场发射扫描电子显微镜

摘要： 燃煤超细颗粒物属于不导电粉体材料,拍摄过程中会产生不同程度的荷电现象,影响样品的形貌表征以及图像质量。为获得高质量的燃煤超细颗粒物的SEM图像,借助蔡司Sigma300场发射扫描电子显微镜,探讨探测器、加速电压、工作距离、光阑大小等对场发射扫描电子显微镜图像的影响。研究分析表明,InLens探测器适用于高倍成像及观察样品表面细节,但是不足之处是拍摄的图像立体感较差,容易受荷电效应影响;SE2探测器对样品表面形貌非常敏感,景深大,立体感强,特别适用于粗糙颗粒的观察研究;当燃煤超细颗粒物样品放电严重或者需要大景深、强立体感时可选用SE2探测器,工作距离WD=5 mm,电压3 kV左右,光阑30μm的参数条件下进行拍摄;当需要高倍成像及观察样品表面细节时可选用InLens探测器,工作距离WD=3.2 mm,电压2 kV,光阑30μm的参数条件下进行拍摄。

摘要： 本文采用光学显微镜对Q195b钢拉丝断裂试样进行微观和宏观检测,结合场发射扫描电子显微镜EBSD和能谱分析仪EDS检测分析断口试样的夹杂物分布特征,结果表明硅酸钙、氧化铝和硫化物等非金属夹杂物是导致Q195b钢拉丝断裂的主要原因。从脱氧工艺、中间包结构优化、保护浇注三个方面开展了工艺优化,提高了钢水洁净度,降低了Q195b拉丝断裂率。

摘要： 扫描电子显微镜主要用于样品显微结构的表征分析,在科研和实际工作中应用广泛。荷电现象与热损伤是最常见的严重影响到SEM图像质量的2种现象,它会造成图像的反差异常、形变等,在导电性不好或热敏性强的样品形貌表征中极为常见。以几种导电性较差样品,如无机非金属材料和有机纳米材料等为对象,通过实验比对后发现,通过加速电压、探头选择、信号选择、图像采集方式等参数的调节能够有效减轻SEM图像的荷电现象;以热敏性较强的钢、铝合金为对象,通过实验比对后发现,通过加速电压、探头选择、工作距离WD等参数的调节能够有效减轻SEM图像的热损伤现象,从而提高图像质量,获得更为真实的显微结构信息。

摘要： 南钢实验检测中心蔡司Sigma300型场发射扫描电子显微镜,配有牛津仪器能谱仪,最大放大倍数可达100万倍,成分检测范围Be~U,其性能指标处于行业先进水平,具有景深大、分辨率高,成像直观、立体感强、放大倍数范围宽等特点,广泛应用于材料微观形貌观察、夹杂等缺陷分析、断口分析等方面,在材料性能研究、失效分析等方面发挥着重要作用。

摘要： 基于场发射扫描电子显微镜和低温液氮吸附实验,对二连盆地吉尔嘎朗图凹陷和霍林河凹陷下白垩系赛汉塔拉组6口井的煤层样品进行分析。结果显示:研究区煤储层孔隙以原生孔为主,少量气孔,见极少量的矿物质孔及外生孔;孔隙发育以镜质组孔隙为主,其次发育在惰质组和壳质组中,扫描电镜下可观测到矿物质充填其中部分孔隙。孔隙形态以一端或两端开口的楔形为主,部分为具有“双峰”孔隙结构的封闭型和墨水瓶型,吉尔嘎朗图凹陷煤的孔隙为楔型和封闭型,霍林河凹陷煤的孔隙为楔型和墨水瓶型。霍林河凹陷样品的比表面积平均为97.78 m^(2)/g,总孔隙体积平均为0.094 cm^(3)/g,平均孔径为4.98 nm,整体变化范围较小;研究区煤层微孔较为发育且对比表面积贡献最为显著,然后依次为小孔和中孔。吉尔嘎朗图凹陷的低阶煤层样品比表面积平均值为49.75 m^(2)/g,总孔隙体积平均为0.07 cm^(3)/g,平均孔径为11.97 nm,整体变化范围较大;比表面积的主要贡献者为微孔和小孔,中孔的贡献较少。研究区低阶煤层孔隙有利于形成高的含气量,益于煤层气的富集,但气体运移受孔径影响较大,气体难以发生解吸扩散。因此后期煤层气开发阶段应充分考虑其储层孔隙条件,设计有效的储层改造方案,充分调动其储量。

