开关性能
开关性能的相关文献在1983年到2022年内共计149篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、电工技术、公路运输
等领域,其中期刊论文70篇、会议论文5篇、专利文献419411篇;相关期刊44种,包括中国教育技术装备、南阳师范学院学报、中国学术期刊文摘等;
相关会议5种,包括中国电源学会第二十届学术年会、第八届全国内耗与力学谱会议、2006中国电力系统保护与控制学术研讨会等;开关性能的相关文献由345位作者贡献,包括Stefan Schuler、张峰、赵佶等。
开关性能—发文量
专利文献>
论文:419411篇
占比:99.98%
总计:419486篇
开关性能
-研究学者
- Stefan Schuler
- 张峰
- 赵佶
- S·蒙纳德
- Y·阿格
- 丁林祥
- 严欣平
- 关波
- 刘伟
- 刘广荣
- 刘晓臣
- 刘正
- 包福春
- 吴云君
- 吴竞之
- 周益铮
- 唐德东
- 姜格蕾
- 孟凡宝
- 安荷·叭剌
- 宋小亮
- 尹正兵
- 张惠艳
- 张正和
- 张鲁华
- 徐冠健
- 施金良
- 曹峰
- 李海林
- 李鹏飞
- 杨明昆
- 樊杰
- 江颖达
- 汪龙洋
- 沈新根
- 熊伟明
- 王科
- 王莉
- 王莹
- 王飞
- 白云芳
- 科信
- 程志万
- 罗文广
- 胡军
- 胡坚耀
- 胡江民
- 苏丽琴
- 董祖毅
- 蒋常炯
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王笑;
余智勇;
代创伟
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摘要:
根据相关调查,由矿用移动电源直接引起的安全故障约占60%.因此需要对矿用电源进行安全监管,在全体矿工正常使用电源设备情况下,保证其人身生命安全.因电气设备的电气故障,使得煤矿事故时有发生.本安电源是矿用设备最关键的部分,这种电源在正常工作和故障状态下输出的最高电压和最大电流均具有本安性能,因此有必要设计简单可靠的本安电源.
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摘要:
东芝电子元件及存储装置株式会社宣布,在其TOLL(TO-无引线)封装的DTMOSVI系列中推出650V超级结功率MOSFET——TK065U65Z、TK090U65Z、TK110U65Z、TK155U65Z和TK190U65Z,近日开始批量出货。TOLL是一种表面贴装型封装,所需空间比常见的D2PAK封装小27%。它也属于4引脚型封装,能够对栅极驱动的信号源端子进行开尔文连接,从而减小封装中源极线的电感,进而发挥MOSFET实现高速开关性能,抑制开关时产生的振荡。
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金新华;
郑益淼;
郑开维;
熊杰;
王磊
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摘要:
随着经济发展和科技水平的提高,开关成为我国居民日常生活中必不可少的机械设备。而对于开光而言,其抗熔焊性能是决定其质量的关键。因此,本文就墙壁开关抗熔焊性能进行分析,希望相关部门可以采取合理的措施墙壁开关抗熔焊性能,使得开关的作用可以得到有效的发挥。
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摘要:
领先的高可靠性机电开关制造商C&K推出了一个防水超小型静噪微动开关系列,可以为汽车应用实现精密起动。紧凑式ZMW系列微动开关结合了长行程和超过2mm的行程,实现可靠的操作。ZMW系列开关可以在汽车、工业、白色家电等条件恶劣的环境中使用。ZMW系列开关采用双滑动触点设计,可以防止污染物进入开关中,以免影响开关性能和使用寿命。双滑动触点设计保证了长期可靠性,使用寿命最高达到50万次。
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无
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摘要:
新的符合AEC-Q101车规的汽车级SiC二极管提供现代汽车应用所需的可靠性和强固性,以及等同于宽禁隙(WBG)技术的众多性能优势。SiC技术提供比硅器件更优的开关性能和更高的可靠性。SiC二极管没有反向恢复电流,开关性能与温度无关。极佳的热性能、增加的功率密度和降低的电磁干扰(EMI),减小的系统尺寸和降低的成本使SiC成为越来越多的高性能汽车应用的极佳选择。
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胡博;
朱朋;
沈瑞琪;
叶迎华;
吴立志;
胡艳
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摘要:
