测试向量

摘要： 在需求和设计层面上介绍了基于T-VEC的建模与分析方法,生成的测试向量达到路径、决策和条件的全测试覆盖,保证了每个需求功能点得到充分的测试。本文以调光控制系统为例,针对自动调光算法提出并建立了迟滞环控制模型,通过模型分析识别需求中的缺陷、生成测试向量和测试驱动、编译和执行测试驱动、执行结果分析。验证结果表明了该方法在航空嵌入式软件测试中的有效性和实用性。

摘要： 随着存储器的不断发展,实现存储器全地址多功能测试所需要的向量深度也迅速地变大,有些甚至已经超出了测试系统本身存储容量的限制,因此,如何压缩测试向量变得至关重要。与基于硬件APG的传统存储器测试方法相比,MTP软件包作为V93000系统推出的内存测试解决方案,具备设置灵活、占内存小、实现方便、可与传统的测试向量共同使用等特点。首先,着重地分析了MTP的特点;然后,详细地介绍了MTL文件的构成;最后,以DDR3器件的测试为例,阐述了存储器测试过程中利用MTP生成测试向量的方法,从而高效、简便地完成了存储器的测试评价。

摘要： 为解决芯片集成度提高带来的自动测试设备(ATE)存储容量和带宽之间的矛盾,提出一种利用循环扫描链的测试数据压缩解压算法。移动循环扫描链中的测试向量,前后测试向量之间因此产生间接相容的关系,编码间接相容测试向量,实现测试数据压缩的目的。根据线性生成图,测试向量以最小幅度循环右移快速产生后续测试向量,有效降低测试应用时间。与同类经典方案相比,该方案的平均压缩率效果最好,编码算法简单,测试向量解码电路简单。

摘要： 针对边界扫描算法中,采用无限制短路故障模型生成测试矩阵时,存在测试时间长、诊断精度低的问题,在对结构测试算法进行研究的基础上,提出一种基于蚁群算法的测试向量生成方法。通过电路板结构信息建立有限制故障模型,引入图论方法,利用蚁群算法生成最优化的测试向量集。经过实际电路板实验,在保证测试完备性的前提下,该方法生成的测试向量集具有较好的紧凑性,有效地提高测试效率,降低测试成本。

摘要： 阐述数字电路测试中的ATE格式的测试向量,需要进行处理才可以配置到测试电路中,提出一种用Python实现测试向量的解析和存储方法,有如下特点:(1)待处理的测试向量长度不再受测试电路内存容量的限制;(2)转换后的测试向量文件更小;(3)存储后的文件保留原数据结构方便后续的直接调用及再处理。

摘要： 基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统。该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件,即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下,I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试,实现了测试系统的通用化和低成本化。最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试。

摘要： 基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统.该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件,即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下,I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试,实现了测试系统的通用化和低成本化.最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试.

摘要： 集成电路是新一代信息技术战略产业的基础,关乎国家的信息安全和经济安全.集成电路测试是集成电路产业链的关键技术环节,贯穿于设计、制造、封装和应用等全产业链.集成电路设计、工艺和封装等技术的发展,对集成电路测试提出了挑战.在总结集成电路测试分类的基础上,研究了集成电路测试的全流程,基于集成电路测试设备的发展现状,详细地分析了超大规模集成电路的ATE自动化测试、测试向量转化优化和高速信号完整性测试等关键技术,最后展望了超大规模集成电路测试技术发展.

摘要： 为能够对某国产SoC器件的性能指标进行精确评估,需要为该电路提供完整的测试解决方案;基于此款SoC器件模拟部分的结构分布和功能描述,通过合理分配测试机台的硬件资源、测试向量自动转换软件和手工编写的结合使用、灵活应用转化器测试技术和模拟开关测试技术等手段,实现在电路系统控制下对国产SoC模拟部分即A/D转化器和模拟开关的完整测试和准确评估,从而为国产SoC器件在模拟部分的设计改进和性能提升提供了有力的技术保障.

