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漏率

漏率的相关文献在1985年到2022年内共计304篇,主要集中在一般工业技术、无线电电子学、电信技术、机械、仪表工业 等领域,其中期刊论文125篇、会议论文3篇、专利文献101382篇;相关期刊85种,包括科学中国人、深冷技术、真空与低温等; 相关会议2种,包括第十四届全国质谱分析和检漏会议、第九届全国真空计量测试会、第十一届全国半导体集成电路、硅材料学术会议等;漏率的相关文献由757位作者贡献,包括孙立臣、闫荣鑫、师立侠等。

漏率—发文量

期刊论文>

论文:125 占比:0.12%

会议论文>

论文:3 占比:0.00%

专利文献>

论文:101382 占比:99.87%

总计:101510篇

漏率—发文趋势图

漏率

-研究学者

  • 孙立臣
  • 闫荣鑫
  • 师立侠
  • 喻新发
  • 孟冬辉
  • 冯琪
  • 刘兴悦
  • 成永军
  • 杨定魁
  • 洪晓鹏
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  • 会议论文
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