死时间

摘要： 研制井下直接铀定量y能谱仪过程中,为降低信号采集的死时间及康普顿散射对于低能段γ能谱数据应用的影响,研究了新型CeBr3探测器组合铅屏蔽层技术,并针对0～3 000 keV能量范围,从死时间、谱峰特征以及1 001 keV能量特征峰在不同地层铀含量的响应等几方面对其应用效果进行了评价.研究结果表明在标准模型井中组合厚度为3 mm的铅屏蔽层时,在铀含量1.0％模型系统实测死时间由7.94％降低为3.73％;0～500 keV能量段的屏蔽计数占96％以上,高能段影响较小;1001keV能量特征峰在不同铀含量时响应呈线性分布,达到预期目标.

摘要： 硅基光电倍增管(SiPM)是由数百乃至数千单光子雪崩二极管(SPAD)组成的阵列,它具有增益高、易于集成到阵列以及抗干扰等优点,在激光雷达测距方面具有广泛的应用前景.本文分析了激光雷达测距中的信号和噪声模型,仿真计算了阳光下的SiPM模拟输出,通过高斯拟合得到相应的均值,并在SPAD接收光子受激发概率服从泊松分布的基础上,给出了背景光电子数在0.001个/ns～0.01个/ns,探测器死时间在5 ns～50 ns范围内受背景光影响的SiPM模拟输出计算公式,推导了目标探测概率表达式.在室外环境光下进行的激光测距探测概率实验结果与理论计算值相吻合.

摘要： 在放射性测量中,有时候需要对计数率进行精确的测量,因此需要对探测器死时间效应进行修正处理。本文基于DMCA-iCore数字化多道模块,从理论出发分析了数字多道NaI(Tl)探测器产生死时间效应的原因,得出数字多道死时间也服从扩展型分布的结论;同时根据牛顿迭代法推导了死时间修正函数,在计数率较高、探测器死时间较大时该修正函数依然有较好的修正效果。基于双源法测试了系统的死时间,死时间=20.6μs,最后在137 Cs标准剂量场中对NaI(Tl)探测器进行了测试,进一步证明了修正方法的有效性。

摘要： 无限厚度法可以使用NaI探测器和高纯锗(HpGe)探测器进行测量,无限厚度法与185.715 keV区的计数有关.本研究使用HpGeγ谱仪,测量铀标准源,通过改变测量时间、死时间、准直器和屏蔽等影响刻度常数的因素,研究了HpGe无限厚度法的可靠性.

摘要： 紫外光通信作为新型通信方式,在短距离通信领域具有潜在的应用前景.紫外光通信的探测电路可分为线性模式和盖革模式,盖革模式探测电路在系统带宽和探测灵敏度等方面具有显著优点.本文研究了基于盖革模式雪崩光电二极管(Avalanche Photodiode,APD)的单光子探测电路,实现对微弱紫外光信号的探测.采用主动淬灭快恢复电路,通过淬灭信号和恢复信号控制APD阳极电位,从而减小死时间,提高系统的计数上限.实验发现,对于主动淬灭电路而言,当死时间过小时,淬灭时间和恢复时间除了受到淬灭信号和恢复信号控制外,还会受到电路中电容充放电时间的影响.本文从理论和实验两方面研究了电路中电容和电阻对死时间的影响,为进一步缩短死时间提供了理论指导.

摘要： 针对硅单光子雪崩探测器探测效率高准确度测量的需要,建立了一套溯源至标准探测器的硅单光子探测器探测效率测量装置.首先通过大动态范围高精度衰减产生光子数已知的准单光子源来校准探测器的探测效率,其次对影响探测效率测量的后脉冲概率和死时间进行了分析与测量,最后系统分析了各测量不确定度的来源,实现了硅单光子雪崩探测器在632.8nm波长处探测效率测量不确定度达到0.6%(k=2).该装置采用超连续谱光源与单色仪组合输出单色光源,结合标准探测器,可根据需要实现硅单光子雪崩探测器宽波段内的探测效率自动化测量.

