测试者

摘要： 流言:肥胖容易导致人体大脑供氧不足,大脑缺氧致使神经突触功能降低,思维速度减慢,导致智力发育迟缓。所以,肥胖与智商成反比。真相:智商,即个人智力水平的数量化指标,指个人智力测验成绩和同龄测试者成绩对比的指数。智商的差别在一定程度上可以从大脑生物学的角度来解释,也与后天的环境极其他因素相关。

摘要： cqvip:流言:肥胖容易导致人体大脑供氧不足,大脑缺氧致使神经突触功能降低,思维速度减慢,导致智力发育迟缓。所以,肥胖与智商成反比。真相:智商,即个人智力水平的数量化指标,指个人智力测验成绩和同龄测试者成绩对比的指数。智商的差别在一定程度上可以从大脑生物学的角度来解释,也与后天的环境极其他因素相关。

摘要： 最近,MBTI测试火遍全网,甚至成为一种流行文化。实际上,MBTI测试每隔几年都会火一次,从最广泛应用的职场领域,到如今万物皆可MBTI,有着80多年历史的MBTI人格测试到底是科学还是玄学,至今仍是值得探讨的话题。MBTI(迈尔斯--布里格斯类型指标)是一种人格测验,通过完成测试题可以得到由四个字母组成的结果,这个结果代表被测试者的人格类型。MBTI将人格特质分为外向E--内向I、感觉S--直觉N、理性T--感性F、主观J--客观P4种相互独立的倾向,在此基础上排列组合,共形成16种类型,每种类型都有其对应的性格特点。

摘要： 选取平地负重行进、抬担架救人、低姿搜救、受限空间行进、负重登楼五种典型的战术动作,研究了不同动作下空气呼吸器耗气速率和消防救援人员心率的变化规律。结果发现:紧急情况下空气呼吸器的耗气量更多,测试者的心率升高速度更快。其中,在进行平地负重行进和负重登楼动作时,测试者分别在37 s和26 s时达到最大心率,约132 BMP和178 BMP。另外,进行低姿搜救时,心率增加速度最慢。测试者心率随战术动作的进行均呈现先迅速升高后趋于平缓的规律。本研究可为消防救援人员在不同灾害事故现场中空气呼吸器的实际使用提供理论指导。

摘要： 心理学家曾进行过一组实验,他们请实验者完成不同难度的测试。其中一个测试是让测试者从一个满是文字的显示屏中找到指定的文字,同时分别放一个震动器在他们手中。测试结果指出:人一旦进入用眼的视觉模式时,手中的感应器的震动对人自身的影响是最小的。结论是:相对于使用其他感官模式,人使用视觉时最难以被分心。

摘要： 最近,科学家们研发出一种新型电池,它的神奇之处在于可由汗水提供动力。据了解,该电池附着在一种柔软的吸汗型纺织品上,可应用于可穿戴设备,包括智能手表、手环、小型医疗仪器等。在一项实验中,测试者将电池戴在手腕上,随后在静止的自行车上骑行30分钟,产生了4.2伏的电压和3.9毫瓦的输出功率。值得一提的是,与传统电池不同,该电池不含重金属或有毒化学物质,更为安全环保。

摘要： 在生物课中,我们进行了"测定反应速度"的探究活动。但原测试方法及装置存在很多不足,比如,测试者与受测者手的抖动会使受测者手指偏离尺的零刻度,增大实验误差;受测者每次拇指与食指张开的宽度不一,对夹尺有影响;夹尺时手指与尺的接触面积较大,手指边缘不整齐,无法精确读数;测试时受测者会无意识地将手上移抓尺,导致实验结果不精准,等等。

摘要： 心理学上,通过个人叙事法来对个体进行人格测试,是一种常用的手段。测试时,可以让被测试者描述一段故事,或者构思一部自传体小说、电影,然后通过个体对场景的描述,来判断其人格类型。在个人叙事中,个体通常会讲述其I人生的高光时刻、生活的转折点、童年时期的回忆等内容。根据这些零星的线索,我们可以描绘出其成长过程的脉络,进而分析出其人格特征。

摘要： 一、研究背景:完形填空(close)测试首次由W.L.Taylor在1953年创造,最初的目的是通过阅读出现词语空缺的文章来检验该文章的可读性。随着众多学者的完善和发展,完形填空基于格式塔心理学理论,从语言知识和人文社科等方面获取科学内容,逐渐演变成为一种重要的测试手段。目的在于检测语言教学效果和被测试者语言水平的高低。被测试者通过还原语篇中的空缺,来进行信息处理。在提供的语篇中,尽管其中出现了多出单词空缺,一些冗余信息依然能够帮助读者进行内容的理解。冗余信息能够提供丰富的线索信息,但是它具有相当的语篇分析的难度。考察了学生在具体语境中灵活运用语义、词汇、语法、文化、科学等知识的综合能力。

摘要： 本文公开半导体元件测试系统和测试处理器。根据本发明，由于具备用于消除设置于测试头的界面区块的测试板的热量的温度控制设备，因此，可以执行具有高度可靠性的半导体元件的测试。

摘要： 本文公开半导体元件测试系统和测试处理器。根据本发明，由于具备用于消除设置于测试头的界面区块的测试板的热量的温度控制设备，因此，可以执行具有高度可靠性的半导体元件的测试。

