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T/R组件

T/R组件的相关文献在1992年到2023年内共计741篇,主要集中在无线电电子学、电信技术、自动化技术、计算机技术、金属学与金属工艺 等领域,其中期刊论文360篇、会议论文49篇、专利文献428604篇;相关期刊121种,包括电子工程信息、电讯技术、电子信息对抗技术等; 相关会议39种,包括2015年全国天线年会、2014年全国军事微波技术暨太赫兹技术学术会议、2014全国第十五届微波集成电路与移动通信学术年会等;T/R组件的相关文献由1434位作者贡献,包括余雷、丁卓富、刘刚等。

T/R组件—发文量

期刊论文>

论文:360 占比:0.08%

会议论文>

论文:49 占比:0.01%

专利文献>

论文:428604 占比:99.90%

总计:429013篇

T/R组件—发文趋势图

T/R组件

-研究学者

  • 余雷
  • 丁卓富
  • 刘刚
  • 杜小辉
  • 周丽
  • 揭海
  • 沈智广
  • 邓金峰
  • 陈兴国
  • 严伟
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利文献

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年份

    • 徐海飞; 蒋福生; 杨阳; 任恒志; 马涛; 沈涛
    • 摘要: 为了满足工程设计需求,提出一种基于系统级封装(System in Package,SIP)技术的多通道L波段收发组件设计方案,详细阐述其实现原理。SIP作为一种先进的系统集成与封装技术,是实现有源相控阵雷达收发(T/R)组件小型化、高密度化及高可靠性的重要途径。针对T/R组件关键技术指标进行设计分析,采用SIP技术进行了关键电路小型化设计,同时进行了多层微波电路PCB设计、T/R模块结构设计等工作,研制了L波段多通道T/R组件实物。收发组件的测试数据验证了设计方案的可行性和工程实用性。
    • 范梦恒; 赵宁; 张宇
    • 摘要: 针对雷达整机健康管理需求,介绍了国内外故障预测技术发展现状,基于TR组件FMECA方法分析了TR组件故障演变/故障征兆以及监测点的布局要求,研究了T/R组件故障预测及健康评估方法,对于实现T/R组件或有源相控阵雷达天线的故障预测与健康管理系统有较强的指导意义。
    • 赵如意; 许可豪
    • 摘要: 以某雷达T/R组件的液冷散热为研究对象,通过分析比较仿真结果,对原冷板流道结构进行优化,在流道内分别增加方柱型和圆柱型两种散热齿。利用实验对这两种方案进行验证,实验与仿真结果的误差小于2%。结果表明:散热齿的引入显著改善了冷板的散热效果,方柱型散热齿的散热效果更优于圆柱型。优化后的两种流道方案均能满足此次冷板热设计要求。综合分析,最终选择圆柱型散热齿的流道结构,方柱型散热齿可以应用于热流密度更高的电子设备热设计中。
    • 徐洋; 余雷; 张剑; 陈春梅; 岳帅旗
    • 摘要: 为快速推进低温共烧陶瓷(LTCC)材料的国产化进程,推动自研LTCC材料早日投入应用,以某型国产LTCC材料为基础设计了一款单通道T/R组件,组件内部埋置集成微流道用于功放芯片快速散热。在组件及微流道设计仿真、基板制造加工和膜层化镀改性方面进行了研究,对组件进行了装配和测试。结果显示,采用自研LTCC材料制作的单通道T/R组件工艺指标合格,装配适应性良好,微流道散热高效,主要电性能指标满足要求。该型国产LTCC材料实用性良好,具有明确的工程应用前景。
    • 丁承文; 吕辉
