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机译:带电粒子记录轨迹的布置,采用双腔干涉法和两束干涉法的非标准版本
公开/公告号PL234579A2
专利类型
公开/公告日1982-10-25
原文格式PDF
申请/专利权人 UNIV JAGIELLONSKI;
申请/专利号PL19810234579
发明设计人 KEDZIERSKI WLADYSLAW;BUDZIAK ALFRED;
申请日1981-12-31
分类号G03H;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 13:37:51
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