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Method of fabricating a photoconductive detector of increased responsivity

机译:制备具有更高响应度的光电导检测器的方法

摘要

A method of fabricating a photoconductive detector of increased responsivity, such as an infrared detector, from a slab of N- type, intrinsic bulk semiconductor material comprises shielding part of the detector active area between the positive and negative contacts with a material limiting photon exposure of the active area to retain a reduced detector active area sufficiently spaced from the negative contact to permit negligible loss in responsivity due to recombination of the photogenerated hole carriers at the negative contact.
机译:一种由N型本征块状半导体材料制成的板,以提高响应度的光电导检测器(例如红外检测器)的方法,该方法包括使用正负触点之间的材料来限制检测器有效区域的一部分,以限制光子的暴露量。有源区保留了与负极触点足够间隔的减小的检测器有效面积,从而由于负极触点上光生空穴载流子的重组而使得响应性的损失可忽略不计。

著录项

  • 公开/公告号US4073969A

    专利类型

  • 公开/公告日1978-02-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US19760649189

  • 发明设计人 BILLY H. BREAZEALE;

    申请日1976-01-15

  • 分类号B05D5/12;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 21:32:17

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