
- 刘海涛
- 刘琼
- 刘胜
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高琦
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摘要:
一台鸿合HD-I7060E教学一体机,上电后电源待机指示灯不亮(正常时待机指示灯红灯亮)。按前面板上的软开关键,无反应。根据故障现象分析,判断电源板有问题。拆机检测电源背光二合一主板(板号:MP600S-H),电源保险管、整流桥堆、开关管、电源管理芯片及周边元件均正常,负载电阻无短路现象。
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顾小明;
李欢;
徐晴昊
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摘要:
在测试和应用电源管理芯片时经常会遇到在重载大电流情况下电源管理芯片不能完全正常或者保持高性能地工作,导致需要花费大量的时间和精力调试修改电源供给系统的设计。从两类常见的DC-DC电源功率级拓扑结构开始阐述,重点关注功率级的电流路径对电源管理芯片测试和应用的影响,并给出几点实际应用的建议。
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Asem Elshimi
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摘要:
随着系统级芯片(SoC)在支持物联网(IoT)实现连接和计算功能方面发挥无可争议的作用,该术语已成为行业流行用语,以至于难以将SoC与其他类型的集成电路(IC)区分开来。与电源管理芯片等单功能芯片相比,SoC在单芯片上集成了多种电子功能,而高质量的SoC则是由在微型芯片上运行的紧密结合的软、硬件功能所组成。其他半导体产品可以根据它们在一个芯片上集成的晶体管数量来判定是否合格;然而,这种判定方法无法准确反映SoC上集成功能的质量和复杂性。事实上,要使用更少的晶体管在SoC上构建同等数量的功能实际上是超高集成能力的体现。
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郑秀峰
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摘要:
一台小熊YSH-B18P1型养生壶,上电后面板无显示,各功能键不起作用,不加热。根据故障现象判断,故障原因应是电源电路异常。拆开底座,可见该壶控制芯片为JC1628A,电源电路中有一形似塑封三极管的元件Q1(KW10L),其实绘电路如图1所示。查资料得知,KW10L是一款专为小功率非隔离开关电源而设计的电源管理芯片,内置500V高压MOSFET管,具有宽电压输入、精准恒压控制、过压、欠压等功能。
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摘要:
电力是人类社会进步的基石,已经渗透生活的方方面面,半导体技术持续推进,使得电力的产生、传输、分配更加高效,特别是电子设备中的电源不断在效率和性能上取得突破,从而推动大型数据中心、新能源汽车、数字医疗系统、自动化制造等应用普及,背后的关键组件包含电源管理芯片(PMIC)和功率半导体等。
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储庆庆
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摘要:
开关电源是一种高效节能的电源,目前占据着大量的市场.一款好的开关电源离不开性能良好的芯片,电源管理芯片的好坏决定了电源能否稳定且高效地长期运行.因此,阐述芯片在开关电源上的应用,重点介绍LM5026芯片在开关电源上的应用,并分析其发展趋势.
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摘要:
近期,电源管理集成电路(PMIC)技术专家Silicon Mitus宣布推出采用Open-Cell方式的电源管理芯片"SM4810",适用于LCD电视面板。所谓的Open-cell是指以半成品的方式,在组装过程中,省略了模块制程。Open-cell LCD电视将传统的LCD电视模块中时序控制器(T-con)和电源管理(PMIC)功能集合于电视主板。Silicon Mitus公司代表许炎表示.
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雷拓;
成龙
- 《2014航天可靠性学术交流》
| 2014年
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摘要:
根据国产器件研制的特点,对国产器件的验证分为装焊工艺、常温测试、力学环境验证、温度环境验证等工作,其中,装焊工艺验证必须设计专用的验证印制板,用于工艺验证,重点对器件管腿成型工艺、焊接工艺与焊点应力适应性、三防加固方式及可靠性三个方面进行验证。电性能验证使用专用的测试平台,对电路的功能和性能进行验证。rn 本文详细介绍了存储器LCSM128K32A和电源管理芯片LPS70345两种国产器件应用验证的方法,并对应用过程中不易发现的制约因素进行了讨论,并借此为其他国产器件的应用验证提供参考和建议.存储器关键点分析:对此类双电源供电的器件,除常温条件下上电时序关系需要进行验证外,供电电源在不同的温度条件下以及交变的温度条件下,上电时序关系的满足情况关系着此类器件是否可满足实际工作条件的需求。为此,在应用验证中增加上述条件下存储器的上电检测,从而综合检测其整机条件下的适应性。电源管理芯片验证关键点:1.空载和满载的检测。对电源管理芯片进行空负载和满负载条件下的检测,同时观测输出波形是否异常,已验证对芯片供电电源能力的要求。2.散热情况的检测。进口的同类电源管理芯片散热具有明确的要求,并给出了散热面积与热阻的关系曲线,而国产器件无法完全符合进口器件的散热水平,为此在验证系统中对散热方式的有效性必须进行验证。
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史君;
李明明;
李鑫
- 《2013年航天可靠性学术交流会》
| 2013年
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摘要:
本文介绍了电源管理芯片序列中LDO元件的特性、指标、工作原理;以泰瑞达的Eagle测试机台为载体,选用MXT1117为测试样品,通过实例分析各参数的测试原理、实现方法和测试技巧,从而实现LDO芯片的测试.
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- 《第五届中国测试学术会议》
| 2008年
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摘要:
PMIC (power management integrated chip) devices become more and more important when more and more different chips integrated together. Such as in cell phone devices and other personal portable devices,it provides and manages the power of different cores including digital core, mixed-signal core, external interface core and RF core and the external battery. In a generic PMIC device, there are lots of LDOs (low drop out linear regulator). The load regulation test of LDO is most important and need large current load ranges from 50mA to 500mA which brings challenges to test stability. In production test of load regulation,the test results are very sensitive to the resistance of the path. The contact resistors causes big correlation issues which highly impact the yield of wafers or chips. In design phase of PMIC devices, designers should consider it and design some extra circuits for testing. But DFT (design for test) also brings some problems such as extra pads or increase the size of devices. The design engineers need balance the chip cost and production stability. How to do it? This paper firstly introduces PMIC devices and LDO load regulation test then points out two DFT ways to solve the contact resistors' issue. It also covers the advantages and disadvantages of these two DFT solutions. At the end the paper provides an ATE solution on 93000 with Verigy's DC scale instruments.