杂散光

摘要： 木卫一等离子体环是木星磁层中密度最大、研究最广泛的区域。为满足木卫一等离子体环的观测需求,设计了一种用于行星大气光谱望远镜(Planetary Atmospheric Spectral telescope,PAST)的Lyot星冕仪。根据木星的辐射特性与PAST参数确定仪器参数,给出Lyot星冕仪的初始结构并进行优化;分析了Lyot星冕仪的成像性能,系统在37 lp/mm的MTF>0.6,满足成像质量要求;确定系统杂散光成因,利用物像共轭关系设计相应的杂散光抑制结构,在千级超净间对Lyot星冕仪进行杂散光抑制水平检测。实验结果表明:系统主要杂散光得到了有效抑制,系统的杂散光抑制水平在2.5Rj处为10-5量级,满足地基观测木卫一等离子体环要求。

摘要： 为解决低照度微弱信号探测的微光光学系统杂散光问题,研究了杂散光的原理和特性。利用光学系统建模软件LightTools对微光光学系统进行仿真建模,并开展杂散光分析。为减少杂散光,在物镜筒的筒壁加工消光螺纹,并针对不同形式的消光螺纹,开展了能量仿真模拟。仿真结果表明,采用螺距0.35 mm的消光螺纹,能够将杂散光系数从7%降低到4%。仿真分析结果与实验结果一致,为其他微弱信号探测光学系统在设计阶段对杂散光进行消除提供了指导。

摘要： 随着空间光学技术的快速发展以及光电探测器件性能的不断提升,高分辨率、多光谱、低探测阈值的遥感系统在航空、航天等领域的应用越来越广泛,对光电载荷的杂光抑制能力与评价指标逐渐严苛,杂散光抑制技术和仿真分析已成为不可缺少的环节之一。尽管杂散光的抑制与评估技术开展较早,但仍然需要系统性方法体系引领该技术的发展,以改变当前分散化、碎片化的研究现状。因此,需要建立一体化的杂散光抑制与评估方法体系,在杂散光抑制方案制订、抑制模型表面特性测量与建模、杂散光抑制效果仿真、杂散光测试及评估等四个关键技术模块进行深入研究。本文给出了一套整体技术路线,为更好推进杂散光抑制与评估技术的发展和应用提供思路。

摘要： 激光四象限探测系统是激光制导武器的重要组成部分,在设计阶段对其性能的准确评估有利于设计方案的迭代和优化.采用LitghtTools软件对四象限探测系统进行了仿真建模.通过建立目标模型、光学系统模型和四象限探测器模型,可以有效地对系统进行仿真,并结合四象限探测系统原理,得到角度偏差的和差比幅值;建立的模型可以对系统的杂散光进行仿真,评估杂散光对系统的影响;另外,还可以模拟激光散斑效应,分析散斑特性对探测系统输出和差比幅值的影响,通过LitghtTools软件建模和仿真为设计优化提供了准确的依据.最后,通过实验对仿真模型进行验证,在±15°范围内仿真得到的和差比幅值和实验结果基本一致.

摘要： 为探测到0.1 mHz～1 Hz频段的引力波,天琴、LISA、太极等空间引力波探测器编队(或星座)需在几十万到几百万公里量级的臂长上,实现pm级精度的测量.因此直接作为星间干涉测量光路一部分的望远镜面临巨大的技术挑战.空间引力波探测望远镜有超高精度和超高稳定性的特点.本文以LISA引力波探测器望远镜为研究对象,根据星间激光干涉测量核心指标10 pm/Hz1/2@0.1 mHz～1 Hz的要求和引力波探测的实际需求,分析了望远镜的光学设计方案.在设计基础上,就材料选择、光学加工、装调及杂散光抑制等方面进行了分析和探讨,为后续望远镜的研制提供了参考依据.

摘要： 星敏感器在太空环境下工作时容易受到杂散光的干扰,对星图进行二值化后直接采用质心法难以从星图中提取恒星星像坐标.针对上述问题,提出了一种基于Sobel算子的星敏感器星图预处理方法,用于提取星像坐标.首先采用Sobel算子计算星图中所有像素的梯度,保留所有大于阈值的像素梯度作为新的星图,然后以新的星图作为样板通过质心法从原始星图中提取恒星星像.由于杂散光干扰信号在星图中表现为缓慢信号,这些信号计算的梯度很小,因此通过Sobel算子计算后新的星图只有恒星星像.该方法能够消除星图中的杂散光干扰信号,使星图中只保留恒星星像信息,提高恒星星像坐标提取精度,具有较好的鲁棒性.

