Apparatus to rays chi for the examination of the materials and for the measurement of the thickness of thin metal films applied on a metal support

机译： 通过提供具有指定厚度的金属膜，并提供包括涂覆有该涂料层的载体膜的层复合材料，来制造包括金属薄膜和装饰层的装饰材料，该金属膜和金属层上涂覆有涂料层

机译： 使用X射线荧光透视法进行薄膜测量，例如用于测量镀锌层的厚度，从而使用于形成X射线检查光束的光阑与要检查的组件的几何形状匹配

机译： 使用能量D的X射线荧光光谱法测量厚的金属膜的厚度-在X射线的强度和厚度之间没有更多的相关性