X荧光光谱

摘要： 同步辐射光源是带电粒子在加速器储存环中以接近光速的速度运动时,沿轨道切线方向发射出的辐射,同步辐射X射线荧光分析(SR-XRF)是以同步辐射X射线作为激发光源的X荧光光谱分析技术。同步辐射X射线荧光分析包括了用于微区及微量元素分析的同步辐射XRF、用于表面及薄膜分析的同步辐射全反射X射线荧光(SR-TXRF)以及用于三维无损分析的同步辐射X射线荧光扫描和成像方法(如X射线荧光CT、X射线荧光全场成像、共聚焦X射线荧光和掠出射X射线荧光等)。X射线荧光光谱法通过测量元素的特征X射线发射波长或能量,识别元素,该方法首先通过测量发射的特征线强度,然后将该强度与元素浓度联系起来,对给定元素进行量化分析。X射线荧光光谱技术可以进行多元素同时分析,同步辐射X射线荧光谱亮度高,可调谐,相干性、准直性及偏振性好,可以用于分析样品元素的含量和空间分布。近些年来随着新光源技术的使用、分析软件的更新换代和定量分析方法的发展,对同步X射线荧光光谱分析产生了极大促进,采用新型X射线光学元件和探测器,能极大提升分辨率和探测效率,促进相关学科应用的发展。介绍了近几年来国内外同步辐射X射线荧光光谱分析技术及其应用发展状况,给出了国内外比较典型的同步辐射X射线荧光光谱分析光束线站最新技术方面的发展概况,并列举了一些典型应用成果,例如在生物医学、环境科学、地质考古、材料科学和物理及化学等领域的应用。对于本领域及相关领域的专家学者了解国内外同步辐射技术发展现状、应用研究成果具有一定的参考意义。

摘要： 文章使用XRF、金相显微镜对湖北襄阳余岗、沈岗楚墓出土的部分青铜器进行检测分析。这批样品的出土地历来为兵家必争之地,其文化背景多样,出土样品时间跨度较大,从春秋中期到战国中晚期,期间经历了数百年时间。从成分分析结果看,这批青铜器主要为铜锡铅三元合金,合金配比与加工工艺根据器物性能的不同采用针对性的技术,合金配比逐渐优化,冶铸工艺逐渐走向成熟。从金相分析结果看,这批青铜器的制作工艺以铸造为主,两件薄壁容器为锻制而成,为研究早期锻制青铜容器提供了资料。焊料为接近各半配比的铅锡焊料,表现了春秋战国之际楚国工匠成熟的钎焊技术。分析结果为研究春秋战国时期楚国青铜器制作加工技术提供了资料。

摘要： 根据鄱阳湖南矶山区域土壤的X荧光光谱和可见近红外光谱特征,建立了3种数据融合(等权融合、累加融合、外积融合)的最小二乘向量机定量分析模型.结果 表明,等权融合和外积融合模型精度和稳定性均优于单一光谱定量分析模型.其中外积融合模型性能最佳,其决定系数(R2)为0.85,校正均方根误差(RMSEC)为0.09,预测均方根误差(RMSEP)为0.06,相对分析误差(RPD)为2.41,满足实际土壤中Cd的检测需求.该方法准确可靠,可为我国土壤重金属分类分级方法研究提供参考.

摘要： 很多自然界中的矿物质都有着很强的类质情况,受此影响,其很难在显微镜下加以区分,为了可以更好地确定矿物质的产量,就需要借助于x射线或电子探针等等技术手段,以此来确定其内部的化学成分,整理矿物结构,为矿产资源的进一步鉴定提供依据和信息.在这些技术中,x射线荧光光谱分析需要制作矿石光片,就可以及时分析出人铅锌矿石当中的主次元素的定量以及定性分析,大大提高了分析效率和质量.本文针对其中的技术以及操作流程进行了分析和总结.