摘要： 国家纳米科学中心研发的纳米复合超黑涂层材料成功应用于卫星光学系统暗弱目标探测2021年4月9日,我国在太原卫星发射中心成功将试验六号03星发射升空,卫星顺利进入预定轨道。该卫星光学系统遮光板表面采用了国家纳米科学中心研发的纳米复合超黑涂层材料,实现对太阳光及地气光等杂散光的抑制,将大幅度提高卫星光学系统对暗弱目标的探测能力。空间卫星光学系统的暗弱信号探测能力和精度严重受到杂散光影响,超黑材料光吸收率提高1%即可数量级地提升其抑制杂散光的能力。

摘要： 随着空间应用领域的扩展,卫星激光通信凭借其在速率、带宽、体积、重量和功耗等方面的优势而得到广泛应用.对于卫星光通信来说,终端光学系统的性能直接影响通信的可靠性和稳定性,本文根据激光通信中收发一体、双向双工工作模式对收发隔离度的要求,采用Code V软件完成了830 nm激光通信终端光学系统设计,实现物方全视场15 mrad,全视场MTF值>0.65@100线对/mm,限制光线出射角不小于8°,设计结果满足系统使用要求.通过对光学系统杂散光分析与抑制技术研究,控制轴外杂散光在离轴角5°～20°时杂散光抑制能力大于45 dB且20°时大于60 dB.实验结果给出830 nm激光通信终端光学系统光路图并对系统轴外杂光范围及抑制能力进行了测试,测试结果与仿真的结果一致,满足卫星激光通信系统使用要求.

摘要： 杂散光的偏差对分光光度计测量结果有很大影响,本文主要分析了杂散光的来源、杂散光对测量结果的影响、杂散光的检测以及减小杂散光影响的措施等几个方面.杂散光能限制仪器的测量上限，造成较大的样品测量误差，并随测量吸光度值的减小而降低。杂散光的高低也反映分光光度计的性能水平，需要在实际使用过程中注意杂散光的变化和控制，防止杂散光超差。

摘要： 激光系统的本质是对强激光束进行变换和控制;如果激光束在传输过程中有杂散光产生,将会导致系统传输效率降低;杂散光有可能对机械零件或者光学元件造成损伤.因此有必要对激光系统的杂散光进行仿真分析.基于杂散光产生的原因、仿真分析方法的研究,对激光系统进行建模仿真,设定仿真光源并对其进行光线追迹后,对系统杂散光进行分析.通过对远场激光光斑仿真结果的分析,系统实现了激光束远场聚焦的功能,通过控制远场激光光斑的尺寸,大幅度提高远场激光光斑的辐照度.

摘要： 透射式镜筒内壁的散射以及光阑的散射和衍射是主要的杂散光来源，它们会降低图像对比度，影响光学系统的成像质量。本文提出利用光机快速构型技术迅速定位光学系统的一级杂散光路，可以使杂散光分析在光学设计阶段介入，避免由于详细结构设计不合理导致的重大修改；随后还探讨了光阑设计的一些方法。应用于某相机的仿真结果表明，本文探讨的方法简单实用，提高了光机设计的效率。

摘要： 杂散光会降低成像对比度、降低信噪比，是影响空间光学遥感器成像质量的重要因素。利用OptisWorks软件对某R-C系统相机进行了杂散光分析，对相机整体结构进行建模和光线追迹，并进行光线逆向追迹，明确杂散光的来源，为消除杂散光提供了依据。

摘要： 杂散光是衡量光谱仪器性能的重要指标。本文以荧光检测器中的单色器设计为例,分析了单色器杂散光的主要来源,通过建模及ASAP软件对单色器中杂散光的形成和分布进行了模拟,并通过实验验证了模型的正确性。在此基础上,本文初步讨论了单色器外罩内壁各表面对杂散光的影响及贡献,增加不同的光陷阱结构,并模拟了其对改善系统杂散光性能的效果。

摘要： 杂散光对光学系统的成像质量有严重的影响,杂散光的分析、计算以及消除是确保光学系统成像质量的重要前提.从杂散光的定义出发,分析杂散光的来源,介绍了常用的杂散光分析软件,给出杂散光分析的实例,对光学系统进行消除杂散光的设计.

