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test circuit and tester for the examination of transistor circuits and the in these transistors provided in the installed state

机译:测试电路和测试仪,用于检查晶体管电路以及在安装状态下提供的这些晶体管

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE1126034B

    专利类型

  • 公开/公告日1962-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PHILCO CORP;

    申请/专利号DE1959P023524

  • 发明设计人 BIGELOW JOHN FORREST;

    申请日1959-09-14

  • 分类号G01R31/26;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 17:53:44

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