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机译:量法,特别是在新近生产的贝通大街中测量粗糙度的方法和装置
公开/公告号DE000000654908A
专利类型
公开/公告日1938-01-04
原文格式PDF
申请/专利权人 FRANZ J MEISTER DR ING;
申请/专利号DEM0134608D
发明设计人
申请日1936-05-24
分类号
国家 DE
入库时间 2022-08-24 05:30:02
机译: 暂时锁定微结构和/或粗糙度测量设备的方法,实施该方法的微结构和/或粗糙度测量设备,以及微结构和/或粗糙度测量设备和测量的组装