测试机构

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经专家考核评审等相关程序,现公告如下。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经组织专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、湖北省农业科学院〔农业农村部食品质量监督检验测试中心(武汉)〕等3家机构通过了农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试中心授权核查的扩项评审,准许出具扩项参数的检测报告(见附件1)。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经组织专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、山西省农业种子总站[农业农村部农作物种子质量监督检验测试中心(太原)]通过了农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的到期复查评审(见附件1)。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经组织专家考核评审等相关程序,现公告如下一、中国农业科学院蔬菜花卉研究所[农业农村部蔬菜品质监督检验测试中心(北京)]通过了国家级农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的到期复查评审(见附件1)。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、四川省饲料工作总站(四川省蓄产品安全检测中心、四川省饲料监察所)[农业农村部饲料及畜禽产品质量安全检验测试中心(成都)]通过了国家级农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的复查评审,山东省种子管理总站[农业农村部农作物种子质量监督检验测试中心(济南)]、全国农业技术推广服务中心农业农村部全国农作物种子与肥料质量监督检验测试中心通过了农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的复查评审(见附件1)。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、江西省农产品质量安全检测中心[农业农村部农产品质量安全监督检验测试中心(南昌)]等2家机构通过了国家级农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的复查评审(见附件1)。

摘要： 导语按照工信部、国家广播电视总局、中央广播电视总台联合印发的《超高清视频产业发展行动计划(2019-2022年)》,以中央广播电视总台为代表的8K超高清制播机构、以国家广播电视总局广播电视规划院为代表的8K超高清测试机构、以北京2022冬奥8K超高清转播为代表的大型赛事转播,将中国超高清视频技术带入世界一流的领先地位。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、广东省农业技术推广中心[农业农村部种猪质量监督检验测试中心(广州)]等2家机构通过了国家级农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的复查评审。

摘要： 根据《农产品质量安全检测机构考核办法》《农业部产品质量监督检验测试机构管理办法》规定,经专家考核评审等相关程序,现公告如下。一、河北省农药检定监测总站[农业农村部农药残留质量监督检验测试中心(石家庄)]等2家机构通过了国家级农产品质量安全检测机构考核和农业农村部产品质量监督检验测试机构授权核查的复查评审(见附件1)。

摘要： 中国教育考试在"十四五"期间应在研发不同用途的教育测评、将学习轨迹追踪和高风险考试相结合、拓展人工智能技术的应用3个方面着力.为推动中国测试品牌走向世界,应注重培养跨学科复合型测试人才,积极鼓励和扶持民间测试机构参与发展测试行业,制定适合中国国情的测试标准.

摘要： 本发明是关于一种具旋转光源机构的测试机及使用该测试机的动态测试设备与方法，用以测试一影像传感器，其中该测试机包括：一承载台、一测试基座、一驱动单元、一支撑座以及一光源筒。测试基座固设于承载台上，驱动单元亦固设于承载台上且包括有一直立轴杆。支撑座固设于直立轴杆上位于测试基座的上方，光源筒固设于支撑座上。其中，驱动单元可驱动直立轴杆上、下滑移及左、右旋转，进而带动光源筒上、下滑移及左、右旋转。由此，能于一测试站完成影像传感器光源筒打光测试与对环境光源测试，且可依客户需求，弹性增加不同光源测试条件。

摘要： 本实用新型属于测试装备平台领域，提供一种测试机架的后抽式机构及具有该机构的测试机架，包括架体和连接在所述架体内的前框，以及可相对于所述前框滑出的后框，所述架体上设有便于所述后框滑动的导轨组件，所述后框上相对于所述导轨组件设有滑动组件；所述后框与所述架体之间还设有锁合件和限制所述后框滑动距离的限位件；通过这样的机构可以解决现有的测试机架测试产品的存放效率低或是测试机架未充分利用造成测试机架空间浪费，增大了生产成本的问题。

摘要： 本实用新型公开了一种测试机测试板锁固机构及芯片测试机，其中测试机测试板锁固机构，安装在测试机台上，且所述机台上安装有至少两个限位件，包括：加固件、锁紧圈以及锁紧柱，加固件用于固定测试板，且所述加固件的边缘开设有若干紧固槽，用于锁紧所述紧固件；锁紧圈套设在所述测试机台外，且所述锁紧圈的侧壁上开设有若干斜向下的配合槽，所述锁紧圈的上端内壁开设有压合块，所述压合块可卡合在所述紧固槽内，以使所述紧固槽对所述压合块限位；所述锁紧柱的一端贯穿所述测试机台的侧壁开设的活动槽并与所述测试机台内部的驱动装置连接，所述锁紧柱的另一端贯穿所述配合槽，以使所述锁紧柱沿所述配合槽侧向滑动，带动所述压合块将所述加固件压紧。