摘要： 本文采用熔融法制取玻璃状样片,利用转炉渣、高炉渣标样及自制的参考标准物质保护渣合成系列标准物质,建立工作曲线进行联合测定。通过对样品的制备、工作曲线的绘制、样品的测定几方面研究,确定X荧光测定保护渣中多元素的方法。实现了保护渣中SiO2、Fe2O3、Al2O3、CaO、MgO多元素X荧光联合测定技术。

摘要： 对X荧光光谱分析镍基合金中铌含量所引入的不确定度进行讨论.确定分析过程中主要的不确定度分量,并对各不确定度分量进行评定,包括测量重复性引入的不确定度、标准样品引入的不确定度、校准曲线引入的不确定度等,确认分析结果的置信区间.

摘要： 对取自四条生产线的烧结矿样品的主要元素的测定结果进行拟合统计处理,计算相对偏差,进行工作曲线校正以消除条件因素、粒度效应和基体效应的影响,形成了自制内控标准样品工作曲线.对应用熔片法与压片法的分析结果进行了对比,结果表明重复性和再现性均较好.采用自制内控标准样品工作曲线进行烧结矿的荧光分析既缩短了检验分析周期,又满足了生产配料要求.

摘要： 本文采用熔融法制取玻璃状样片,利用转炉渣、高炉渣标样及自制的参考标准物质保护渣合成系列标准物质,建立工作曲线进行联合测定.通过对样品的制备、工作曲线的绘制、样品的测定几方面研究,确定X荧光测定保护渣中多元素的方法.实现了保护渣中SiO2、Fe2 03、Al2O3、CaO、MgO多元素X荧光联合测定技术.

摘要： 镍基合金广泛应用于航天航空、武器装备、核电装备等高端制造领域,X荧光光谱分析镍基合金具有分析快速、精度较高的特点.文章对X荧光光谱分析镍基合金过程的分析参数与曲线校正进行研究,探索优化各项方法参数和曲线校正模型,不断提高分析精度、提升检测效率、降低检测成本,对现场检测应用具有现实意义.

摘要： 采用宝石显微镜、红外光谱仪、X荧光光谱仪、紫外可见光谱仪、宝石发光成像分析仪、Diamond View TM等对济南地区某公司销售的蓝色高温高压合成钻石样品进行详细地测试与分析.结果表明,蓝色高温高压合成钻石放大观察可见内部含有棒状、柱状、片状、细小微粒状的金属包裹体,个别样品内部相对纯净,净度可达VS.红外吸收光谱测试显示为Ⅱb型,具有硼所致的1290cm-1吸收峰.X荧光光谱测试显示均具有铁镍吸收峰,且样品均具有磁性,个别样品可以被磁铁吸住.蓝色高温高压合成钻石在Diamond View TM下具有蓝白色荧光,并且具有“黑十字”现象,可见四边形生长环带,所测样品均具有强磷光现象.紫外-可见光分光光谱仪测试未检测到415nm吸收线.

摘要： 原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言，面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求，在考虑成本，时间及操作人员要求的前提下，选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。

摘要： 原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言，面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求，在考虑成本，时间及操作人员要求的前提下，选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。

摘要： 原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言，面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求，在考虑成本，时间及操作人员要求的前提下，选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。

摘要： 原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言，面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求，在考虑成本，时间及操作人员要求的前提下，选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。

摘要： 原位微区微束分析技术提供了固体物质的元素及同位素组成的空间分布信息,本文拟就地球科学中常用的三种微束(电子探针EMPA、激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱LA ICP-MS和X荧光光谱XRF)面扫描分析技术进行对比研究.结果表明对于复杂的地质样品而言，面扫描方法能够提供重要的成因和成分信息。根据对图像分辨率和数据检测限的要求，在考虑成本，时间及操作人员要求的前提下，选择合适的分析方法将有助于更好的解决实际问题。

摘要： 采用粉末压片法制作试样,国家标准样品及日常分析样品混合建立工作曲线,用X荧光光谱法,完成一个试样的大分析只需约5 min,分析值准确、可靠,完全满足硅锰合金进出厂分析的质量控制。