摘要： 场发射扫描电子显微镜(FESEM)在研究材料表面形貌领域有广泛的应用.荷电现象是扫描电镜中影响图像质量的重要原因之一.为了消除荷电现象,获得不导电样品真实清晰的扫描电镜图片,从荷电效应的产生机理出发,利用配备X线能谱仪的场发射扫描电镜,通过调节加速电压、驻留时间、探测器类型、扫描方式、及光阑孔径等参数,对比分析土壤、聚苯乙烯微球、块体材料、ZnCo2 O4纳米针、石膏等材料在消除荷电现象前后的FESEM图片,并探讨了在不镀膜情况下各种试验参数对消除荷电现象的作用机制,分析每个参数对消除荷电的影响原理,并提出一种快速选择最优加速电压的方法和一条简单的消除荷电的参数选择思路.在处理场发射扫描电镜测试中出现荷电问题时有很好的适应性.

摘要： 膨胀型防火涂料是一种用于减少地下结构导热的绝缘材料。本文研究了不同配方高岭土在耐火实验中对涂料膨胀和隔热性能的影响。膨胀型防火涂料配方(ICF)在950°C下测试了1 h。结果表明,涂料稳定且与基材结合良好。通过场发射扫描电子显微镜(FESEM)、X射线衍射(XRD)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、热重分析(TGA)和X射线光电子能谱(XPS)来研究涂料的特性。通过FESEM来研究耐火试验后涂料中炭层的形态。XRD和FTIR显示了在残余物中存在碳元素(石墨)、磷酸硼、氧化硼、天然硼酸和高岭石。TGA表明高岭土增强了试件防火性能;配方IF5-KC比IF-C配方增加了49%的残余质量。XPS分析表明,IF5-KC残余物的组成中,碳含量为41.80%。加速风化实验ASTM D 6695-03表明,IF5-KC涂料在加速风化室中可以保持90 d的完整性。

摘要： 场发射扫描电子显微镜作为微观物质形貌和化学组分分析的主要设备,在科研和教学中起到了重要的支撑作用.该文以体制建设为基础,介绍了扫描电镜实验室基于实验室综合管理平台的人员培训和基于仪器设备共享平台的仪器使用及维护保养工作.基于信息化平台的实验室管理保障了扫描电镜的安全运行和高效利用.

摘要： 本文通过实例讨论了场发射扫描电子显微镜在耐火材料分析领域的应用.阐述了场发射扫描电子显微镜的基本原理、图像种类、各种信号的主要特性,并对场发射扫描电子显微镜在耐火材料分析领域的应用现状、前景进行了评述.场发射扫描电子显微镜分辨率高,可以实现极微区的原位精细观察和研究.采用5kV以下的低加速电压,可对不导电的耐火材料样品,无需蒸镀导电膜,即可直接实现对样品表面的观察分析,具有广泛的应用前景.

摘要： FEI Helios 650聚焦离子/电子双束(FIB-SEM)扫描电镜,是一台具有超高分辨率的场发射扫描电镜,适用于泥页岩的精细表征,可以完成孔喉、矿物的精确二维、三维刻画.其独特的二维图像拼接系统可以实现对致密岩石的超大面积超高分辨表征,从而得到有效的统计学规律.文章指出FIB-SEM通过一系列复杂的操作，可以得到连续的二维切片图像。与CT成像不同的是，这些图像并不是同时采集的，而是来自不同时刻的图像数据。因此，对FIB-SEM图像的三维处理比CT图像处理更加复杂，有更多需要特殊对待的关键步骤，这些步骤处理的好坏直接影响三维重构的效果与质量。其中三个主要的注意事项为:角度矫正，位置矫正与亮度矫正。

摘要： FEI Helios 650聚焦离子/电子双束(FIB-SEM)扫描电镜,是一台具有超高分辨率的场发射扫描电镜,适用于泥页岩的精细表征,可以完成孔喉、矿物的精确二维、三维刻画.其独特的二维图像拼接系统可以实现对致密岩石的超大面积超高分辨表征,从而得到有效的统计学规律.文章指出FIB-SEM通过一系列复杂的操作，可以得到连续的二维切片图像。与CT成像不同的是，这些图像并不是同时采集的，而是来自不同时刻的图像数据。因此，对FIB-SEM图像的三维处理比CT图像处理更加复杂，有更多需要特殊对待的关键步骤，这些步骤处理的好坏直接影响三维重构的效果与质量。其中三个主要的注意事项为:角度矫正，位置矫正与亮度矫正。