摘要： 本发明涉及一种具有手动触发功能的报警装置(1)，尤其是手动火警报警器，具有一壳体(2)和一可破碎元件(3)，该可破碎元件使壳体(2)在朝向使用者的操作侧封闭并且为了手动触发报警装置(1)必须通过使用者破碎该可破碎元件，具有一个用于报警装置(1)的无损坏功能测试的测试机构(14)，其中，该测试机构(14)构造和/或安置得用于通过可破碎元件(4)的移动来测试地触发报警装置(1)。

摘要： 本发明提供了一种抗摔损测试机构，用于测试一电子产品的抗摔损性能，包括底板，所述测试机构还包括设置在所述底板上的第一旋转组件及控制组件、固定在所述第一旋转组件一侧的第二旋转组件及活动设置在所述第一旋转组件上方的测试板，所述测试板上包括跌落板，所述控制组件用于控制所述第一旋转组件旋转从而带动所述第二旋转组件由所述测试板的一边旋转至该测试板的另一边，所述控制组件还用于控制所述第二旋转组件旋转先将所述测试板抬升，再控制所述第二旋转组件远离该测试板从而使得该测试板下降。

摘要： 本发明公开了一种旋转测试机构及基于该旋转测试机构的PCB测试方法，属于电子产品测试机构及测试方法技术领域，为解决现有技术中缺少自动测量装置的缺陷而设计。本发明旋转测试机构包括测试平台，测试平台上可拆卸地设置有用于放置待测试品的载具，在载具上方设置有旋转下压机构和测试探针，旋转下压机构能带动测试探针抵靠在待测试品上。本发明旋转测试机构能自动完成测试，便于自动取放载具，节省了空间、降低了成本，便于机械臂对载具进行自动取放。本发明PCB测试方法测试效率高、测试结果准确性高，适用于电子行业，尤其适用于PCB自动测试行业。

摘要： 本发明涉及一种具有手动触发功能的报警装置(1)，尤其是手动火警报警器，具有一壳体(2)和一可破碎元件(3)，该可破碎元件使壳体(2)在朝向使用者的操作侧封闭并且为了手动触发报警装置(1)必须通过使用者破碎该可破碎元件，具有一个用于报警装置(1)的无损坏功能测试的测试机构(14)，其中，该测试机构(14)构造和/或安置得用于通过可破碎元件(4)的移动来测试地触发报警装置(1)。

摘要： 驱动产品测试机构的浮动接头，该测试机构具有探针，浮动接头(10)包括一个基座(12)、一个活动体(16)和一个复位件(18)。基座形成有一个滑动槽(122)，该滑动槽具有一个底面(123)，在滑动槽的一端设置有一个定位部。活动体能够滑动地连接于基座的滑动槽内，且活动体具有一个面向滑动槽底面(123)的滑动面(162)，和一个背向滑动槽底面且用于安装测试机构的探针的安装面。复位件设置于定位部和活动体之间，以在活动体相对于基座滑动时，沿活动体滑动的反向向活动体提供一回复力。上述浮动接头可以使探针能够更容易顺畅的插入至用户端口内，避免探针误插端口，避免损坏探针及驱动产品。本申请还提供一种驱动产品测试机构。

摘要： 本实用新型提供了一种阻尼器的测试机构及测试机，阻尼器的测试机构，包括安装夹座、芯轴、编码器和限位传感器组，安装夹座包括定位座和夹持座，芯轴的轴身设置有测试盘和测试摆臂。编码器设置在芯轴上，测试盘上设置有与限位传感器组定位检测的限位孔。将阻尼器安装在安装夹座上，转动测试摆臂至起始点，转动芯轴，通过编码器确认开始检测的起始点位置。随着摆臂自由下落并带动芯轴转动，直至到达编码器设定的终点位置，此时也为摆臂完成行程的位置，控制器会记录下该行程的时长，从而计算得到该阻尼器检测后的数值，并依此判断该阻尼器的优劣。精确的确定起、始位置，再获得起、始位置的时长，可以达到精确检测的目的。

摘要： 本实用新型涉及一种芯片测试机构及测试机，芯片测试机构包括检测台、承载板与压接组件，其中：承载板固定于检测台上，承载板上开设有多个用于容纳待检芯片的容置槽；压接组件在竖直方向与水平方向均可移动地设置于检测台上，压接组件具有多个与容置槽相对应的压头；本实用新型提供的芯片测试机构，当压接组件朝向竖直方向移动时，压头可对待检芯片进行压接处理，当压接组件朝向水平方向移动时，压头与容置槽之间具有较大的操作空间，方便待检芯片的上下料操作；并且将承载板与压接组件均设置于检测台上，体积较小，方便用户的携带测量，可显著提高待检芯片的测试效率。