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电子冷却

电子冷却的相关文献在1995年到2022年内共计138篇,主要集中在能源与动力工程、原子能技术、无线电电子学、电信技术 等领域,其中期刊论文75篇、会议论文17篇、专利文献880243篇;相关期刊35种,包括军民两用技术与产品、中国基础科学、国际学术动态等; 相关会议13种,包括第十三届全国热管会议、2011年中国工程热物理学会传热传质学学术会议、第十二届全国热管会议等;电子冷却的相关文献由259位作者贡献,包括夏佳文、杨晓东、冒立军等。

电子冷却—发文量

期刊论文>

论文:75 占比:0.01%

会议论文>

论文:17 占比:0.00%

专利文献>

论文:880243 占比:99.99%

总计:880335篇

电子冷却—发文趋势图

电子冷却

-研究学者

  • 夏佳文
  • 杨晓东
  • 冒立军
  • 原有进
  • 魏宝文
  • 杨建成
  • 马晓明
  • 李杰
  • 赵红卫
  • 宋明涛
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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排序:

年份

    • 李嘉煜; 张华
    • 摘要: 随着新型电子元件产生热量的增加,纳米流体特性与微通道特性的结合成为研究热点。这种技术的发展可以使电子设备进一步小型化,并提高能源效率。从纳米颗粒材料和散热器几何结构两方面综述了近年来纳米流体在电子冷却中的应用研究进展,总结了这一领域未来的研究机会和存在的挑战。研究发现,将纳米流体作为新型冷却液应用于不同的散热器中可以提升电子冷却技术的工作效率。
    • 沙小平; 李杰; 何仑; 孙晓龙; 冒立军; 陆海娇; 杨晓东; 杨颜冰; 汤梅堂; 赵丽霞; 马伏; 马晓明
    • 摘要: 强流重离子加速器装置(HIAF)将采用电子冷却技术,降低重离子束流的发射度和动量分散,提高核物理及原子物理实验的精度与亮度.电子冷却装置的冷却段磁场均匀度是影响冷却效率的主要参数,HIAF电子冷却装置采用多个独立高精度线圈串联产生纵向磁场的设计,获得极高的冷却段磁场均匀度.本文介绍了一种测量高精度线圈磁轴偏角的装置,采用定位装置测量线圈的几何对称轴,通过旋转霍尔探头测量线圈中心平面上的径向与轴向磁场分布,再根据磁场测量数据计算出线圈磁轴与几何对称轴之间的偏角.实际测量表明该装置的磁轴偏角测量精度达到±0.10 mrad.测量得到的HIAF电子冷却装置冷却段线圈样品的磁轴偏角为(1.28±0.10)mrad,达到设计要求.
    • 摘要: 英国《自然》杂志发表一项电子学重磅研究,瑞士洛桑联邦理工学院(EPFL)研究团队报告了首个微芯片内的集成液体冷却系统,这种新系统与传统的电子冷却方法相比,表现出了优异的冷却性能。这一成果意味着,通过将液体冷却直接嵌入电子芯片内部来控制电子产品产生的热量,将是一种前景可观、可持续,并且具有成本效益的方法。
    • 夏兴祥; 王铁军; 袁祎; 胡力文; 胡鹏; 徐维
    • 摘要: 建立热管复合式机房空调系统的性能仿真软件,基于DeST气象数据,对哈尔滨、北京、上海、广州4个地区的空调能效进行对比分析,全年的制冷性能系数(EER)变化曲线均呈“U”型,室外平均气温越低,EER越高,节能性越好.与广州地区相比,上海、北京、哈尔滨机房空调系统的年度能效比(AEER)依次提高64%、105%、156%.基于北京地区的气象数据,分析空调系统变室温运行的能效特性,机房设定温度越高,EER越高,节能性越好.室内温度设定为33、30、27°C时的AEER相对24°C的依次提高56%、42%、19%.以节能减排为目标,热管复合式机房空调系统适宜应用在平均气温较低的地区,在满足电子设备可靠性的前提下,可适当提高机房的设定温度.
    • 梁勇; 刘妮
    • 摘要: Pulsed spray cooling plays a crucial role in the development of high-power electronics devices,and it has the potential to significantly improve the heat transfer efficiency of electronic components.This paper introduces the advantage of pulsed spray cooling compared to conventional continuous spray cooling.The research of pulse spray cooling at home and abroad is reviewed,and the effects of duty cycle,frequency and spray cycle on the heat transfer efficiency of the surface are summarized.In the end,the conclusion about pulsed spray cooling and the future research direction is discussed.%脉冲式喷雾冷却是解决现在大功率电子设备散热问题的最理想方法之一,具有能够大幅度提高电子元器件换热效率的潜能.介绍了脉冲式喷雾冷却相比传统连续喷雾冷却所具有的优点,综述了国内外对脉冲式喷雾冷却的研究,总结了占空比、频率及喷雾周期对热表面换热效率的影响.最后总结了现阶段关于脉冲式喷雾冷却的研究结论并展望了未来的研究方向.
    • 秦志明; 王耿; 刘杰; 乔舰; 冒立军; 赵贺; 汤梅堂; 李杰; 杨晓东; 杨建成; 阮爽; 吴波
    • 摘要: 实验研究了HIRFL-CSRm中电子冷却装置对C6+,Ar15+两种束流寿命的影响.首先,通过对比实验的测量确定电子冷却可以有效提高束流寿命;其次,探究了电子冷却装置中的各项参数(主要是电子束密度分布、流强、能量、绝热展开因子)是如何影响束流寿命的,通过改变电子束参数,测量束流寿命的变化趋势和规律,并且结合电子冷却相关理论对实验结果给予解释,最终通过实验优化和确定最佳的冷却装置参数,使束流在HIRFL-CSRm上获得了较高的寿命,从而提高HIRFL-CSRm束流累积过程中的流强增益.%The main Cooling Storage Ring (CSRm) of HIRFL-CSR is used to accumulate, accelerate and extract the charged ion beam to experimental terminal.During accumulation in CSRm, the Multiple Multiturn Injection method with electron cooling is applied at the injection energy to increase beam intensity.Theoretical analysis suggests that the cooling rate and beam lifetime have a strong influence on the beam intensity.On the one hand, electron cooling can quickly shrink the size, divergence and the momentum spread of stored ion beams, which is also used to reduce beam loss caused by Intra Beam Scattering (IBS).On the other hand, the recombination effects between electrons and ions will result in the beam loss.Some experiments on C6+ beam and Ar15+ beam