摘要： 采用粉末压片法制作试样,国家标准样品及日常分析样品混合建立工作曲线,用X荧光光谱法,完成一个试样的大分析只需约5 min,分析值准确、可靠,完全满足硅锰合金进出厂分析的质量控制。

摘要： 采用粉末压片法制作试样,国家标准样品及日常分析样品混合建立工作曲线,用X荧光光谱法,完成一个试样的大分析只需约5 min,分析值准确、可靠,完全满足硅锰合金进出厂分析的质量控制。

摘要： 采用粉末压片法制作试样,国家标准样品及日常分析样品混合建立工作曲线,用X荧光光谱法,完成一个试样的大分析只需约5 min,分析值准确、可靠,完全满足硅锰合金进出厂分析的质量控制。

摘要： 本文研究了利用X荧光光谱仪，通过采用四硼酸锂和碳酸锂混合熔剂熔融制样，实现了锰矿中主元素和微量元素的快速分析，提高了工作效率，降低了劳动强度，在实际生产化验分析中取得良好的应用效果。

摘要： 本发明公开了一种原子荧光光谱仪背景扣除方法，包括：通过目标元素光源对被测样品进行测试，得到第一荧光信号；所述第一荧光信号为所述被测样品中目标元素和干扰元素所产生的荧光信号的叠加信号；通过扣背景光源对所述被测样品进行测试，得到第二荧光信号；所述第二荧光信号值为所述被测样品中干扰元素所产生的荧光信号；将所述第一荧光信号与第二荧光信号进行作差运算，得到所述目标元素的荧光信号。本发明通过增加扣背景光源，得到被测样品中干扰元素所产生的荧光信号，进而采用算法扣除干扰元素所产生的荧光信号，提高测试的准确率。

摘要： 本发明公开了一种荧光光谱校正方法和荧光光谱测量装置。一种荧光光谱校正方法，包括：对从标记有多个荧光染料的微粒获取的荧光光谱与参考光谱进行比较，从而将荧光光谱分离为针对每个染料的荧光光谱，并且将先前测得的光谱数据用作为参考光谱。

摘要： 本发明涉及一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪，包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件，其中样品仓组件组装在外壳组件内，包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门，仓体内有容置空间；X光管组件设多个，包括X光管，X光管的出射口朝向仓体的容置空间；探测器组件设多个，包括探测器，探测器的探测头朝向仓体的容置空间。本发明可以对置于在较大空间内的物品进行全方位的测定分析，测量时间短，准确度高，对安检、在线质量监控等领域的检测特别适用。

摘要： 本发明公开了一种荧光光谱仪的滤光片切换装置，包括：安装基体，用于连接荧光光谱仪的射线头，具有用于射线头的X射线穿过的射线通道；转盘，具有多个用于安装滤光片的安装位，转盘与所述安装基体转动连接，以使得随着所述转盘转动，转盘上各个所述安装位上的所述滤光片能够依次经过所述射线通道；驱动机构，用于驱动所述转盘转动。在该荧光光谱仪的滤光片切换装置中，设置了转盘，并使转盘上设置有了多个滤光片安装位，以安装不同种类的滤光片，然后通过转盘的转动，可以选择不同安装位的滤光片进入到射线通道处进行滤光，进而满足不同的滤光需要，且操作方便简单。本发明还公开了一种包括上述滤光片切换装置的手持荧光光谱仪。

摘要： 本发明提供了一种用于原子荧光光谱仪的气液分离器及原子荧光光谱仪，气液分离器包括分离器壳体以及制冷组件：分离器壳体开设有进气口、排液口和排气孔；制冷组件容置于分离器壳体内，且制冷组件与分离器壳体的内壁间隔设置，以形成制冷腔；制冷腔分别连通于进气口、排液口及排气孔。本实施例的气液分离器通过设置制冷组件，可以对进入气液分离器内的气液混合物进行制冷操作，从而提高气液分离效果。本实施例的原子荧光光谱仪中，通过设置上述气液分离器，可以有效防止原子化过程中的信号干扰，避免荧光猝灭现象的发生，从而降低原子荧光光谱仪检测信号的噪声，检测效果得以提高。

