首页> 外国专利> AN ARRANGEMENT FOR RECORDING TRACKS OF CHARGED PARTICLESBY MEANS OF STRIMER CHAMBER AND NON-STANDARD VERSION OF TWO-BEAM INTERFEROMETRY

AN ARRANGEMENT FOR RECORDING TRACKS OF CHARGED PARTICLESBY MEANS OF STRIMER CHAMBER AND NON-STANDARD VERSION OF TWO-BEAM INTERFEROMETRY

机译:带电粒子记录轨迹的布置,采用双腔干涉法和两束干涉法的非标准版本

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL234579A2

    专利类型

  • 公开/公告日1982-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 UNIV JAGIELLONSKI;

    申请/专利号PL19810234579

  • 发明设计人 KEDZIERSKI WLADYSLAW;BUDZIAK ALFRED;

    申请日1981-12-31

  • 分类号G03H;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 13:37:51

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