    • 摘要: 为了降低界面热阻对微通道散热性能的制约,提出了一种组件壳体内置微通道散热单元的设计架构,以满足新一代高功率芯片T/R组件的热控需求。对内置微通道的传热特性进行数值仿真分析,优选出最佳结构参数组合。基于优选设计参数,整合UV-LIGA微细加工技术、精密扩散焊接技术及微组装技术,完成内置微通道散热单元T/R组件的模拟样件研制。开发微通道换热器性能测试系统,对模拟样件散热效果进行试验验证。结果表明,内置微通道散热单元T/R组件的热流密度达到274.2 W/cm2,可保障高功率芯片工作在允许的温度范围内。该设计方式值得在局部热流密度过高的电子器件热设计中推广应用。
    • 郝齐焱; 郑林华; 何朝升; 陈文兰; 张小刚
    • 摘要: 高频(X波段及以上)有源阵列天线受限于空间尺寸限制,难以直接实现二维阵列方向的扩充。本文提出的一种微波数字复合而成的二维扩充瓦片有源阵列模块,该模块采用多层印制板堆叠技术工艺,集合低频和射频馈电网络、模拟电路与数字电路的一体化功能,是实现有源天线轻量化小型化的关键设计。亦详细描述瓦片有源阵列天线的集成架构和其综合馈电网络设计。有源阵列天线阵面波束性能的仿真结果和原理样机的测试结果验证X波段二维扩充瓦片模块和阵列天线的可实现性。
    • 卓越; 陆燕辉; 杨善国; 林选锋; 彭思
    • 摘要: 有源相控阵系统波束扫描主要通过TR组件通道中的延时器或移相器来实现,当通道扫描状态不同步时,可能导致发射状态下天线阵有源驻波恶化,对相控阵系统造成危害。针对此种情况,进行仿真评估以及危害分析,提出解决和避免手段,并最终在项目中得到验证。
    • 李大成; 李海波
    • 摘要: 数字有源相控阵雷达天线由少则数百个、多则数千个T/R组件构成,采用单波位、单频点方法测试,完整测试完一个子阵面,需要约一小时;如果测试M个波位、N个频点,则需要M×N小时。对于数字相控阵雷达动辄几十或几百个工作频点来说,测试时间耗费巨大。本文介绍一种异步触发的多波位、多频点天线测试控制技术,并结合实际工程应用,验证了测试控制系统技术的有效性。1需求分析T/R组件是数字有源相控阵天线重要部件,一部相控阵雷达由少则数百个、多则数千个T/R组件构成。T/R组件的性能优劣,直接影响雷达的性能和可靠性,T/R的良好性能是保证整个雷达稳定、可靠工作的前提。因此,T/R组件在安装到阵面之前必须进行测试。
    • 蒋伟; 盛文; 祁炜; 刘诗华
    • 摘要: 现阶段对于大型相控阵雷达T/R组件何时开展换件维修、维修时全部更换故障组件还是部分更换、备件数量如何配置等有关问题还没有一个具体标准,开展T/R组件维修决策问题研究可为装备保障人员提供维修决策支持。首先,对T/R组件维修决策的主要内容进行阐述界定。其次,分别从故障数据预测、故障寿命分布、基于故障数据的设备性能评估3个方面对故障数据建模研究现状进行分析。然后,从维修策略类型和维修策略优化模型两个方面重点对维修策略进行阐述,并对以可用度、备件满足率、备件期望短缺数、任务成功率等为决策变量的备件库存策略进行分析。最后,分析了现有方法存在的不足,提出T/R组件维修决策需要解决的上述3个重要问题,为后续研究提供理论支撑。
    • 王越飞; 顾春燕; 张兆华
    • 摘要: 键合引线的耐电流水平是影响键合可靠性的重要因素之一,直接决定了雷达微波毫米波T/R组件的使用寿命。文中结合雷达微波组件的实际应用需求,开展键合引线耐电流水平研究,并深入分析了引线熔断机理,探讨引线熔断的微观过程,为电讯设计提供数据和理论参考。研究发现,键合引线熔断过程是焦耳热作用下的原子热迁移过程。熔断电流水平受外部气氛影响,大气气氛下的熔断电流水平略高于真空气氛下,可为航天产品设计提供参考。
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