摘要： 针对γ射线剂量增大时,硅光电倍增器(SiPM)剂量仪线性变差这一问题,利用实验数据拟合出SiPM剂量仪死时间,通过对计数率修正从而改善其用于γ射线剂量测量的剂量线性.实验结果表明,经过计数率修正的SiPM剂量仪不仅对其剂量上限处剂量线性得到较大改善,同时对测量不同能量γ射线源的剂量线性也得到较大改善,相对误差均由20%多减小到1%左右,可以更准确地测量辐射场中γ射线剂量.

摘要： 本文旨在研制盖革模式电路并在两种紫外光照射下测试电路性能,为紫外通信提供数据参考。研制了适用于硅雪崩光电二极管(APD)的主动、被动两种盖革模式电路,设计并实现了输出可调至300.0 V的高稳定直流高压偏置电源,实测纹波电压小于20.4 m V,纹波系数小于6.8×10-5。分别在可见盲和日盲两种紫外光照下,测试了被动盖革模式APD的死时间、暗计数和光子计数,给出了被动盖革模式工作的较佳高压偏置范围;紫外光照下,被动盖革模式APD的电路输出脉冲的死时间为1.0?s。基于被动盖革模式电路测试的参数,研制了主动盖革模式电路,实验结果表明:主动盖革模式电路输出脉冲的死时间为102.0 ns,光子计数的上限由被动盖革模式的1.0 MHz提高到主动盖革模式的9.8MHz。因此主动盖革模式电路在数据传输时有更高的传输带宽,预计可满足一些图像传输或者视频通信的基本要求。

摘要： The neutron dose equivalent meter based on proportional counter tube is an important method for the real-time monitoring of the radiation field dose of the reactor and accelerator .The dead time effect of the de-tector is directly related to the accuracy of the pulsed neutron radiation fields measurement .In this paper , we determined the dead time of proportional counter using the dual source method , and deduced a formulation a-bout counting rate and the correction factor in the accelerator radiation field .%以正比计数管为基础的中子剂量当量仪是实现反应堆和加速器等中子辐射场剂量水平实时监测的重要手段，而探测器的死时间效应问题直接关系到脉冲中子辐射场下量值的准确性。本文使用“双源法”实验测定了正比计数器死时间，使用蒙特卡洛模拟软件计算了中子探测器慢化体对中子的慢化时间，推导出加速器辐射场中计数率与修正因子的关系式，可以实现脉冲辐射场中子漏计数补偿。

摘要： 死时间是FD-3019型γ测井仪的一个重要参数,笔者主要介绍死时间的定义、测量、计算和修正的方法,通过对多个钻孔测井数据死时间修正前后进行对比,并分别计算出钻孔内铀矿段含量,求出相对误差,进而说明死时间修正的必要性.%Dead time is a very important parameter of FD-3019γ logging instrument.This paper described the definition of dead time, introduced measurement,calculation and correction methods of dead time,explained the necessity of dead time correction by comparing revised data and calculated the errors of uranium content in the drill holes.

摘要： 死时间是核仪器的一个重要参数,直接影响到测量结果的准确性.总结、分析了2006年以来的用于铀矿勘查近2600台γ测井仪的死时间及其影响因素,为减小误差对结果的影响,提出了利用线性规划来计算测井仪死时间的方法.通过实例的比较计算,证明了采用线性规划方法计算的死时间修正后的结果较传统双源法计算的结果更接近真实值。

摘要： 为了阐明死时间与预测保留时间精度的影响，保证实验数据不影响预测计算的结果，采取了使用更多的实验数据来实现研究工作。按照通常的保留时间预测计算的过程对正己烷在不同的程序升温条件下的保留时间进行了预测和计算。