摘要： 本发明属于荧光光谱技术测试领域，尤其涉及一种荧光光谱的测试装置以及荧光光谱的测试方法。荧光光谱的测试装置，用于获取待测材料的荧光光谱，其特征在于，荧光光谱的测试装置包括：激发结构，包括激发光源以及角度调节机构，激发光源用于生成预设波长的激发光束，激发光束以预设的入射角度入射待测材料表面，角度调节机构用于调节入射角度的值；旋转结构，用于固定待测材料，并根据用户输入的控制指令对待测材料和激发光源进行同步旋转；以及检测结构，用于接收待测材料生成的受激光束，并根据受激光束得到对应的荧光光谱。本发明通过分析在不同旋转角度下测得的荧光光谱，最终得到待测材料的角度分布特性。

摘要： 本发明公开了一种原子荧光光谱仪背景扣除方法，包括：通过目标元素光源对被测样品进行测试，得到第一荧光信号；所述第一荧光信号为所述被测样品中目标元素和干扰元素所产生的荧光信号的叠加信号；通过扣背景光源对所述被测样品进行测试，得到第二荧光信号；所述第二荧光信号值为所述被测样品中干扰元素所产生的荧光信号；将所述第一荧光信号与第二荧光信号进行作差运算，得到所述目标元素的荧光信号。本发明通过增加扣背景光源，得到被测样品中干扰元素所产生的荧光信号，进而采用算法扣除干扰元素所产生的荧光信号，提高测试的准确率。

摘要： 本实用新型公开一种用于荧光光谱仪检测的自动送样装置和荧光光谱检测仪，包括：设置在荧光光谱仪本体内部的底板，底板围设在荧光光谱仪本体内检测窗口的外部；底板上设置有多个运动模组，多个运动模组与控制器连接；多个运动模组包括X轴运动模组、Y轴运动模组和Z轴运动模组；X轴运动模组与Y轴运动模组连接并驱动Y轴运动模组进行X方向往复移动；Y轴运动模组与Z轴运动模组连接并驱动Z轴运动模组进行Y方向往复移动；Z轴运动模组上设置有用于放置样品盘的框架并驱动框架进行Z方向往复移动；样品盘用于盛放样品；控制器用于通过X轴运动模组、Y轴运动模组和/或Z轴运动模组驱动样品盘进行空间运动，使得样品放置在检测窗口的上方。

摘要： 本实用新型提供了一种用于原子荧光光谱仪的气液分离器及原子荧光光谱仪，气液分离器包括分离器壳体以及制冷组件：分离器壳体开设有进气口、排液口和排气孔；制冷组件容置于分离器壳体内，且制冷组件与分离器壳体的内壁间隔设置，以形成制冷腔；制冷腔分别连通于进气口、排液口及排气孔。本实施例的气液分离器通过设置制冷组件，可以对进入气液分离器内的气液混合物进行制冷操作，从而提高气液分离效果。本实施例的原子荧光光谱仪中，通过设置上述气液分离器，可以有效防止原子化过程中的信号干扰，避免荧光猝灭现象的发生，从而降低原子荧光光谱仪检测信号的噪声，检测效果得以提高。

摘要： 本实用新型是一种用于X荧光光谱仪的准直器及一种X荧光光谱仪，该准直器包括一准直器体和一准直片组件，准直片组件安装在准直器体的芯部，外端面与其平齐，在准直器体外侧用紧定螺钉紧固；准直片组件包括多片叠加设置的准直片，每相邻两准直器片之间的外沿部分由垫片间隔，垫片和准直片粘结而形成一体化准直片组件。本实用新型由于设置了叠加状的准直片组件，准直效果明显，提高了有效光束照射至晶体和探测器的效率，分辨率高，计数率高。