校准曲线

摘要： 目的基于机器学习法构建异位妊娠发生风险预测模型。方法选取308例异位妊娠患者和605例宫内妊娠孕妇作为研究对象,并按照7∶3的比例将其分为训练集(639例)和测试集(274例)。应用基于机器学习的逻辑回归、线性判别分析、多元自适应回归、K近邻算法和支持向量机算法构建异位妊娠发生风险的预测模型。比较上述5种算法构建的模型对异位妊娠发生风险的预测价值,筛选出预测效能最佳的模型用于构建列线图。通过LASSO回归筛选变量,然后构建逻辑回归模型并通过列线图可视化;通过校准曲线和决策曲线评估列线图预测模型预测异位妊娠发生风险的效能。结果5种机器学习算法构建的模型中,逻辑回归构建的模型预测效能最佳,选择该算法用于建立预测模型并构建列线图。异位妊娠史、既往腹腔或盆腔手术史、精神病史、子宫内膜异位史、外阴炎病史、月经推迟、月经不调史为构建列线图模型的候选预测因子。列线图模型的一致性指数为0.719,具有良好的区分度;校准曲线斜率=1显示列线图模型预测异位妊娠发生率与实际发生率具有较为良好的一致性;决策曲线分析表明,当阈值概率大于18%时,该列线图模型对异位妊娠的发生具有较好的预测效能。结论基于机器学习法构建的以异位妊娠史、既往腹腔或盆腔手术史、精神病史、子宫内膜异位史、外阴炎病史、月经推迟、月经不调史为预测因子的列线图模型对异位妊娠有较好的预测价值,可将该模型用于异位妊娠早期高风险人群的临床筛查。

摘要： 目的比较同位素稀释质谱法时,采用线性和非线性响应函数制作校准和(或)标准曲线对结果的影响。方法实验室建立的同位素稀释质谱法检测伊立替康及其3种主要代谢产物,使用C18反相柱梯度洗脱,以ABSciex API 3200检测。按《液相色谱-质谱临床应用建议》完成方法学验证。结果伊立替康(CPT-11)、SN-38G和APC在4.6~4.7 min出现洗脱峰,SN-38约在5.2 min出现洗脱峰。检测4种分析物的3种浓度质量控制(QC)样本,分别以线性函数、二次函数、三次函数和新的线性最小二乘法Padé[1,1]近似拟合分析,比较4种拟合方法计算得出的结果偏差。结论结果适合线性标准曲线时,优先应用线性;非线性校准曲线时,三参数有理函数一定程度上可以消除同位素稀释分析中不必要的误差源。

摘要： 绘制校准曲线是应用分光光度法实现物质含量检测的一个重要环节。探讨了在绘制校准曲线过程中所出现的一些问题,并对这些问题进行了详细的解答。

摘要： 氨氮是水质样品的常规指标及关键指标,论文以纳氏试剂分光光度法测定氨氮,讨论了氨氮校准曲线的线性范围、稳定显色的时间、酒石酸钾钠的有效期对氨氮测定结果的影响。结果表明:氨氮校准曲线含量在0~6 mg/L范围内,显色后2 h内吸光度值稳定,线性符合质量控制要求;实际样品因基体的不同,显色10 min后进行比色;酒石酸钾钠溶液可稳定保存30天。在一定程度上提高了工作效率和降低了试验成本。

摘要： 在阴性鳙鱼中加入盐酸溶液和2-硝基苯甲醛后,以现行标准中37°C衍生16h为对照,优化衍生温度和衍生时间,45°C衍生4h。而后乙酸乙酯液-液萃取浓缩,初始流动相复溶,经液相色谱-串联质谱法测定,内标法定量。通过验证,(45°C;4h)的衍生条件,在校准曲线、准确度、精密度、灵敏度的表现上和标准方法接近,说明该衍生条件不但能够满足鳙鱼中硝基呋喃类代谢物的测定,还缩短了前处理时长,大大提高了检测效率。