For the requirements of one-shot switch which have high turn-on current and high conductivity rate, based on the production of Schottky diodes, the switch have been fabricated by three different packaging materials including epoxy resin, silicone and HTPB rubber. In the experiments, the peak current, delay time and rise time of switch were analyzed. Results show that the peak current of epoxy resin is the highest and that of silicon is lowest. Delay time is the shortest when the packing material is epoxy resin which could completely bound the arc of electrical explosion of SBD. The packing mate-rial has no significant effect on the rise time of the switch.%针对单触发开关高导通电流和高导通速率的要求,本文在制备肖特基二极管(SBD)单触发开关的基础上,采用环氧类树脂胶、有机硅胶以及端羟基聚丁二烯(HTPB)橡胶3种不同类型的材料封装单触发开关,分析比较其对开关峰值电流、延迟时间和上升时间的影响。试验结果表明,对于3种封装材料,单触发开关的峰值电流大小的顺序为:AB 胶> HTPB 橡胶>704胶;同时,AB 胶封装的开关延迟时间最短,分析原因是其能够约束住肖特基二极管电爆炸产生的电弧。封装材料对开关的上升时间没有显著影响。
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陈隆枢;
朱德生
- 《2018全国袋式除尘技术研讨会》
| 2018年
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摘要:
脉冲阀是脉冲袋式除尘器的核心部件,其性能直接影响该类除尘器的清灰效果。长期以来,脉冲阀的性能被归结为以流量系数Cv或Kv表示,但该参数不适于以气体为介质的阀门,更不能反映直接影响清灰效果的脉冲阀开关性能.本文提出建立脉冲阀综合性能测试装置,将脉冲阀的喷吹能量施加于装有传感器件的“标靶”,通过其感受到的气脉冲压力、加速度等参数,综合评价脉冲阀的性能.国内己制成两套测试装置,经多种方式检验,证明工作可靠,数据重复性好,性能稳定.已用于产品质量监测、新产品开发、不同品种脉冲阀的性能比对等,获得良好效果.
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陈永真;
陈之勃
- 《中国电源学会第二十届学术年会》
| 2013年
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摘要:
对不同年代IGBT通用型模块的主要数据逐一对比分析.通过分析发现,随着应用外延片制造到区熔单晶硅技术的进步.极限参数中额定电压参数的测试条件在进步,表明了IGBT模块的阻断性能在进步;不同壳温下的额定电流差距在缩小;集电极耗散功率随着集电极—发射极饱和电压的降低而不再需要很高;栅—源极阈值电压的离散性在缩小,栅—源极阈值电压在提高,提高了抗电磁干扰能力;开关性能在提高;栅极体电阻参数的给出表明了IGBT模块中各IGBT芯胞开通/关断的一致性在提高.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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吴秀梅;
吕笑梅;
朱劲松
- 《第八届全国内耗与力学谱会议》
| 2006年
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摘要:
应力普遍存在于铁电薄膜中,是影响薄膜性能和薄膜电子器件可靠性的一个重要参数.本文系统介绍了本小组近年来所进行的应力对铋系铁电薄膜(Bi3.25La0.75Ti3O12,Bi3.15Nd0.85Ti3O12和SrBi2Ta2O9)的铁电性能及与铁电存储有关的开关、疲劳性能等影响的研究.结果表明:张应力有利于增大薄膜的剩余极化和开关电荷量,而压应力却使得两者都降低.还发现:应力对薄膜的开关时间、矫顽场、疲劳性能等都有影响.其结果都与"应力作用下薄膜内铁电畴的重新取向"有关.
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