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机译:用于通过多个寄存器测试器周期检测测量值的变化范围的寄存器测试器装置
公开/公告号DE1423776A1
专利类型
公开/公告日1968-10-10
原文格式PDF
申请/专利权人 LICENTIA PATENT-VERWALTUNGS-GMBH;
申请/专利号DE19611423776
发明设计人 WERNER OESINGHAUSDIPL.-ING.;
申请日1961-08-28
分类号G01D9/06;
国家 DE
入库时间 2022-08-23 13:16:43
机译: 可以通过打孔来检测在更年期期间用于记录消费mes设备的设备的检测值,例如该电气类型的设备
机译: 在多个设备和其上存储了记录器的记录介质的情况下用于登记信息的方法和设备
机译: 在长度相等的特里尔时间段中记录机器的Hoechst值和naechstniedrigeren值的设备,获得测量值