摘要： 使用非对向测量法应用五孔探针时,根据角度校准系数及校准曲线得到来流角度。本研究使用分段线性插值法计算得到气流角度,按照距离寻优、块寻优、插值计算等3个步骤进行角度系数处理。该方法截断误差较小,以某型探针为例,当进行校准工作时,若角度间隔为5°,误差最大为0.056°。校准数据点越多,误差越小,理论上在校准数据点上的计算误差为0。该方法在探针校准曲线变形时,可得到较好的数据处理结果。

摘要： 在农药残留检测中,基质效应是影响检测结果准确性的关键因素。消除基质效应对农药残留检测工作高质量发展具有非常重要的现实意义。本文以气相色谱分析农药残留为例,就检测过程中的基质效应原理与影响因素进行了探究,并在此基础上结合工作经验提出样品预处理、基质净化、校正因子校准等解决措施,以期提高农药残留检测准确性、有效性、可靠性,为农药残留气相色谱分析实践操作提供指导。

摘要： 对火力发电厂烟气脱硫石膏中9种主次量元素建立熔融制样-X射线荧光光谱法进行测定,且对熔融制样条件采取正交试验进行优化。把样品和偏硼酸锂与四硼酸锂混合熔剂按照1∶8的质量比进行混合,经过熔融、冷却之后得到玻璃样品,在XRFS下进行测定。校准曲线绘制以各元素氧化物质量分数为横坐标,对象X射线荧光强度为纵坐标,结果显示,各元素氧化物线性相关系数都在0.99以上,检出限在0.01%~0.06%之间。两次测定的样品之间的差值小于国家标准的重复性限,该方法重复性较好,准确度较高。

摘要： 苯系物是实验室常测项目之一,本文探讨了苯系物测定中影响较大的3个关键问题,避免因溶剂选择不当、校准曲线检测结果偏差大、三点校正浓度选取不正确等原因,影响最后测定结果,为今后实验室苯系物测定提供了一种既简单又准确可靠的方法总结.

摘要： 总氮测定的执行标准已经发生变化,方法原理仍为过硫酸钾消解紫外分光光度法。本实验室每日检测水样较多,需考虑工作效率,选择适当的仪器设备是重要的环节,试剂的纯度也非常重要。有时会出现总氮和氨氮倒置,可以通过措施消除。新标准中增加了质量保证和质量控制环节。

摘要： 在电表改装实验中,除了传统实验教材中利用校准曲线评定改装表的准确度等级之外,还针对待改装的微安表头进行了校准,并应用微安表的校准曲线修正了半偏法测量微安表内阻的误差,使得半偏法测量误差从5％下降到0.3％.对电表改装实验的改进和完善,使得同学们对通过校准曲线获得测量修正值以及确定仪表准确度等级两个方面的应用都能有比较深入的理解;同时也解决了实验中半偏法测量微安表内阻误差较大的问题.

摘要： 在旋转机械中，热量的传递和温度的分布不仅影响着部件的寿命，也是衡量其功能指标的重要因素，因此为了获得理想的温度分布需要多方面考虑，其中转动部件自身的热性能参数则对温度场的分布起着很重要的作用，如导热系数、辐射率(也称发射率、黑度系数，以下同)等，这其中辐射率作为衡量转动部件向外辐射散热能力的一项重要参数，非常有必要对其进行深入的研究。本文针对非金属圆筒外表面辐射率测试技术,经过系统深入的分析研究,确定了研究思路和方法,确立了把用于平面辐射率测量的辐射率仪,应用到圆筒形样件外表面辐射率的测量中,进而过渡到非金属圆筒外表面辐射率测量的方案.具体内容是:通过对材料辐射率各种测量方法、非金属圆筒外表面材质及测试特点等方面进行深入的分析研究,确定了开展非金属圆筒外表面辐射率测量的总体方法,设计出圆筒形外表面辐射率测试所需的专用测量具,借助该测量具,可利用测量平板材料辐射率的一种仪器-AE1辐射率仪,对圆筒形部件外表面的辐射率进行直接测量;同时,为解决测量中平面与曲面之间测试偏差的问题,开展了平面与曲面之间辐射率校准曲线的测试认定工作,开发出6组不同辐射率的标准样筒样片,完成了标准样筒样片校准曲线的测绘和标定;并通过分析研究,提出了误差计算公式,解决了从金属的标准样筒样片,过渡到非金属圆筒之间辐射率测量的误差问题;最终建立了一套完整的非金属圆筒外表面辐射率测量装置(包括AE1辐射率仪、专用测量具和标准样筒样片).最后应用该套方法及装置,对成型的非金属圆筒外表面的辐射率进行了测试,测试结果基本符合非金属圆筒的辐射特性,为非金属圆筒温度场的优化提供了基础数据.

