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PARITY GENERATION CIRCUITS FOR A PLURALITY OF ERROR CORRECTION LEVELS, MEMORY CONTROLLERS, AND MEMORY MODULES INCLUDING THE PARITY GENERATION CIRCUITS

机译:用于多个纠错级别,存储器控制器和包括奇偶校验电路的存储器模块的奇偶校验电路

摘要

A parity generation logic circuit includes a first parity generation part and a second parity generation part. The first parity generation part is configured to generate a first parity in a first error correction mode having a first error correction capability for original data. The second parity generation part is configured to generate a second parity using the first parity in a second error correction mode having a second error correction capability.
机译:奇偶校验产生逻辑电路包括第一奇偶校验部分和第二奇偶校验部分。第一奇偶校验部分被配置为在具有用于原始数据的第一纠错能力的第一纠错模式下生成第一奇偶校验。第二奇偶校验部分被配置为使用具有第二纠错能力的第二纠错模式的第一奇偶校验来生成第二奇偶校验。

著录项

  • 公开/公告号US2021119647A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SK HYNIX INC.;

    申请/专利号US202016910865

  • 发明设计人 SUNG EUN LEE;YOUNG OOK SONG;

    申请日2020-06-24

  • 分类号H03M13/29;G06F11/10;H03M13;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 18:19:32

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