测试性设计

摘要： 要对航空装备进行测试性设计分析,必须在设计阶段进行合理的测试点选择。而目前常用的测试点选择方法缺乏信息可信度。笔者基于这一问题提出一种基于测试点信息熵可信度的优先级排序方法。在分析相关性图示模型及相关性矩阵的基础上,通过信息熵和信息衰减系数计算各测试点的信息量,进而完成对测试点的优先级排序。通过对某显示器进行测试性建模分析,采用基于信息熵可信度的测试点选择法对测试点优先级进行排序。算例分析表明此方法具备可行性,且可以在直接选用法的基础上对测试点进行进一步优先级排序。

摘要： 针对现有诊断策略优化方法中对多值系统不可靠测试的研究较少,且难以充分考虑多值测试和不可靠测试对诊断策略优化的双重影响的问题,提出了一种基于禁忌搜索的准深度算法。首先对故障与多值测试不确定相关性矩阵和多值不可靠诊断策略问题进行了描述;然后针对该问题,阐述禁忌搜索改进的准深度算法步骤;最后通过案例对所提算法进行了仿真验证。实验结果表明,所提算法能在保证故障检测和隔离效果的基础上降低算法复杂度,使得诊断策略优化过程更加准确高效。

摘要： 雷达装备在作战中具有重要的作用,而雷达装备的测试性设计对雷达装备起关键作用,对雷达装备的测试性设计进行分析,及时将测试性设计和试验相结合,使雷达装备的测试性水平得到提高。首先对雷达装备的测试性设计进行了分析和阐述,之后基于设计和试验提出了一种测试性评估方法,并提出一套测试性评估程序,来帮助雷达装备进行测试性评估。

摘要： 为提高雷达装备故障诊断效率,针对如何以较低测试费用诊断和隔离故障,同时避免漏诊和误诊的问题,提出了基于AO*算法的雷达装备诊断策略设计方法。研究了单故障和多故障并发条件下的雷达装备诊断策略,单故障条件下,以期望测试费用最小为优化目标,利用AO*算法获得了雷达装备最优单故障诊断策略;多故障条件下,利用多故障模糊组分析了多故障表现,识别了隐藏故障和伪故障,避免了漏诊和误诊。通过实例验证了方法的有效性和可行性。

摘要： 测试性模型是进行测试性仿真、设计、分析、评估的基础和关键;该文描述了设备测试性建模方法与测试性建模流程,为实现对复杂系统的测试性分析及故障诊断,获取有指导意义的诊断策略服务实际应用;测试性设计中采用多信号流建模技术,分层次建立某型机载音频设备的测试性模型;对设备故障模式、故障影响的分析归纳,收集各层级设备故障模式样本形成FMEA分析表;运用计算机建模仿真工具辅助,构建了定量化的测试性模型;通过模型仿真获得被测设备故障检测率、隔离率以及相关故障诊断流程;经测试性指标对比分析及测试性试验验证,发现该测试性模型中薄弱环节,经过迭代模型、改进测试性方案后,显著提高了设备的测试性指标,满足设备的应用使用需求。

摘要： 针对测试不可靠因素严重影响测试优化选择结果以及现有方法不能很好解决多目标测试优化选择等问题,提出基于第二代非支配排序遗传算法(NSGA-Ⅱ)的多目标测试优化选择的方法.首先,描述了测试不可靠条件下多目标优化选择问题的数学模型;其次,在该数学模型下,将系统给出的故障检测率和隔离率作为约束条件,将测试代价、漏检率和虚警率作为优化目标,建立了多目标优化问题;然后,提出带有精英保留策略的NSGA-Ⅱ对多目标问题进行优化选择,利用NSGA-Ⅱ能够得到一组Pareto最优解,可根据实际需求选择最优的测试组合;最后,针对某装备进行实例分析,得到3组最优解,可以满足不同需求下的最优选择,验证了所提数学模型与多目标优化算法的可行性与有效性.