摘要： 针对钢铁材料中氧和氢的同时测定,提出了一种新型的气路结构和检测原理,解决了传统技术中转化效率及后续吸收脱除问题,通过研究分析功率、助熔剂等对氧和氢释放的影响,确定了分析功率2250W加入锡片作助熔剂的最佳分析条件.选用合适的钢中氧和氢标准样品,建立了方法的校准曲线.并利用对空白的标准偏差计算得氧和氢的检出限分别为0.000 015％,0.000 009％,氧和氢的分析范围分别为0.000 05％～0.1％,0.000 03％～0.05％.实验方法避免了中间处理阶段对测定结果的准确性与稳定性的影响,用于实际样品的测定结果与对照值一致,完全满足钢铁材料氧和氢快速、准确的分析要求.

摘要： 采用火花源原子发射光谱法脉冲分布分析技术分析硅钢中低含量氮,研究了积分光源、校准曲线的绘制和干扰校正等分析条件对硅钢中低含量氮的影响。采用优化后的分析条件,分析硅钢中的含量为0.0010％～0.0100％的氮取得比较理想的分析结果。

摘要： 铜是钢材的一种夹杂元素,其含量影响废钢屑的循环使用.为了实现较高铜含量从废钢屑的初步分离,激光诱导等离子体光谱法(LIPS)就是一种有前途的方法.其优势在于,可在空气氛围下操作、样品可不经过预处理等.为了使LIPS方法用于实际样品,用如下组成的LIPS系统获得了发射光谱:Nd:YAG激光、中阶梯光栅光谱仪以及ICCD检测器.标准物质JISF FXS 350-352为铁-铜二元合金,用于铜元素校准曲线的绘制,其中铜元素的含量已被认定.考虑到合金中铜和铁发射谱线的干扰,可以选择波长为324.754 nm和327.396 nm的Cu I线作为铜元素的分析线.标准物质被平行测定5次,可以获得Cu Ⅰ 327.396 nm下强度值的线性校准曲线.当置信区间为95％,用迪克森检测法去除异常值后,标准物质的标准偏差范围分别为2.3％-13.4％(Cu Ⅰ 324.754 nm)和1.3％-9.1％(Cu Ⅰ 327.396 nm).回归直线的方差为0.99.因此,可以认为此LIBS系统在高铜含量废钢的分离方面有很好的应用潜力.

摘要： X射线荧光光谱仪使用了对人体有危险的放射性辐射因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令,而且使甩该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查.本方法规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中镁、铝、硅、硫、钾、钙、铁、铜、锌、砷、镉、铅和铋含量的方法.本方法适用于铜精矿中上述元素含量的测定,各元素的测定范围(镁、铝、硅、钾、钙元素以氧化物计),如有合适的标样,可适当扩展本方法的测量范围.

摘要： X射线荧光光谱仪使用了对人体有危险的放射性辐射因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令,而且使甩该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查.本方法规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中镁、铝、硅、硫、钾、钙、铁、铜、锌、砷、镉、铅和铋含量的方法.本方法适用于铜精矿中上述元素含量的测定,各元素的测定范围(镁、铝、硅、钾、钙元素以氧化物计),如有合适的标样,可适当扩展本方法的测量范围.

摘要： X射线荧光光谱仪使用了对人体有危险的放射性辐射因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令,而且使甩该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查.本方法规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中镁、铝、硅、硫、钾、钙、铁、铜、锌、砷、镉、铅和铋含量的方法.本方法适用于铜精矿中上述元素含量的测定,各元素的测定范围(镁、铝、硅、钾、钙元素以氧化物计),如有合适的标样,可适当扩展本方法的测量范围.