摘要： 在自由空间激光通信系统中,常采用通信及信标发射接收共用同一系统的方式,内部发射激光若不能很好的抑制、外部杂散光的干扰都能在整个系统中通信,接收探测器以及信标接收探测器像面上将产生杂散光的影响.本文针对机载激光通信系统进行了杂散光的分析及软件仿真,仿真结果表明系统光学和机械结构设计有效地抑制了内部和外部杂散光.

摘要： 在全息波导显示器件中,应用体全息光栅作为入耦合和出耦合光栅是一种较为有效的方法.作为光波耦合器件,体全息光栅表现高的衍射效率.本文提出了一种新型的全息光栅结构,即在体全息光栅表面刻蚀一层纳米尺度的金属Ag薄膜,讨论并分析了金属Ag膜对提高衍射效率,减少杂散光的可行性.仿真结果表明,刻蚀Ag膜后的体全息光栅的衍射效率得到提高,同时杂散光也得到减弱.

摘要： 分子荧光光谱法在药学、临床诊断、生命科学领域中应用非常广泛。由于光学技术、电子技术、材料技术以及应用数学学科的发展推动了荧光光谱仪的波长范围,本文主要介绍了荧光光谱分析法用于波长分辨率、杂散光的消除、灵敏度以及扫描功能等方面等的新进展。

摘要： 在滤光片辐射计的光谱响应度测量研究中,为得到光谱效率高且杂散光低的单色光,设计了焦距短的JY公司的TRIAX190单色仪与焦距长的McPherson公司的Mode1207单色仪进行串联耦合获取单色光,串联耦合后双单色仪的杂散光水平达到10-8量级,光谱效率达到3%。对双单色仪结构中对波长准确度起决定作用的207单色仪进行波长标定实验,得到单色仪波长不确定度小于0.02nm,其重复性达到0.01nm。

摘要： 本申请设计光纤技术领域，尤其是一种滤除光纤中杂散光的盘绕装置及杂散光的滤除方法。通过将光纤依次沿第一绕位、弧形面和第二绕位盘绕，或者，依次沿第二绕位、弧形面和第一绕位盘绕，当光纤从第一绕位进入弧形面时，高阶模中杂散光甩出方向发生转变，杂散光沿着X1、Y1轴方向甩出外，杂散光还会沿着Y1轴的透射方向甩出；当光纤从第二绕位进入弧形面时，高阶模中杂散光甩出方向同样发生转变，杂散光沿着X2、Y2轴方向甩出外，杂散光还会沿着Y2轴的透射方向甩出，经此高阶模中的杂散光大部分甩出光纤外，进而将高阶模过滤掉得到低阶模。

摘要： 本发明涉及的杂散光自动检测机及其杂散光自动检测方法，杂散光自动检测机包括精密电动旋转台、固定架、双环转盘组件、连接件、安装调节架及水平定位机构，按步骤进行检测，实现水平、垂直、对角等多个方向的全角度杂散光自动拍摄，拍摄数据的自动存储；在检测方式中，光源不动，且轴线经过被测镜头中心，被测镜头围绕自身中心做多个方向的旋转运动，经控制软件的参数输入和启动按钮控制精密电动旋转台旋转，进行定位，同时由软件发出检测指令完成杂散光自动检测及数据保存，可对被测镜头进行水平方向、垂直方向和对角方向的杂散光进行检测，拍摄角度精度提升至±0.1度，重复定位精度提升<0.01度，极大提高了杂散光检测精度，缩小了整体占地面积。

摘要： 本发明涉及基于点目标的地气杂散光引起的低轨空间相机光学遥感器像面的杂散光照度的计算方法，具体涉及一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。本发明的目的是提供一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。以克服现有方法存在的计算误差大、甚至无法检测的缺点。为克服现有技术存在的问题，本发明提供的技术方案是：本发明不再把地球看成一个点杂源，而是将其作为一个扩展面杂光源来进行检测分析。本发明考虑因素全面、精度高，简化了计算的复杂性。