摘要： 随着工艺的发展,尤其到45nm以下,工艺波动、串扰、电源噪声分布以及阻性短路和开路等会引入大量小时延缺陷(small delay defect),这些小时延在高频电路中可能引起时序功能失效,导致质量和可靠性争端.因此,为了提高故障覆盖率和测试有效性,小时延缺陷测试成为延迟测试的关键.许多典型的小时延测试方法或者通过增加测试向量集数目与自动测试向量生成(ATPG)时间,或者改变电路结构(比如超速测试).基于上述前提,本文提出了一种基于归一化的小时延测试方法,通过归一化计算检测故障路径与可检测故障最长路径比值的方法选取出多检测(n-detect)跳变故障ATPG中测试小时延缺陷最有效的测试向量,再增加少量的Top -off测试向量(1- detect ATPG),构成总的测试向量集.实验结果表明该方法不仅可以降低ATPG时间,减少测试向量数目,而且可以提高小时延缺陷测试的有效性.

摘要： 本文基于SAPPHIRE集成电路测试系统,介绍了自行开发的从VCD测试向量到STIL测试向量的转换软件及流程.该软件及流程很好的实现了从设计到测试间的链接.经实践证明,转换效率和准确性很高,具有良好的推广应用价值.

摘要： 介绍了一种数字电路故障测试的实用方法。该方法基于网络撕裂的思想，把电路划分成模块，然后对各个模块进行测试。对于VLSI，该方法只需利用较少的测试向量就能达到良好的测试效果。

摘要： 由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源，而不仅仅是被测试的对象．被测电路在由外部加载了初始向量后，可通过与电路输入相连接的一些内部节点，利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量．本文对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进，提出了一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法．对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明，本文方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率．

摘要： 存储器检测是集成电路检验测试中的一类重要课题。基于IMS公司的XL60数字集成电路测试系统平台编写合理的测试向量，设计制作匹配的扩展测试适配器。试验了RAM、ROM等存储器的功能测试和多种直流参数测试，实现了存储器高速自动可靠检测。

摘要： 本文中应用 Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试。根据芯片功能分析和封装形式，对测试板进行了优化设计。根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计。

摘要： Verigy 93000测试系统(简称V93000测试系统)是当前应用广泛的测试机台，不论在实速器件特性分析还是大批量制造，V93000都能满足业界在性能和成本方面的需求和挑战。然而对于芯片的入厂检测来说，测试向量需要自行开发，手动编写费时费力，因此有必要在V93000测试系统上开发出一套向量生成工具。本文分析了V93000测试系统上测试向量开发的工作原理，讨论了测试向量的数据结构，并实现了V93000测试系统上向量生成工具的开发。

摘要： FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一，随着FPGA的迅速发展，对FPGA的测试得到了广泛重视和研究，其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础，研究了基于V93000 SOC测试系统的FPGA器件测试技术，为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。

摘要： FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一，随着FPGA的迅速发展，对FPGA的测试得到了广泛重视和研究，其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础，研究了基于V93000 SOC测试系统的FPGA器件测试技术，为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。

摘要： FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一，随着FPGA的迅速发展，对FPGA的测试得到了广泛重视和研究，其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础，研究了基于V93000 SOC测试系统的FPGA器件测试技术，为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。

摘要： 本发明公开了一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。它包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，首先确定测试向量的编码，从测试向量集中取出向量t

摘要： 本申请公开了一种基于层次化测试向量的高效测试方法，涉及芯片测试技术领域，该方法将待测试的互连路径分成多个层次结构，针对各个层次结构生成测试序列，每个层次结构中对应上一个层次结构中同一个结构单元的各个测试向量作为一个测试组依次串行移位，该方法按照互连路径的层次对应生成层次化的测试序列，可以在保证全覆盖测试的基础上大大降低测试序列的数量，从而加快测试速度、提高测试效率，尤其适用于多裸片FPGA这种内含大量互连路径的结构。

摘要： 本发明提出了一种测试向量的存储方法、压缩方法及设备、测试方法及设备，压缩方法包括：获取测试向量集合，从中选取两个具有相同区域的测试向量；对两个测试向量进行比较，获取变量位置和非变量位置；获取第一集合和第二集合；根据变量位置上的向量数据和第一集合获取变量数据集，根据非变量位置上的向量数据获取模板数据集；将第二集合作为测试向量集合；重复上述步骤，直至满足迭代停止条件，获取迭代停止后的测试向量集合以及所有的变量数据集和模板数据集。本发明通过对测试向量进行压缩，降低了上位机和测试机之间的测试向量传输量，减轻了芯片测试的硬件负载，提升了测试向量传输效率，进而实现芯片测试的效率。