摘要： X射线荧光光谱仪使用了对人体有危险的放射性辐射因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令,而且使甩该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查.本方法规定了用波长色散X射线荧光光谱法测定铜精矿中镁、铝、硅、硫、钾、钙、铁、铜、锌、砷、镉、铅和铋含量的方法.本方法适用于铜精矿中上述元素含量的测定,各元素的测定范围(镁、铝、硅、钾、钙元素以氧化物计),如有合适的标样,可适当扩展本方法的测量范围.

摘要： X射线荧光光谱仪使用了对人体有危险的辐射,因此使用该仪器时必须遵守仪器生产商申明的和当地规定的安全指令,而且使用该设备的人员需要进行上机前安全培训和定期安全检查.本方法规定了铅精矿中镁、铝、铜、锌、砷、铅、铋含量的波长色散X射线荧光光谱测定的方法.本方法适用于铅精矿中上述元素含量的测定,各元素的测定范围(镁、铝元素以氧化物计)，如有合适的标样,可适当扩展本方法的测量范围.

摘要： 一种雷达极化天线校准曲线测试方法，它涉及利用多次测量获得每个阵列通道的幅值和相位值，并通过计算获得天线的校准曲线，以提高雷达宽波束的测角精度和极化测量精度。该方法会在雷达极化天线校准中应用。该方法的步骤为：一、按照推荐的连接方式进行设备安装；二、测量每个角度每个阵列通道接收信号的幅值和相位；三、计算同一极化组里每个通道的幅值、相位校正系数；四、计算不同极化组之间的相位校正系数；五、对多次测量结果做平滑处理，获得校准曲线。

摘要： 本发明提供了一种用于定量样品中目标分析物的天然同位素校准曲线法，步骤为：在待测样品中添加已知量的校准物；对待测样品进行前处理后进行质谱法分析，得到校准物及校准物的天然同位素和目标分析物的质谱信号；通过计算得到校准物的天然同位素的含量，以校准物和校准物的天然同位素的含量、质谱信号响应的对应关系绘制校准曲线，目标分析物的质谱信号响应对应到校准曲线中即得到目标分析物含量。本发明首次以目标分析物的稳定同位素标记的类似物和稳定同位素标记的类似物的一系列天然同位素来作为校准物绘制标准曲线，从而定量待测样品中的目标分析物。该方法具有非常高的可靠性和准确性，且简化了检测程序，极大拓展了应用范围。

摘要： 本发明涉及校准曲线制成方法、校准曲线制成装置以及目标成分校准装置，其中该方法包括：取得关于被检测体的多个样品的观测数据；取得关于上述各样品的目标成分的含量；估计将上述每个样品的观测数据分离成多个独立成分时的多个独立成分，并根据上述多个独立成分，对上述每个样品求出与上述目标成分对应的混合系数；以及根据上述多个样品的上述目标成分的含量和上述每个样品的上述混合系数，求出上述校准曲线的回归公式。

摘要： 本发明公开了一种图像传感器光学暗区的校准曲线获取方法和校准方法。图像传感器光学暗区的校准曲线获取方法包括：从全部待校准图像传感器中选取部分图像传感器作为样本图像传感器；统计样本图像传感器在不同温度区间的光学暗区亮度值，从样本图像传感器中选取优质图像传感器；对优质图像传感器在所有温度区间的光学暗区亮度值进行曲线拟合，得到优质图像传感器的温度亮度拟合曲线；测量全部待校准图像传感器在关键温度点的光学暗区亮度值；并根据关键温度点的光学暗区亮度值调整温度亮度拟合曲线，得到图像传感器光学暗区的校准曲线。本发明实施例可以根据运行温度实现图像传感器光学暗区的动态校准，并降低校准曲线的获取成本。