摘要： 本文根据同系物保留值的碳数规律,提出了一种测定反相液相色谱死时间的新方法,并以烷基苯同系物为例,加以实验验证.结果表明,以这种方法测得的死时间准确可靠,并且与正相色谱中的情况类似,反相液相色谱中死时间标记物与固定相之间也存在着相互作用.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 介绍了采用长计数器与闪烁探测器相组合,通过长计数器对闪烁探测器进行适时校准,进而以闪烁探测器给出低产额脉冲中子注量(或产额)的方法.该方法既减小了长计数器单次计数少引起的统计涨落,又避免了闪烁探测器受γ本底影响大的缺陷,同时还充分利用了长计数器平能量响应以及闪烁探测器探测效率的优点,将长计数器成功地运用于脉冲中子辐射场中,在脉冲中子辐射场中通过长计数器实现了中子注量(率) 量值传递,实现了脉冲中子源中子产额的测量.

摘要： 本发明公开了一种死时间校正方法以及死时间检测方法，包括：将一棒源放入多个所述探测器模块围绕的空间内；分别获得每个所述探测器模块与所述棒源的立体角；分别获得每个所述探测器模块所收到的单计数率；对多个所述探测器模块与所述棒源的立体角和所收到的单计数率进行归一化处理；得到一个或多个近端的所述探测器模块与所述棒源的立体角和所收到的单计数率的比值，所述近端的所述探测器模块为靠近所述棒源的所述探测器模块；根据一个或多个所述近端的所述探测器模块所收到的单计数率与立体角的比值，得到所述探测器模块的死时间因子。所述死时间校正方法以及死时间检测方法，可以方便地对死时间进行校正，避免使用高活度均匀水模衰变实验。

摘要： 本发明涉及针对死时间攻击的量子密钥分发接收系统防御方法，其包括有效探测步骤、探测无效步骤和探测恢复步骤。在有效探测步骤中，探测器通道向外输出探测信号并对其标记时间周期序号；当在有效探测步骤中有探测信号的输出并将其标以周期序号A后，进入探测无效步骤。在探测无效步骤中，从周期序号A之后的时间周期开始使所有探测器通道进入死时间状态并持续时间Td，探测无效步骤还包括用于判断是否进入探测恢复步骤的退出判断过程。在探测恢复步骤中，使所有探测器通道同时恢复有效探测状态，以便执行有效探测步骤。因此，可避免为探测器单独设置死时间带来的死时间窗口交叠问题，降低交叠比例而提高成码率。

摘要： 本发明公开了一种消除冷原子干涉仪死时间的测量装置，包括原子干涉仪物理系统，原子干涉仪物理系统包括原子冷却区域、原子选态区域、原子干涉区域和原子探测区域，原子冷却区域中包含第一类原子和第二类原子，冷却激光开关切换控制第一冷却激光和第二冷却激光入射原子冷却区域，选态激光开关切换控制第一选态激光和第二选态激光入射原子选态区域，干涉激光开关切换控制第一干涉激光和第二干涉激光入射原子干涉区域，探测激光开关切换控制第一探测激光和第二探测激光入射到原子探测区域。本发明还公开了一种消除冷原子干涉仪死时间的测量方法。本发明可以实现无死时间的测量，减小各个过程之间串扰引起的灵敏度降低。

摘要： 本发明公开了一种死时间校正方法以及死时间检测方法，包括：将一棒源放入多个所述探测器模块围绕的空间内；分别获得每个所述探测器模块与所述棒源的立体角；分别获得每个所述探测器模块所收到的单计数率；对多个所述探测器模块与所述棒源的立体角和所收到的单计数率进行归一化处理；得到一个或多个近端的所述探测器模块与所述棒源的立体角和所收到的单计数率的比值，所述近端的所述探测器模块为靠近所述棒源的所述探测器模块；根据一个或多个所述近端的所述探测器模块所收到的单计数率与立体角的比值，得到所述探测器模块的死时间因子。所述死时间校正方法以及死时间检测方法，可以方便地对死时间进行校正，避免使用高活度均匀水模衰变实验。