摘要： 本发明公开了一种测试向量生成方法、装置、测试方法、系统及存储介质，其中，所述方法包括：获取测试对象在工作过程中生成的日志，调查日志中的异常时隙中的异常参考配置，以及基于对比正常参数配置与异常参数配置之间的差异，生成至少一个测试向量。本发明所公开的技术方案能够提高测试向量的有效性，并能够快速及准确调查异常参数配置存在问题的参数。

摘要： 本发明公开了一种多类型测试序列的测试向量生成和检测系统及方法，包括测试向量生成单元和测试向量检测单元；测试向量生成单元包括测试向量控制单元和测试序列发生单元；测试向量控制单元用于完成测试模式的选择与切换，以及滤波器的初值配置；测试向量检测单元，用于接收PRBS31、Pattern1和Pattern2三种测试序列，对接收端获得的数据进行解扰，比较接收到的测试向量是否为正确的伪随机序列，并记录错误次数进行反馈。本发明中的PCS子层测试向量管理方法稳定适用于常用高速以太网通信控制器；本发明可以工作在方波、PRBS9、PRBS31、Pattern1和Pattern2五种测试序列模式下，应用范围广，可以满足不同以太网链路测试平台的要求。

摘要： 本发明提供了一种测试向量管理系统及测试向量管理方法，通过设计一种专门的测试向量管理系统，DFT测试工程师在设计好测试向量之后，直接递交到测试向量管理系统。ATE测试工程师通过登录测试向量管理系统即可对目标测试向量进行转换编译和验证。将验证结果上传到测试向量管理系统。实现测试向量的递交验证等全程自动化管理，减少DFT测试工程师和ATE测试工程师对测试向量管理的工作量，节省DFT和ATE测试工程师的时间和精力，降低沟通成本，提高工作效率。向量递交模块能够对DFT测试工程师递交的每个测试向量分配唯一ID，通过唯一ID区分不同类型测试向量、及相同类型但不同版本的测试向量，能够防止不同测试向量的混淆，防止出现重复操作及操作纰漏现象。

摘要： 本发明公开了一种基于向量相容的测试向量编码压缩方法。它包括测试向量的压缩和编码后的解压缩两部分，首先确定测试向量的编码，从测试向量集中取出向量t

摘要： 本发明公开了一种测试向量生成方法、装置、测试方法、系统及存储介质，其中，所述方法包括：获取测试对象在工作过程中生成的日志，调查日志中的异常时隙中的异常参考配置，以及基于对比正常参数配置与异常参数配置之间的差异，生成至少一个测试向量。本发明所公开的技术方案能够提高测试向量的有效性，并能够快速及准确调查异常参数配置存在问题的参数。

摘要： 在一些示例中，一种方法包括：基于用于植入式心脏治疗系统的磁共振成像(MRI)安全测试的多个参数的值的组合生成多个测试向量，确定多个测试向量中的每一个测试向量的电功率水平和相位值，基于测试向量子集的电功率水平和相位值，以及关于测试向量子集中的每个测试向量影响了植入式心脏治疗系统的植入式起搏器设备的一个或多个心内引线的至少一个电极的确认，来选择测试向量子集，以及针对测试向量子集中的每个测试向量应用MRI安全测试，以确定进入植入式起搏器设备的射频(RF)能量的量。

摘要： 本申请涉及一种无测试向量集成电路产品测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：针对从属于目标集成电路产品且依赖于测试向量的目标测试项目，获取目标测试项目的功能测试用例，并将所有功能测试用例存储于存储模块中；确定目标集成电路产品的当前待测测试项目；判断当前待测测试项目是否是依赖于测试向量的目标测试项目，若是，则从存储模块中调取目标功能测试用例，通过目标功能测试用例对目标集成电路产品进行测试，获得目标集成电路产品的测试结果；根据测试结果，确定当前待测测试项目是否通过测试。从而在集成电路产品研制厂商不愿提供或者不能提供测试向量的情况下，实现对缺乏测试向量的测试项目的测试。