测试电路

摘要： 随着摩尔定律的发展,集成电路中的晶体管及其互联金属尺寸逐渐减小。为实现这些纳米级尺寸结构,就需要更复杂的工艺制程,但随之而来的是芯片中缺陷的增加和良率的下降。为解决这一问题,作者设计一种高效的用于监测后道工艺制程的电路,可以同时监测大量样品,并准确发现有缺陷的结构。相较于传统的两端法测试方法,作者提出的电路和相应测试方法在相同面积情况下可以多放36%的测试样品,测试同等数量样品可以节省近70%的总测试时间,并通过投片验证。本文的设计有助于快速发现工艺中的缺陷并进行优化迭代,最终提升晶圆厂良率,提高产品竞争力。

摘要： 设计了电动玻璃升降器试验台,将3种不同类型升降器集成组装在一起,演示了升降器的工作原理,验证了防夹玻璃升降器的最小防夹阻力,逼真模拟汽车内玻璃的运动过程,具有较强的实用性,占用面积较小,且采购成本低。主要完成了实验台架、玻璃升降器功能电路及防夹手玻璃升降器测试电路等设计,并且对防夹手最大力进行测试,对硬件材料的选取和软件编程做了研究。

摘要： 设计并实现了应用于2.8 G高速DAC芯片的内部测试电路,该电路输出两路线性斜坡信号作为DAC模块的输入数据,DAC模块将其合成为一路线性斜坡信号输出.通过设计实验和多种设计方案优缺点比较,该测试电路最终采用两路并行累加器架构,克服了传统累加器结构无法用于高速电路的固有缺陷.在65 nm工艺下,基于此测试电路设计了测试芯片并进行了流片验证.测试结果表明:测试芯片整体可达到2.8 G SPS的测试速度,实现了对吉赫兹DAC全扫描测试的设计目标.

摘要： 问:能否同时产生所有频率的频谱?答:电路中的噪声通常都是有害的,任何好电路都应该输出尽可能低的噪声。尽管如此,在某些情况下,一个特性明确且没有其他信号的噪声源就是所需的输出。电路特性测量就是这种情况。许多电路的输出特性可通过扫描一定频率范围内的输入信号并观测设计的响应来测量。输入扫描可以由离散输入频率或扫频正弦波组成。干净的极低频率正弦波(低于10 Hz)难以产生。处理器、DAC和一些复杂的精密滤波可以产生相对干净的正弦波,但对于每个频率阶跃,系统必须稳定下来,使得包含许多频率的顺序全扫描很缓慢。

摘要： 在电子专业技能训练课程中,74HC161是一种比较常见的同步可预置数四位二进制加法计数器集成块.无论在生活实际应用还是在教学过程中,若能正确理解和掌握74HC161集成块的逻辑功能,将有助于电路的装配、调试以及故障排除.因此,设计了一款方便操作、结构简便以及功能现象明显的74HC161逻辑功能测试电路.

摘要： 输出电容是影响功率MOSFET开关损耗的重要参数.在开关应用中,根据输出电容Coss来确定器件的开关损耗具有一定的局限性.为了准确地评估器件的开关损耗,研究了功率MOSFET的有效输出电容Coer和Cotr及其测试方法.首先,以液压模型理论为基础阐述了器件参数Coer和Cotr的具体含义,并完成相应的测试电路设计.然后,建立了基于测试电路的数值计算模型;为了保证测试精度,模型中充分考虑了电压测试电路产生的负载效应.最终,采用该方法对器件的有效输出电容进行测试和计算.实验结果表明,该测试方法能对功率MOSFET的有效输出电容进行可靠测试.

摘要： 磁性液位计具有广泛的应用领域.利用各向异性磁电阻(AMR)开关芯片设计了一种磁性液位计及其测试电路系统,利用微处理器的I/O口直接读取各个AMR传感器的输出电压,从而获得液位高度信息,利用USB转UART实现和计算机之间的液位数据通信.测试结果表明,所制作的液位计可以准确监测液位高度.

摘要： 开发快速、低损耗和可靠的高压直流断路器对直流保护具有重要意义,合适的测试要求是检验直流断路器性能的重要依据.由于直流系统电流没有自然过零点,并且感性元件储存着巨大的能量,使高压直流断路器的测试与交流断路器的测试有着本质的区别.通过对多端高压直流电网中故障电流的详细分析,确定了接地故障发生后的3个阶段,即子模块电容放电阶段、臂电流衰减阶段、交流馈电阶段,讨论了各阶段对故障电流影响较大的关键参数.通过仿真,研究了连接到直流母线的线路数量和故障位置等参数对高压直流电网的影响,为高压直流断路器测试要求的确定提供了依据.

