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机译:使用低角度x射线反射单元的x射线光谱仪设备和改变x射线入射角的装置
公开/公告号US3418466A
专利类型
公开/公告日1968-12-24
原文格式PDF
申请/专利权人 E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY;
申请/专利号US19660566057
发明设计人 HERGLOTZ HERIBERT KARL JOSEF;
申请日1966-07-18
分类号G01N23/223;
国家 US
入库时间 2022-08-23 11:47:13
机译: 从小入射角X射线装置设定X射线入射角的方法和机理
机译: X射线衍射测量装置以及用于检测x射线衍射测量装置中的x射线入射角的方法
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