摘要： 本发明的一个实施例是一种用于测试被测装置(DUT)的自动化测试设备(ATE)，该被测装置包括处理单元和程序和/或数据存储器，其中处理单元能够执行来自程序和/或数据存储器的代码。自动化测试设备被配置为例如通过利用第一接口将程序上传到DUT来建立通信，该第一接口例如是调试接口或调试访问端口或能够访问处理单元以进行外部控制的通用接口。第一接口的典型用例是对DUT的调试访问，这通常要求有限的数据速率。在本发明的情况下，第一接口是用于测试执行的ATE访问，例如允许访问处理单元寄存器的接口。第一接口配置DUT以开启以高得多的数据速率(比第一接口高)运行的第二接口以进行额外的通信。此外，第二接口与第一接口相比可具有扩展的能力，例如将其自己的存储器作为正常系统存储器呈现给DUT的处理单元，只是访问时间可能较慢。

摘要： 一种用于测试被连接到芯片测试器的至少两个待测试器件的芯片测试器，包括：定时计算器，用于生成用于芯片测试器的通道的定时信息。该定时计算器适用于获得传输延迟差信息，该信息描述一方面从芯片测试器的第一通道端口到第一待测试器件的第一端子的传输延迟与另一方面从芯片测试器的第一通道端口到第二待测试器件的第二端子的传输延迟之间的差。该定时计算器适用于基于传输延迟差信息提供用于被连接到第一待测试器件或第二待测试器件的芯片测试器的第二通道的定时信息。通道模块配置器适用于基于定时信息配置芯片测试器的第二通道。

摘要： 在多个测试位置(102-108)处共享测试资源(112)的方法在多个测试位置(102-108)处以时间上的偏移量来执行各个测试流程，各个测试流程(116-122)在测试流程中的预定位置(116b-122b)处获取测试资源112。

摘要： 本发明公开了一种测试器件以及采用测试器件进行测试的测试方法。其中，该器件包括：第一共面波导和第二共面波导，第一共面波导包括第一中心导体带和位于第一中心导体带两侧的第二边缘接地带，第二共面波导包括第二中心导体带和位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带，位于第一中心导体带两侧的第一边缘接地带与位于第二中心导体带两侧的第二边缘接地带为一体，第一中心导体带与第二中心导体带之间预留有用于连接待测约瑟夫森结的目标位置，第一共面波导和第二共面波导组合形成测试器件的第一谐振腔。本发明解决了由于无法对约瑟夫森结的不同损耗机制进行定量区分测量造成的难以针对性地改进约瑟夫森结的技术问题。

摘要： 本申请公开了一种高速电缆的测试系统，通过针对高速线缆的两个高速线缆接口分别设置多路选通开关，由主控电路控制多路选通开关选通不同的通道完成对待测高速线缆的待测通道的切换，并控制测试仪器针对该待测通道进行测试，仅需在测试仪器的信号端口与多路选通开关之间设置SMA转接头即可，无需对应每个待测通道设置SMA转接头，不仅有效减少了高速线缆测试所需SMA转接头的数量，且无需拆卸SMA转接头切换测试通道，提高了高速线缆质量测试的自动化水平，节约了人力。本申请还公开了一种高速电缆的测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质，具有上述有益效果。

摘要： 本申请公开了一种USB小板的测试系统、测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质，通过第一连接器连接被测USB小板的主板连接器，微处理器在被测USB小板的USB接口悬空状态下通过第一连接器对主板连接器进行两两赋值的方式实现对被测USB小板的连接器引脚间短路测试，在USB接口接地状态下通过第一连接器对主板连接器赋值高电平以对被测USB小板进行USB接口连通性测试。相较于现有的PC工装，不仅可以在更短的时间内进入测试环境，缩短测试时间，且更为便携，同时在测试过程中不存在带电插拔状况，不会出现带电插拔的问题，从而不仅提高了测试效率，同时避免了测试过程对产品造成损坏，提高了USB小板产品质量。

摘要： 本申请提供的用于测试待测试设备的测试设备及测试方法，其中，测试设备包括：静电器、绝缘测试台、导电介质和第一阻抗元件；待测试设备、以及导电介质放置于绝缘测试台上，待测试设备与导电介质接触；导电介质与第一阻抗元件电连接，并且第一阻抗元件接地；静电器，用于向待测试设备发出静电；导电介质，用于传输待测试设备接触到静电之后所传输的电荷，至第一阻抗元件。本实施例中的静电传输路径与待测试设备的实际应用过程中用户通过待测试设备向其余物体放电的路径相似，进而提高静电测试结果的准确性。

摘要： 本申请公开了一种USB小板的测试系统、测试方法、测试装置、测试设备及计算机可读存储介质，通过第一连接器连接被测USB小板的主板连接器，微处理器在被测USB小板的USB接口悬空状态下通过第一连接器对主板连接器进行两两赋值的方式实现对被测USB小板的连接器引脚间短路测试，在USB接口接地状态下通过第一连接器对主板连接器赋值高电平以对被测USB小板进行USB接口连通性测试。相较于现有的PC工装，不仅可以在更短的时间内进入测试环境，缩短测试时间，且更为便携，同时在测试过程中不存在带电插拔状况，不会出现带电插拔的问题，从而不仅提高了测试效率，同时避免了测试过程对产品造成损坏，提高了USB小板产品质量。