摘要： 本发明提供校准曲线创建装置、目标成分校准装置、及电子设备，用于高精度地进行有关葡萄糖的校准的技术。校准曲线创建装置包括：估计部，估计构成多个样品的观测分光数据的多个独立成分或主成分；以及回归公式计算部，根据多个样品的葡萄糖浓度和每个样品的观测分光数据中的独立成分或主成分的混合系数而求出校准曲线的回归公式。估计部选择在预先选择的波长处具有峰值的成分波形信号作为独立成分或主成分。

摘要： 本发明提供一种校准曲线创建方法及装置、目标成分校准方法及装置，用于降低观测数据中包含的基线波动的影响而提高校准精度。校准曲线创建方法包括：求出含有各样品的独立成分的独立成分矩阵的步骤，在该步骤中，包括依次执行包含观测数据的标准化的第一预处理、包含白化的第二预处理以及独立成分分析处理，从而求出独立成分矩阵的步骤。在第一预处理中，由零空间投影法的处理之后执行标准化。另外，在零空间投影法中，作为表示依赖于观测数据的数据长度N的序数λ(λ为1至N的整数)的波动的单变量函数，不使用指数为整数的λ的取幂函数，而使用λ的值在1至N的范围内随λ的增加而单调地增加的单变量函数。

摘要： 本发明公开一种SiC MOSFET器件的结温校准曲线生成方法及其结温评估方法和系统，首先获取SiC MOSFET器件在不同结温下的跨导算术平方根；然后对跨导算术平方根和温度的关系进行线性拟合得到跨导算术平方根与温度的线性关系式，由该关系式建立结温校准曲线；最后根据测试待评估器件的跨导算术平方根并通过查询校准曲线或由线性关系式进行计算得到器件结温。该方法克服了功率半导体器件的传统结温测量方法流程繁琐、精度低、难以在线应用等弊端，SiC MOSFET器件的跨导算术平方根与结温呈线性关系，进行结温评估时精度较高，可在线应用，能够实现器件结温的准确评估；同时，该方法可以测量出单个开关周期引起的器件结温波动；通过对器件结温的准确评估，可有效提高器件的运行可靠性与研究开发的经济性。

摘要： 本发明提供能够使用于使校正后的校准曲线恢复为校正前的校准曲线的操作者的操作变简便的校准曲线设定方法、样本分析方法及程序、样本分析装置。本发明的校准曲线设定方法具备：根据测定预定成分的浓度为已知的标准试样而得到的测定值来制作第1校准曲线；通过校正制作出的所述第1校准曲线，从而制作第2校准曲线；显示关于使所述第2校准曲线恢复为所述第1校准曲线而支援操作者的画面；受理使所述第2校准曲线恢复为所述第1校准曲线的指示；以及当受理了所述指示时，显示所述第1校准曲线。

摘要： 提供能够高效地进行校准曲线的确认和使用了校准曲线的精度管理结果的确认作业的校准曲线的显示方法以及分析装置。本发明的校准曲线的显示方法包括：测定包含已知浓度的成分的用于制作校准曲线的标准试样，根据得到的测定结果和所述标准试样所包含的成分的已知浓度，制作同意前的校准曲线(91)；测定包含已知浓度的成分的精度管理试样，使用所述同意前的校准曲线(91)对得到的测定结果进行浓度换算，从而获取与所述精度管理试样所包含的成分浓度有关的精度管理结果(88)；以及显示包括所述同意前的校准曲线(91)和所述精度管理结果(88)的画面(801)。

摘要： 本发明提供了一种用于定量样品中目标分析物的天然同位素校准曲线法，步骤为：在待测样品中添加已知量的校准物；对待测样品进行前处理后进行质谱法分析，得到校准物及校准物的天然同位素和目标分析物的质谱信号；通过计算得到校准物的天然同位素的含量，以校准物和校准物的天然同位素的含量、质谱信号响应的对应关系绘制校准曲线，目标分析物的质谱信号响应对应到校准曲线中即得到目标分析物含量。本发明首次以目标分析物的稳定同位素标记的类似物和稳定同位素标记的类似物的一系列天然同位素来作为校准物绘制标准曲线，从而定量待测样品中的目标分析物。该方法具有非常高的可靠性和准确性，且简化了检测程序，极大拓展了应用范围。