摘要： 机载显控设备作为人机交互终端,具有数据处理及与人交互的工作特点,采用传统BIT(机内测试)测试性设计方法,故障检测率指标难以满足用户要求;根据其设备组成和主要功能,结合FMECA(失效模式影响及危害度分析)分析结果,提出BIT检测与人工检测相结合的方式开展测试性设计,通过TADS软件建立设备测试性模型并进行了计算和分析,设备故障检测率由74.72％有效提高到93.26％,以较小代价实现了用户要求;为其他人机交互机载设备测试性设计提供参考,具有较好的工程实用价值.

摘要： 为解决测试不可靠条件下的测试选择问题,对测试不可靠条件下的测试优化选择问题进行研究.将该问题还原为多目标问题来分析,以虚警率、测试数量、测试成本为目标,以故障检测率、隔离率为约束条件建立了问题的数学模型.以贝叶斯网络测试性模型为基础,利用提出的E占优NSGA-2算法求解该问题.利用该方法对某装备开展测试优化选择设计,并与NSGA-2算法、HBPSOGA算法进行对比,验证了该方法的有效性与实用性.

摘要： 测试优化选择是测试性设计至关重要的一个步骤,主要针对测试不可靠条件下的测试优化选择问题进行了研究.首先将该问题还原为多目标问题来分析,在此基础上以测试数量、测试成本、虚警率为目标,故障检测率、隔离率为约束条件建立了问题的数学模型;然后以贝叶斯网络测试性模型为基础,利用提出的MOPSO-NSGA2算法求解该问题;最后利用所提算法对某导弹机载无线电高度表开展测试优化选择设计,并与MOPSO算法、NSGA-2算法进行对比,验证了方法的有效性与实用性.

摘要： 故障预测和预测诊断技术为故障预测与健康管理(PHM)中的两大关键技术.在测试性设计分析理论下,依据电子系统的运行原理和故障情况,提出了一种电子系统故障预测和全方位诊断模型,综合了国内外故障诊断与预测方法,文章从基于测试性的故障预测、基于测试性设计的嵌入式故障诊断、基于信号处理的智能故障诊断这三方面介绍了电子系统故障预测和全方位诊断方法,探讨了未来的发展方向.

摘要： 随着军用装备电子化水平和复杂程度的提高,军方对武器装备的测试性要求也越来越高.为了提高测试性设计在军用机电产品故障诊断中的效能,介绍了机电产品测试性设计与验证的一般方法,并以某型辅助动力系统为例,对测试性需求分析、产品分析、测试点和BIT设计进行了研究,并通过建立测试性模型,得出了此系统的测试性水平评价.本研究为从事机电产品测试性设计相关人员提供参考.

摘要： 基于复杂系统的装备测试性设计的难点主要集中在如何设计才能降低虚警率,故障不能复现、重测合格现象也都与虚警率相关.根据复杂系统测试性设计的实际经验,从环境应力干扰、BIT设计不合理、BIT测试容差选择不当,BIT硬件可靠性差、BIT软件设计不规范五个方面进行了具体分析,重点分析了抗环境应力干扰设计,从工程角度提出切实可行的解决措施.这些措施在复杂系统研制阶段一开始就应该予以考虑,并在后续的测试性试验等一系列试验中进一步验证和完善.

摘要： 在产品设计阶段进行测试性设计可提高产品的固有测试性,基于多信号流图的测试性设计方法是复杂系统测试性设计的重要手段.仿真结果表明:该方法可以提高系统的故障检测率和隔离率,减小模糊组大小,提高航天系统的测试性设计品质参数.本文介绍了测试性设计与分析软件的实现,可用于型号软件安全保障及航天软件系统可测试性的验证与评估.

摘要： 测试性是武器装备的重要属性,对装备的保障能力建设具有重要的意义.本文通过对武器系统进行可视化建模,给出测试性的指标,并对系统的测试性指标进行预计和测试性改进设计,从而最终达到满足系统测试性指标要求的目的.结合某型号系统地实例,充分阐述了指标分配与预计的功能及工程效果.充分验证了将可测性设计应用与型号研制的不同阶段,指导和规范测试性设计,找出不足,持续改进设计.