were carried out in CSRm to investigate the relationship between electron cooling and beam lifetime.The beam lifetime was remarkably increased when electron cooling was applied.The effects of the electron beam parameters (density, current, energy and expansion factor) on the ion beam lifetime were measured.The results of the measurement were analyzed based on the electron cooling and recombination theory, and how the electron cooling affect the beam lifetime was studied.According to the measurement results and the analysis, the electron beam parameters were optimized to increase the beam lifetime and the ion beam intensity could be increased to a high level accordingly.
    • 周宇昕; 冯嘉伟; 苗双双; 周天骏
    • 摘要: 脉动热管主要用于解决电子元件的散热问题,近年来在其他应用领域也有推广.管径、管型、充液率、重力条件、工质物性等因素均会对脉动热管的传热性能产生影响.本文综述了国内外对脉动热管传热性能的实验研究和脉动热管的应用,提出了对将来研究方向的展望.
    • 张雨薇; 刘妮
    • 摘要: Spray cooling has excellent heat exchange performance. It is the key technique in the field of electronic cooling which requires low and uniform surface temperature and high heat flux. The influences of circulatory refrigerant with addictives on spray cooling heat transfer are summarized, the limiting factors of these addictives to further improvement of heat transfer efficiency are noted and some solutions are put forward. The addictives mainly include nano-particles, surfactants, dissolved gases and salts and alcohol. Last, some research directions are pointed out and a prospect forecast is gived.%喷雾冷却是解决电子元器件等高热流密度散热问题的关键技术。综述了在纯工质中添加纳米颗粒、表面活性剂、可溶性盐和气体以及醇类等添加剂对喷雾冷却换热性能的影响,介绍了不同类型添加剂影响换热的机理和限制换热的因素,并提出了一些可行的解决方案。指出了对含有添加剂的喷雾冷却的研究方向和应用前景。
    • 殷翔; 刘腾; 钱吉裕; 孔祥举; 李力; 夏源; 曹锋
    • 摘要: In order to investigate the possibility and developing advantages of the two-phase cooling system in the field of electronic elements, the systematic mathematic model equipped with test evaporator as the core component, which was pasted with electronic components, was established. Moreover, the system simulation method was taken to analyze the thermo dynamical performance and the advantages from different cooling effect,different limit of the heat transfer and different mass flux of the cycle.%为研究两相系统在电子元件冷却领域的可行性和发展优势,建立以贴有电子元件的测试冷板为核心部件的系统数学模型,采用系统仿真方法研究两相冷却系统的热力学行为,同时与传统水冷在冷却效果、换热极限、系统循环流量方面作对比分析。
    • 李杰; 柴伟平; 殷达钰; 申国栋; 汶伟强; 杨晓东; 冒立军; 杨建成; 原有进; 夏佳文; 晏太来; 马晓明; 石健
    • 摘要: The partly stripped ions get loss in storage ring when the charge state changes through collision ionization by residual gas and capturing electrons from electron beam . It was found in the first electron cooling commissioning of 12 C3+ beam at HIRFL‐CSRe that the lifetime of 122 MeV/u 12 C3+ beam is only 6.6 s shorter than expected ,and the electron cooling effect is unobvious .T he lifetime of 12 C3+ at CSRe and its electron cool‐ing time were calculated in this paper .The result shows that the vacuum pressure at the order of 10-8 Pa causes severe 12 C3+ beam loss at CSRe .T he beam loss due to recombi‐nation and cooling effect is unapparent in comparison with the one by collision ioniza‐tion .The calculation explains the accidental fast beam loss in the first electron cooling commissioning of 12 C3+ beam at CSRe .%非全裸离子在储存环内冷却储存时主要通过碰撞离化和辐射电子俘获进行损失。兰州重离子加速器(HIRFL)实验环(CSRe)调束发现,能量为122 MeV/u的12 C3+离子束注入到CSRe后的存储寿命仅为6.6 s ,且电子冷却效果不明显。本文结合CSRe真空条件计算了12 C3+离子束的存储寿命及其电子冷却时间,确定了CSRe平均真空度为10-8 Pa量级是导致非全裸的12 C3+离子束存储寿命减小的主要原因,而电子冷却作用及辐射电子俘获引起的12 C3+离子束损失被12 C3+离子束与残余气体碰撞离化损失所掩盖,即12 C3+离子束在未被完全冷却前便由于存储寿命过短而近乎全部损失。这解释了CSRe初步电子冷却调试中12 C3+离子束快速损失的主要原因。
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