摘要： 为实现光互连网络中链路级误帧率测试，本文设计了光互连芯片链路级误帧率测试电路,提出一种高速并行PRBS-31生成算法,采用多级并行LFSR构成PRBS发生器,最大限度地利用LFSR的反馈信号,获得了周期为231-1的512位高速并行PRBS序列,最终实现了链路级误帧率测试。特别地,在NC Verilog仿真环境中完成了误帧率测试功能的模拟与调试,并在Xilinx FPGA中实现了误帧率测试电路。

摘要： 本文介绍了一种用于测量检波二极管高频参数,如电压灵敏度、正切灵敏度、电压驻波比的测试电路,并在实验中得到了验证,其检测参数指标达到了厂家要求。

摘要： 本文根据已研制的微加热式微气压传感器的加热电阻,设计了恒温、恒功率、恒压电桥三种测试电路,并对它们作了深入的分析对比.通过对微加热式微气压传感器的初步测试,发现传感器在恒温工作模式下有较高的灵敏度.

摘要： 随着集成电路的迅速发展,器件尺寸在不断地缩小,单粒子瞬态(SET)特性也发生着深刻的变化.在新的工艺下,SET将成为系统软错误(SER)的主要因素,SET已成为高频集成电路抗辐射加固的重点.其中单粒子瞬态脉冲窄化(SET Quenching)在65nm及以下工艺将成为普遍现象,这使得在研究SET电荷收集机理方面出现许多新的情况.此设计是在65nm工艺下提出多节点电荷收集导致SET脉冲窄化的试验测量电路,并在已有技术的基础之上提出了新的SET Quenching测量方法,突破了新工艺下SET Quenching的测量难题.

摘要： 本文对片上信号完整性进行了分析,并提出了一种有效的信号完整性测试电路.该电路不需要特殊的测试仪器和测试流程,可以完全融合于芯片功能测试流程中.通过在测试芯片中流片验证,该电路工作良好.对该电路的测试结果显示,某代工工艺下,耦合电容会使信号延迟增加48％.对比发现,参考时序分析流程对信号完整性分析结果与流片数据有较大差异.

摘要： 混频器是所有接收机(RX)的基本元件之一，但是利用矢网等仪器测试相位及时延等指标却不太容易，混频器的测试在微波领域的研究很少。针对国内对微波器件筛选难的问题，进行微波混频器测试技术研究，描述了微波混频器的测试电路，给出微波混频器各参数的测试方法并且基于此对其做出分析和对比。变频系统是卫星导航通信系统关键部件之一，因此对于微波混频器的测试技术值得深入研究。

摘要： 针对国内对微波器件筛选难的问题,进行微波混频器测试技术研究。文中描述了微波混频器的测试电路，给出微波混频器各参数的测试方法。目前，微波混频器已全面进入筛选测试阶段。

摘要： 数字电位器是一种颇具发展前景的新型电子器件，可在许多领域取代传统的机械电位器.单片机通过接口电路对数字电位器进行编程，即可构成可编程增益放大器、可编程滤波器等各种可编程模拟器件，实现"把模拟器件放到总线上"(即微控制器通过总线来控制系统中的模拟功能块)这一全新的设计理念.为了从本质上表述数字电位器的调节特性及内部两个电阻变量的依存关系，提出并建立了数字电位器(DCP)的拓扑结构，利用该拓扑结构不仅深入分析了数字电位器在模拟电路中的工作特性，还设计了一种可编程增益放大器(PGA)，并推导出数字电位器两种基本配置模式--可调电阻器模式、可调分压器模式的数学表达式.阐述了数字电位器的测试电路原理、测试方法、测试数据及注意事项.所阐述的理论及测试方法均得到实际验证，具有应用价值.

摘要： 本文介绍了在家用燃气热水器/两用炉测试台中,温度,压力,流量参数的采集系统以及单片机与PC机通讯电路的设计.

摘要： GPS或北斗能提供3σ置信概率下100ns的精确秒信号,在高精度应用时要求提供10ns精度的秒信号.该文提出了基于ACAM公司的超声波流量计TDC-GP22、FPGA AFS600和DSP TMS320C5502实现的高精度再生秒系统的设计方案,该方案采用TDC-GP22实现高精度时间测量,时间间隔测试分辨率可达45ps,测试精度优于100ps.TMS320C5502对测试的时间间隔进行卡尔曼滤波处理,估算出理想秒位置,通过调整铷原子钟频率,使秒信号到达理想位置,再利用GPS、北斗等秒脉冲驯服铷原子钟,提高铷原子钟的驯服精度和再生秒的稳定度.

