测试点
测试点的相关文献在1980年到2022年内共计554篇,主要集中在自动化技术、计算机技术、无线电电子学、电信技术、化学工业
等领域,其中期刊论文276篇、会议论文12篇、专利文献385766篇;相关期刊200种,包括国土资源、装甲兵工程学院学报、家电维修等;
相关会议11种,包括第13届全国计算机、网络在现代科学技术领域的应用学术会议、中国电子学会电子机械工程分会2005年机械电子学学术会议、第十届全国容错计算机学术会议等;测试点的相关文献由910位作者贡献,包括徐拾义、平玲娣、范文纲等。
测试点—发文量
专利文献>
论文:385766篇
占比:99.93%
总计:386054篇
测试点
-研究学者
- 徐拾义
- 平玲娣
- 范文纲
- 侯文魁
- 李文
- 潘雪增
- 赵怡
- 俞仕庭
- 吴寿海
- 吴恺闻
- 吴鹏辉
- 周文华
- 宋裕康
- 尹丽娟
- 张也
- 徐晓光
- 徐立伟
- 徐立建
- 李少怡
- 李海
- 杨朝辉
- 柴本荣
- 桂海龙
- 王灿钟
- 胡孝楠
- 袁广骥
- 郭阳明
- 陈龙
- H·勒贝克
- I.G.波罗克
- J.A.坎贝尔
- N·埃尔斯德费尔
- W.A.黑格拉普
- 丁宗杰
- 严成立
- 丹尼尔·P·桑顿
- 付佑冬
- 何勇
- 何洪明
- 余崇义
- 余平
- 余清清
- 克施文德特贝格尔·格哈德
- 克里斯多佛·R·威尔逊
- 兰德尔·B·斯廷森
- 冀会芳
- 刘之浩
- 刘华秋
- 刘召贵
- 刘岱
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张红金;
刘维
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摘要:
随着信创产业的蓬勃发展,基于IaaS国产云平台软件测技术的研究日益受到关注,云平台性能好坏将直接影响到云服务的质量。本文首先分析了IaaS的概念和内涵,接着从物理服务器、虚拟机、策略、系统、安全5个层面详细阐述了IaaS层的测试功能,分析了其主要技术测试点,最后展望了基于IaaS国产云平台软件测试需要尽快解决的关键问题,以期为IaaS测试的相关研究提供了有益的探索。
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周明武
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摘要:
一台采用ARM架构的安卓电脑,上电后不开机。分析检修:取出主板,在路测量各供电端对地阻值,未发现问题。接下来上电测量各级供电与主要信号,其名称与测试点见表1。
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陶欢
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摘要:
一台技嘉台式机电脑(版号:GA-H61M-DS2),上电后不显示。分析检修:拆机目测,主板上的元件无明显异常。代换CPU DDR3内存条后试机,故障依旧;重写BIOS数据,仍不显示。该主板的主要供电名称及测试点见表1。对照表1,先在路测量各供电端的对地电阻,然后上电测量测试点的电压,均正常。
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周海军
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摘要:
电场干扰能量通过传导性耦合和辐射性耦合来传输,电磁屏蔽机房是最有效的屏蔽设施。由于没有规范的屏蔽室建设的设计、施工要求,国家对建设完工后的屏蔽室技术把关是统一测试,测试的要素是屏蔽机房测试点的选取和测试数据的规范要求。
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张宇翔;
冯锐莉
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摘要:
本文以现阶段飞机研制过程为背景,提出了一种飞机电源综合测试系统的模型研究。通过电源综合测试系统,对电源系统的各种状态、测试构架、软件及硬件实现进行测试研究,且对测试系统中关键技术进行了阐述。在测试系统中,对故障注入模式进行了研究,并对故障处理中的故障实施方法进行了探讨,对工程技术人员在飞机电源网络测试系统构建中的研究具有一定的指导意义。
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代家勋
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摘要:
一台康佳LED32F3200CE型液晶电视(主板型号为35017303),开机后背光不亮。拆机检查,上电测量恒流板输出的LED+电压【测试点为滤波电容C753(22μF/250V)两端】,待机时(红灯亮)为58V,二次开机后为96V(明显低于正常值150V)。
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徐海辉;
贾航;
崔曼
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摘要:
教室桌面的光环境质量与学生视疲劳的发生有密切关系,教室照明光环境改造与验收时要参考学生课桌的实际摆放位置,确保每一个学生桌面的光环境达标.本文经过对GB/T 5700-2008《照明测量方法》中的教室桌面照度测试布点方法和桌面照度均匀度计算方法的分析,结合学生课桌的实际摆放方式,从人机工程学角度研究教室课桌面的光环境需求,提出了一种符合实际课桌摆放方式的照度测试布点方法,以及更合理的桌面照度均匀度计算方法.
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刘艳;
赵廷弟
- 《中国航空学会可靠性专业委员会学术年会》
| 2003年
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摘要:
利用相关性模型的方法,对一个电路板进行了测试性设计及分析.通过对电路进行功能与结构的划分,建立了电路的相关性模型,优选测试点,并确定出优化的故障诊断策略.通过与原有测试性设计的比较,说明相关性模型法能够以较少的平均测试步骤对电路进行故障的检测与隔离.
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吕涛;
李晓维
- 《第十届全国容错计算机学术会议》
| 2003年
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摘要:
可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种硬件逻辑,从而提高芯片可测试性.其中,异步逻辑的可测试性设计是一个重要的领域.本文介绍了异步逻辑可测试性设计的原理,包括降低设计方案可测试性的异步逻辑的种类,针对各类情况的解决方案,以及存储块周围阴影逻辑的可测试性设计.最后介绍了异步逻辑可测试性技术在一款芯片中的应用.
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吕涛;
李晓维
- 《第十届全国容错计算机学术会议》
| 2003年
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摘要:
可测试性设计(Design for Test,简称DFT)是芯片设计的重要环节,它通过在芯片原始设计中插入各种硬件逻辑,从而提高芯片可测试性.其中,异步逻辑的可测试性设计是一个重要的领域.本文介绍了异步逻辑可测试性设计的原理,包括降低设计方案可测试性的异步逻辑的种类,针对各类情况的解决方案,以及存储块周围阴影逻辑的可测试性设计.最后介绍了异步逻辑可测试性技术在一款芯片中的应用.