摘要： 一种QKD设备抗死时间攻击检测装置，属于量子保密通信技术领域，解决如何检测QKD设备是否能够有效防护死时间攻击的问题，包括光源模块，光源模块发出特定模式的光脉冲，输入被测QKD设备进行测量，各量子态探测器计数由被测QKD设备自行统计，如果其中一个探测器计数远低于其他各路探测器计数，则判定QKD设备能够抗死时间攻击；反之，则判定QKD设备不能抗死时间攻击；通过模拟死时间攻击，检测QKD设备探测计数和不同计数之间的测量结果是否符合要求，以验证QKD设备是否能够有效防护死时间攻击；解决了死时间漏洞严重威胁QKD设备的安全性的问题，填补了行业的空白。

摘要： 本发明涉及针对死时间攻击的量子密钥分发接收系统防御方法，其中：在有效探测步骤中，某探测器通道在时间T输出探测信号，保存该探测信号并进入探测无效步骤；在探测无效步骤中，使探测器通道i在T之后进入探测无效状态，并在保持Tdi时间后进入探测恢复步骤以恢复探测有效状态；在有效探测同步步骤的第一判断步骤中，判断探测器通道在时间段[(T+T0)，(TX+TdX+dt_tail)]内是否输出新探测信号；若无则执行有效探测步骤；若有则丢弃新探测信号并重新执行第一判断步骤。

摘要： 本申请提出一种死时间校正方法，包括：使用一个计时器统计实时间，实时间为核仪器实际测量的时间；使用三个计时器分别统计快通道死时间、尾堆积型堆积判弃死时间和峰堆积型堆积判弃死时间，快通道死时间为快通道无法检测到输入脉冲的时间，尾堆积型堆积判弃死时间为因为实施尾堆积型堆积判弃所导致的计数损失对应的死时间，峰堆积型堆积判弃死时间为因为实施峰堆积型堆积判弃所导致的计数损失对应的死时间；根据统计得到的实时间、快通道死时间、尾堆积型堆积判弃死时间和峰堆积型堆积判弃死时间计算得到计数校正因子，使用计数因子进行死时间校正。本申请可以准确地补偿多道中的计数损失，提高计数校正准确度，广泛地应用于目前的核测量系统中。

摘要： 本发明公开了一种自适应辐射测量的死时间补偿方法，通过为现有死时间补偿公式中引入自适应修正因子，实现对该方法解除了现有方法中公式适用条件的限制，使死时间补偿方法不受死时间率的限制而具有普适性。本发明公开的自适应辐射测量死时间补偿方法降低了高计数率时现有修正方法中对死时间率变化的敏感度，使得测试的刻度曲线在整个测量范围内都具有较小的测量误差，从而拓展仪器系统的测量范围，提高死时间补偿的通用性。

摘要： 本说明书实施例提供一种扫描过程中死时间的校正方法和系统，该方法包括基于扫描对象仿真获取单事件能量分布信息；基于单事件能量分布信息以及扫描系统的能量窗获取单事件能量甄别校正因子；基于单事件能量甄别校正因子对实测单事件计数率进行校正，得到能量甄别校正后的单事件计数率信息；基于能量甄别校正后的单事件计数率信息对扫描过程中的死时间进行校正。

摘要： 本申请实施例公开了一种探测器的死时间校正方法、系统、装置及存储介质。所述方法可以包括：获取目标对象的原始扫描数据，所述原始扫描数据由成像设备的探测器接收辐射光子获得；根据所述原始扫描数据，获取与所述目标对象相关的两个能窗下的两个第一单事件计数信息或者两个以上能窗下的两个以上第一单事件计数信息；基于所述两个或以上第一单事件计数信息，确定第一死时间校正因子；基于所述第一死时间校正因子，对所述原始扫描数据进行死时间校正。