摘要： FEI Helios 650聚焦离子/电子双束(FIB-SEM)扫描电镜,是一台具有超高分辨率的场发射扫描电镜,适用于泥页岩的精细表征,可以完成孔喉、矿物的精确二维、三维刻画.其独特的二维图像拼接系统可以实现对致密岩石的超大面积超高分辨表征,从而得到有效的统计学规律.文章指出FIB-SEM通过一系列复杂的操作，可以得到连续的二维切片图像。与CT成像不同的是，这些图像并不是同时采集的，而是来自不同时刻的图像数据。因此，对FIB-SEM图像的三维处理比CT图像处理更加复杂，有更多需要特殊对待的关键步骤，这些步骤处理的好坏直接影响三维重构的效果与质量。其中三个主要的注意事项为:角度矫正，位置矫正与亮度矫正。

摘要： FEI Helios 650聚焦离子/电子双束(FIB-SEM)扫描电镜,是一台具有超高分辨率的场发射扫描电镜,适用于泥页岩的精细表征,可以完成孔喉、矿物的精确二维、三维刻画.其独特的二维图像拼接系统可以实现对致密岩石的超大面积超高分辨表征,从而得到有效的统计学规律.文章指出FIB-SEM通过一系列复杂的操作，可以得到连续的二维切片图像。与CT成像不同的是，这些图像并不是同时采集的，而是来自不同时刻的图像数据。因此，对FIB-SEM图像的三维处理比CT图像处理更加复杂，有更多需要特殊对待的关键步骤，这些步骤处理的好坏直接影响三维重构的效果与质量。其中三个主要的注意事项为:角度矫正，位置矫正与亮度矫正。

摘要： 本发明公开了一种低能扫描电子显微镜系统，包括：电子源，用于产生电子束；电子加速结构，用于增加所述电子束的运动速度；复合物镜，用于对经所述电子加速结构加速的电子束进行汇聚；偏转装置，用于改变所述电子束的运动方向；探测装置，包括用于接收电子束作用于样品上产生的二次电子和背散射电子的第一子探测装置、用于接收所述背散射电子的第二子探测装置、以及用于改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向的控制装置；电透镜，包括第二子探测装置、样品台和控制电极，用于减小所述电子束的运动速度，并改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向。本发明还公开了扫描电子显微镜物镜系统及样品探测方法。

摘要： 本发明公开了一种扫描电子显微镜原位检测装置及扫描电子显微镜系统，包括：底座；Y轴移动平台，Y轴移动平台设置在底座上；X轴移动平台，X轴移动平台设置在Y轴移动平台上，并在Y轴移动平台上移动；样品放置区，样品放置区设置在X轴移动平台的顶端；Z轴移动平台，Z轴移动平台设置在底座上，并相对于底座作上升或下降运动；悬臂，悬臂设置在Z轴移动平台的顶端的近样品放置区端；X轴移动平台、Y轴移动平台及Z轴移动平台中均设置有压电素子控制部件；压电素子控制部件中包括伸长量与电场强度平方成正比的压电陶瓷。本发明实现了对材料的由纳米尺度到厘米尺度的动态原位观测，又可以同时对其物理性能进行测试。

摘要： 本发明的扫描透过电子显微镜为了能够实现0.1nm原子尺寸结构的三维观察而具有球面像差系数小的电子透镜系统。再有，本发明的扫描透过电子显微镜具有：能够变更照射角的光圈、能够变更电子射线探针的探针尺寸及照射角度的照射电子透镜系统、二次电子检测器、透过电子检测器、前方散射电子射线检测器、焦点可变装置、识别图像的对比度的图像运算装置、对图像清晰度进行运算的图像运算装置、进行图像的三维构筑的运算装置、及对二次电子信号与样本前方散射电子信号进行混合的混频器。

摘要： 本发明披露了一种可现场安装在扫描式电子显微镜（SEM）成像室内的切片机。其包括一高压下产生减速场的试样夹具以及一活动刀片。该SEM包括一置于临近试样夹具的反向散射电子检测器。设置的刀片将与试样夹具上的试样接触以切除一小部分试样并暴露出试样的新表面，而不会干扰施加在试样上的高压，所述刀片的安装方式应保证完成上述过程之后可退回至不干扰减速场的位置。

