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机译：测量长焦电子透镜焦距的方法和装置
公开/公告号JPS552990A
专利类型
公开/公告日1980-01-10
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AG;
申请/专利号JP19790075123
发明设计人 BURUKUHARUTO RISHIYUKE;KURAUSU ANGAA;YURUGEN FUROOJIEN;
申请日1979-06-14
分类号H01J37/141;G01B15/00;G01Q20/02;H01J37/21;H01J37/30;H01L21/027;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 18:43:18
机译： 激光束表征方法，涉及到测量无限聚焦的激光束的直径，并确定无限聚焦的激光束的直径和透镜的焦距的发散角。
机译： 电子润湿设备，各种焦距镜头，光学拾取设备，光学记录再现设备，液滴操作设备，光学元件，变焦镜头，成像设备，光调制设备，闪烁显示器，电子设备，显示器和电子设备
机译： 测量长焦光学系统焦距的方法和装置
