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测试环境

测试环境的相关文献在1989年到2023年内共计895篇,主要集中在自动化技术、计算机技术、无线电电子学、电信技术、电工技术 等领域,其中期刊论文464篇、会议论文27篇、专利文献509288篇;相关期刊308种,包括金融电子化、电子测试、电子质量等; 相关会议27种,包括2012年航天可靠性学术交流会、第二十届全国测试与故障诊断技术研讨会、全国抗恶劣环境计算机第二十一届学术年会等;测试环境的相关文献由1493位作者贡献,包括刘斌、刘振宇、胡芸等。

测试环境—发文量

期刊论文>

论文:464 占比:0.09%

会议论文>

论文:27 占比:0.01%

专利文献>

论文:509288 占比:99.90%

总计:509779篇

测试环境—发文趋势图

测试环境

-研究学者

  • 刘斌
  • 刘振宇
  • 胡芸
  • 蔡立志
  • 郑军
  • 陈文捷
  • 黄勇
  • 丁锦宏
  • 刘英男
  • 刘锋
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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