摘要： 本发明提供一种利用电子显微镜进行观察的方法、和用于该方法的真空下的蒸发抑制用组合物、扫描电子显微镜及透射电子显微镜，使用所述电子显微镜能够在存活的状态下观察生物试样，并且可以观察活动情况。本发明的利用电子显微镜观察试样的方法包括以下工序：在试样表面应用含有选自两亲性化合物、油脂类及离子液体中的至少1种的蒸发抑制用组合物形成薄膜，从而利用薄膜覆盖该试样的工序；和在显示装置上显示收容于真空下的试样室的用该薄膜覆盖的试样的电子显微镜图像的工序。

摘要： 本发明公开了一种低能扫描电子显微镜系统，包括：电子源，用于产生电子束；电子加速结构，用于增加所述电子束的运动速度；复合物镜，用于对经所述电子加速结构加速的电子束进行汇聚；偏转装置，用于改变所述电子束的运动方向；探测装置，包括用于接收电子束作用于样品上产生的二次电子和背散射电子的第一子探测装置、用于接收所述背散射电子的第二子探测装置、以及用于改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向的控制装置；电透镜，包括第二子探测装置、样品台和控制电极，用于减小所述电子束的运动速度，并改变所述二次电子和所述背散射电子的运动方向。本发明还公开了扫描电子显微镜物镜系统及样品探测方法。

摘要： 本发明公开了一种扫描电子显微镜原位检测装置及扫描电子显微镜系统，包括：底座；Y轴移动平台，Y轴移动平台设置在底座上；X轴移动平台，X轴移动平台设置在Y轴移动平台上，并在Y轴移动平台上移动；样品放置区，样品放置区设置在X 轴移动平台的顶端；Z轴移动平台，Z轴移动平台设置在底座上，并相对于底座作上升或下降运动；悬臂，悬臂设置在Z轴移动平台的顶端的近样品放置区端；X轴移动平台、Y轴移动平台及Z轴移动平台中均设置有压电素子控制部件；压电素子控制部件中包括伸长量与电场强度平方成正比的压电陶瓷。本发明实现了对材料的由纳米尺度到厘米尺度的动态原位观测，又可以同时对其物理性能进行测试。

摘要： 本发明的扫描透过电子显微镜为了能够实现0.1nm原子尺寸结构的三维观察而具有球面像差系数小的电子透镜系统。再有，本发明的扫描透过电子显微镜具有：能够变更照射角的光圈、能够变更电子射线探针的探针尺寸及照射角度的照射电子透镜系统、二次电子检测器、透过电子检测器、前方散射电子射线检测器、焦点可变装置、识别图像的对比度的图像运算装置、对图像清晰度进行运算的图像运算装置、进行图像的三维构筑的运算装置、及对二次电子信号与样本前方散射电子信号进行混合的混频器。

摘要： 本实用新型提供了一种扫描电子显微镜载物台，其包括：平台，所述平台中央区域设置有调节孔，在所述调节孔的周围设置有多个载物孔，所述载物孔和所述调节孔之间通过通孔连通，所述通孔内设置有推杆，所述推杆通向所述载物孔的一端设置有压板，所述压板为平板状；压块，所述压块设置于所述调节孔中，所述压块的外周面为锥面，该锥面约趋向于下侧约趋向中央收缩，使得所述压块能够压抵所述推杆，使推杆具有由调节孔向载物孔运动的趋势。通过采用上述技术方案本实用新型所述的一种扫描电子显微镜载物台可以通过压块带动压板夹紧样品来一次装载多个样品，提高装载效率。

摘要： 本实用新型涉及一种扫描电子显微镜专用钢丝夹具及扫描电子显微镜装置，该夹具包括第一侧板与第二侧板；设于所述第一侧板与所述第二侧板同一端部的定位板；所述定位板上设有用于供钢丝安装的一个或多个定位凹槽；还包括面向所述定位凹槽设置的活动夹板；其中，所述活动夹板朝向或远离所述定位凹槽移动，以夹紧或松开所述钢丝，该夹具能够有效固定单根或者多根钢丝，无需实用导电胶带，节省试验成本，提高样品制作效率，且该夹具还具有可循环使用，操作简单，使用寿命长的优点。