摘要： 传统的测试性设计出发点往往是测试性指标的提高,如故障检测率、故障隔离率、虚警率等;在通过增加测试点提高系统测试性指标的同时,系统的故障检测与隔离能力会提高,但是系统基本可靠性会随之降低.本文主要研究的是在BIT设计时,增加可靠性约束条件,使可靠性和测试性达到均衡最优.首先建立以自身资源代价、基本可靠性、测试性能为基础的系统效能模型,并且建立可靠性和测试性性能约束条件,利用粒子群算法进行求解,最后通过实例验证该方法的正确性.

摘要： 飞航装备的测试性设计分析及故障诊断研究对提高武器装备的战备完好性和战时利用率,提升可持续的作战能力具有重要作用.本文通过对一般测试性设计分析流程的深入研究,从工程实用的角度提出了适用与飞航装备的测试性设计与分析的方法,最后就多种类型的故障诊断模式进行了分析研究,对后续飞航武器装备型号中的测试性设计分析及故障诊断工作具有重要意义.

摘要： 设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容.本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,为设备在研制阶段的测试性设计提供参考.

摘要： 故障注入技术已经越来越被人们所重视,尤其是随着武器装备电子程度逐渐提高,测试性设计的重要性也开始凸显出来,故障注入是验证装备测试性设计水平的重要手段.仿真故障注入在进行验证时不会破坏装备,因此这种方法成为了故障注入技术的主要方法.本文对PSpice仿真故障注入的方法展开了深入研究,对目前存在的注入故障数量大、人工完成耗时长等问题,提出了利用PSpice解析器以实现针对PSpice网表的语法制导技术,最终提出了实现故障注入自动化的AFIA算法.

摘要： 随着机载武器越来越多的装备部队,测试需求多种多样,部队的测试保障压力日益沉重,机载武器测试理论和方法的变革势在必行,是提升武器作战效能的关键.本文阐述了机载武器的发展现状,从机载武器作战和维护需求,武器系统数字化程度和性能、武器系统及部件的可靠性、武器系统模块化设计和部件的标准化、成本控制和提升武器作战效能等多个方面论述了自检测技术发展的可行性,对自检测技术发展前景和意义进行了展望,提出自检测技术发展的最终目标是武器系统的免检测.同时,本文提出了自检测技术发展的具体途径,从武器系统测试性设计出发,将测试性设计与武器系统功能性能设计结合,在实现上由简单系统向复杂系统逐步过渡,逐步脱离对检测设备的依赖,最终全面实现机载武器系统自检测.

摘要： 针对产品测试性指标验证评估中出现的故障隔离率间接反映产品故障隔离水平的问题,本文从产品测试性设计中采用综合诊断理念为出发点,分析故障隔离率指标评估中的影响因素,提出一种面向综合诊断的产品故障隔离率评估方法,以更直接评估产品故障隔离能力.

摘要： 本发明提出一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，包括：n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，n个DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，n个MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和n个扫描链组的输出端之间；控制单元，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试。根据本发明实施例的降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构可以有效降低小延迟缺陷过测试。

摘要： 本发明提供一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法，其中测试电路包括：测试外壳寄存器链、待测芯核连接电路、片上数据通路连接电路以及控制逻辑电路；所述待测芯核连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，所述片上数据通路连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与片上数据通路之间的互连电路；所述控制逻辑电路控制所述待测芯核连接电路和片上数据通路连接电路中的数据流向。本发明根据片上多核处理器的特点进行了优化设计，充分利用了片上数据通路的带宽，降低了测试成本，减少了片上数据通路中传输数据包的数目，所以大大降低了大量活跃数据包导致的额外功耗开销，并且大大缩短了测试时间。

摘要： 具有扫描设计可测试性性能的非扫描设计测试点结构属于集成电路可测试性设计技术领域，其特征在于，在组合逻辑电路各可控测试点和各相应的受控触发器之间连接有：各输出端依次相间隔地和上述各可控测试点相连而各有一个输入端与上述各受控触发器相应输出端依次相连的由或门和与门相间隔地组成的门纵列，各输出端在和上述各或门的另一输入端相连的同时而其输入信号分别为下述数字电平彼此相异的各原始输入信号PI1，PI2，…，PIk和统一的控制信号PR的另一个与门纵列。其中，PR＝0为正常工作状态，PR＝1为测试状态。上述另一个与门纵列可用或门纵列代替。与传统的扫描设计测试点结构相比它具有测试周期短，管脚开销省，故障覆盖率高的优点。