摘要： 一种制作于导光基底上的集成光学回路，具有光吸收的装置，包含基底上的一个或多个掺杂区(1)，其掺杂浓度比形成光学回路(2)的基底区高，用于吸收基底中没有被光学回路元件传导的杂散光。

摘要： 本发明提供的一种杂散光测量装置及其测量方法、杂散光测量系统，其通过在工件台上设置第二传感器和反射率大于第二传感器但感光面面积小于第二传感器的第一传感器，并在掩模台上设置周围具有透光区的第一标记和第二标记，其中，测量光照射在第一标记上形成第一暗斑，照射在第二标记上形成第二暗斑。并通过剔除用第一传感器测量第一暗斑光强时额外引入的反射光，相应的能够精准的获得形成第一暗斑的杂散光在测量光中的光强占比，提升了对杂散光测量的精准性。

摘要： 本申请设计光纤技术领域，尤其是一种滤除光纤中杂散光的盘绕装置及杂散光的滤除方法。通过将光纤依次沿第一绕位、弧形面和第二绕位盘绕，或者，依次沿第二绕位、弧形面和第一绕位盘绕，当光纤从第一绕位进入弧形面时，高阶模中杂散光甩出方向发生转变，杂散光沿着X1、Y1轴方向甩出外，杂散光还会沿着Y1轴的透射方向甩出；当光纤从第二绕位进入弧形面时，高阶模中杂散光甩出方向同样发生转变，杂散光沿着X2、Y2轴方向甩出外，杂散光还会沿着Y2轴的透射方向甩出，经此高阶模中的杂散光大部分甩出光纤外，进而将高阶模过滤掉得到低阶模。

摘要： 本发明涉及的杂散光自动检测机及其杂散光自动检测方法，杂散光自动检测机包括精密电动旋转台、固定架、双环转盘组件、连接件、安装调节架及水平定位机构，按步骤进行检测，实现水平、垂直、对角等多个方向的全角度杂散光自动拍摄，拍摄数据的自动存储；在检测方式中，光源不动，且轴线经过被测镜头中心，被测镜头围绕自身中心做多个方向的旋转运动，经控制软件的参数输入和启动按钮控制精密电动旋转台旋转，进行定位，同时由软件发出检测指令完成杂散光自动检测及数据保存，可对被测镜头进行水平方向、垂直方向和对角方向的杂散光进行检测，拍摄角度精度提升至±0.1度，重复定位精度提升<0.01度，极大提高了杂散光检测精度，缩小了整体占地面积。

摘要： 本发明涉及基于点目标的地气杂散光引起的低轨空间相机光学遥感器像面的杂散光照度的计算方法，具体涉及一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。本发明的目的是提供一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法。以克服现有方法存在的计算误差大、甚至无法检测的缺点。为克服现有技术存在的问题，本发明提供的技术方案是：本发明不再把地球看成一个点杂源，而是将其作为一个扩展面杂光源来进行检测分析。本发明考虑因素全面、精度高，简化了计算的复杂性。

摘要： 本发明涉及一种待测光学系统杂散光检测方法及杂散光检测系统，该方法包括以下步骤：1）获取待测光学系统在不同视场角的像面的辐射照度；2）将待测光学系统更换为衰减片并获取含有该衰减片的辐射照度；3）根据步骤2）所得到的含有该衰减片的辐射照度获取待测光学系统在入瞳处的辐射照度；4）根据步骤1）以及步骤3）获取待测光学系统的点源透过率。本发明提供了一种能够对被测光系统杂散光抑制水平进行客观评价，避免目前采用杂散光系数评价的不确定性的待测光学系统杂散光检测方法及杂散光检测系统。

摘要： 本发明涉及一种对镜头进行杂散光检测的镜头杂散光检测装置。该镜头杂散光检测装置包括工作台、设于该工作台台面上的镜头承载座、设于该工作台台面上的光源承载座、形成在该工作台台面的轨道、设于该光源承载座顶部的光源、及影像撷取单元。该镜头承载座用于承载该镜头。该光源承载座与该轨道滑动连接。在该光源承载座沿该轨道滑动的过程中，该光源发出的光线始终朝向该镜头。该影像撷取单元接受来自该镜头的光线以形成影像。该工作台设有多条用于指示该光源所发出的光线相对该镜头光轴的角度的刻度线。本发明还涉及一种镜头杂散光检测方法。