摘要： 本发明涉及用于并行测试器(1)的定位装置、并行测试器(1)、以及用于测试印刷电路板的方法。本发明的一方面涉及精细调节定位装置，其中测试适配器(14)可以固定到保持装置的内保持件(28)，并且内保持件(28)可以相对于其他定位装置移动。作为轴承，仅提供一个或多个枢转接合件和/或一个或多个空气轴承和/或一个或多个磁轴承。

摘要： 本发明涉及用于平行测试器(1)的定位装置、平行测试器(1)、以及用于测试印刷电路板的方法。本发明的一方面涉及精细调节定位装置，其中测试适配器(14)可以固定到保持装置的内保持件(28)，并且内保持件(28)可以相对于其他定位装置移动。作为轴承，仅提供一个或多个枢转接合件和/或一个或多个空气轴承和/或一个或多个磁轴承。

摘要： 本发明涉及一种测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法，测试保护电路包括：第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压；及保护模块，与第一电连接端及第二电连接端连接，用于在感测引脚异常时将被测器件的电源电压反馈给测试机。上述测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法能避免测试机在感测引脚异常通过驱动线向被测器件输出过高电压，从而避免烧针。

摘要： 本发明涉及一种测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法，测试保护电路包括：第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压；及保护模块，与第一电连接端及第二电连接端连接，用于在感测引脚异常时将被测器件的电源电压反馈给测试机。上述测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法能避免测试机在感测引脚异常通过驱动线向被测器件输出过高电压，从而避免烧针。

摘要： 本公开提供了一种电路板测试系统、电路板测试主机及电路板测试方法。电路板测试系统包括测试夹具、供电模块、测试控制模块以及测试仪器。其中，测试夹具用于固定待测试电路板，当所述测试夹具成功固定所述待测试电路板时，输出第一信号；供电模块用于对所述待测试电路板供电；所述测试控制模块在获取到所述第一信号时，控制所述供电模块对所述待测试电路板供电；测试仪器在所述测试控制模块的控制下，对所述待测试电路板测试。本公开提高了对待测试电路板测试的稳定性。

摘要： 本发明提供了一种电路板测试用控制器、电路板测试箱及电路板测试系统，电路板测试用控制器包括：壳体；控制面板，设置在壳体上，包括第一区域和第二区域，第一区域中设置有开机按钮，第二区域内设置有触摸显示屏，触摸显示屏在开机按钮被触发时，显示电路板测试界面；第一通信模块，设置在壳体上，连接至用于放置待测试电路板的测试治具，用于获取待测试电路板的测试结果；存储器，设置在壳体内，连接至第一通信模块，存储器用于存储待测试电路板的测试结果；供电模块，设置在所述壳体上，连接至所述触摸显示屏、所述第一通信模块及所述存储器。

摘要： 在扫描测试电路设计中，在时钟树T的每个最后级元件101f中，使由该最后级元件101f所驱动的多个触发器电路互相串联(102a互相串联、102b互相串联、102c互相串联…)，构成子扫描链。然后，使从时钟树T的时钟供给点S算起的相对级数差最小(即，级数差为一级)的子扫描链互相连接。在使子扫描链互相进一步连接的时候，按从时钟延迟大的触发器电路向时钟延迟小的触发器电路进行数据移入的顺序连接。因此，插入在移位寄存器的数据传输线中、用以保证扫描移位寄存器的移位工作中的保持时间的延迟元件的数量减少，能够控制功耗。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。需要对被测试器件测试时，控制第一开关导通，控制被测试器件开启。此时电源的正极、第一开关、电感、测试端、电源的负极依次连接构成回路。电源给电感充电。电感的电流逐渐增大。当电感的电流增大到一定程度后，控制第一开关断开，并且关断被测试器件、导通第二开关。此时第二开关、电源的正极、电源的负极、二极管、电感的第一端、电感的第二端依次连接形成第二回路。电感中的电流可以依次通过第二开关、电源、二极管释放。电感中的电流还可以被电源回收。因此测试电路能够快速实现电感中的电流清零，便于快速进行下一次的测试，提高了测试效率。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、二极管、电感、第一开关、第二开关和测试端。二极管的阴极与电源的正极连接。电感包括第一端和第二端。电感的第一端与二极管的阳极连接。第一开关的一端与电源的正极连接。第一开关的另一端与电感的第二端连接。第二开关的一端与二极管的阳极连接。第二开关的另一端与电源的负极连接。测试端的一端与电感的第二端连接。测试端的另一端与电源的负极连接。测试端用于插接功率二极管。电感中的电流可以在电感、二极管、电源和功率二极管形成回路中快速释放。电感中的电流能够快速降低到零。因此测试电路可以快速启动第二次测试，大大提高测试效率。

摘要： 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、第一开关、第二开关、电感、二极管和测试端。所述第一开关和第二开关依次串联于所述电源的正极和负极之间。所述第一开关和所述第二开关依次串联于所述电源的正极和负极之间。所述电感包括第一端和第二端。所述电感的第一端连接于所述第一开关和所述第二开关之间。所述二极管的阴极连接于所述电源的正极。所述二极管的阳极连接于所述电感的第二端。所述测试端的一端与所述电感的第二端连接。所述测试端的另一端与所述电源的负极连接。所述测试端用于测试被测IGBT芯片。