摘要： 本发明属于可靠性设计分析领域。提出一种基于可用性模型的装备可靠性测试性协同建模与优化设计方法，将可靠性与测试性设计方案中的关键设计指标作为评判可靠性与测试性设计方案好坏的决策属性数据，并确定各决策属性数据的权重系数，根据基于多属性决策的可靠性与测试性设计方案优选模型实现多种可靠性与测试性设计方案的优选分析，获得多种设计方案的排序结果，最终选择出最优可靠性与测试性设计方案，从而实现整体的可靠性测试性协同建模与优化技术。

摘要： 本申请实施例提供一种用例生成方法及装置、测试方法、可测试性设计方法，涉及芯片测试技术领域。该用例生成方法包括：通过预设约束文件对低速模块进行综合，以得到综合后的低速模块；基于插入扫描链后的编译工具和所述综合后的低速模块生成SPF文件；获取所述综合后的低速模块中捕获模式的目标频率；基于所述目标频率修改所述SPF文件中的参数，并基于修改后的SPF文件生成测试用例。该方法在预设约束文件中未定义扫描时钟，并通过修改SPF文件中的参数，从而可以降低扫描测试的捕获模式的频率，可以使得低速模块和高速模块可以一起进行测试。进而可以减小综合低速模块所得的面积，从而减少测试成本，还可以提高测试覆盖率。

摘要： 本发明涉及了一种基于测试授权验证的保护加密芯片免受扫描攻击的低开销可测试性设计结构。在常规扫描设计结构的基础上，该安全的可测试性设计结构引入了测试授权验证逻辑，并借助于扫描链暂存测试授权密钥，要求在测试时先从向扫描链中加载测试授权密钥。只有加载了正确的试授权密钥，芯片测试才能正常进行。如果攻击者不了解正确的测试流程、没有正确的试授权密钥，那么他就不能在规定的时间内向扫描链中加载正确的测试授权密钥，从而不能从输出端观测到扫描链真实的状态，也就无法开展基于扫描的非入侵式攻击。本发明在不影响电路性能和测试质量的前提下，能够抵御各种基于扫描的非入侵式攻击。

摘要： 本发明公开了一种测试性设计中测试点定量选择方法，其步骤包括：步骤一，获取系统初始化参数，步骤二，计算种群适应度，建立自适应函数，步骤三，更新粒子个体和种群全局的最优值，步骤四，判断算法是否进入收敛状态，确定惯性权值，步骤五，判断是否达到最大迭代次数，达到最大次数则给出最优测试点。与现有技术相比，本发明能够有效提高测试性设计中测试点定量选择的优选效果，提高测试性设计指标检测率，隔离率，并降低测试性设计成本。

摘要： 本发明公开了一种测试性设计中测试点定量选择方法及装置，属于测试性优化设计领域，包括步骤1：建立故障模式与测试点之间的相关性矩阵；步骤2：根据相关性矩阵，分别定义测试性参数检测率(FDR)、隔离率(FIR)；步骤3：建立约束条件：

摘要： 本发明提出一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，包括：n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，n个DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，n个MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和n个扫描链组的输出端之间；控制单元，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试。根据发明实施例的降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构可以有效降低小延迟缺陷过测试。

摘要： 本发明提供一种片上多核处理器的测试电路及其可测试性设计方法，其中测试电路包括：测试外壳寄存器链、待测芯核连接电路、片上数据通路连接电路以及控制逻辑电路；所述待测芯核连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与待测芯核之间的互连电路，所述片上数据通路连接电路是连接在所述测试外壳寄存器链与片上数据通路之间的互连电路；所述控制逻辑电路控制所述待测芯核连接电路和片上数据通路连接电路中的数据流向。本发明根据片上多核处理器的特点进行了优化设计，充分利用了片上数据通路的带宽，降低了测试成本，减少了片上数据通路中传输数据包的数目，所以大大降低了大量活跃数据包导致的额外功耗开销，并且大大缩短了测试时间。