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机译:用于测量具有多个刻度的直线差的调节装置。
公开/公告号DE1759203U
专利类型
公开/公告日1958-01-02
原文格式PDF
申请/专利权人 J C ECKARDT A G DE;
申请/专利号DE1957E010395U
发明设计人
申请日1957-11-02
分类号
国家 DE
入库时间 2022-08-23 20:34:04
机译: 借助于差动电流测量转换器来调节多个监控直线的虚拟测量场长度的方法和装置
机译: 在测量颗粒原理时,根据十字直线的差值获得多个测量范围的装置
机译: 在根据交叉原理测量颗粒的不同直线度的情况下用于获得多个测量范围的装置