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A method for the unambiguous measuring path differences, thick and refraction index of plane-parallel plates

机译：平面平行板的光程差，厚度和折射率的明确测量方法

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  • 公开/公告号DE1031991B

    专利类型

  • 公开/公告日1958-06-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DR. HANS WOLTER;

    申请/专利号DE1953W011394

  • 发明设计人 WOLTER DR. HANS;

    申请日1953-06-09

  • 分类号G01B9/02;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 20:50:04

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