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Brief description of the formation of zones narrow in circuits integrated, in particular for the formation of grids, the isolation of components, the formation of regions doped and the manufacture of the transistors

机译:简要描述了集成电路中狭窄区域的形成,特别是用于形成栅极,隔离元件,形成掺杂区域和制造晶体管

摘要

A method of electrically isolating a plurality of semiconductor integrated circuit components and for forming gate elements for silicon gate transistors is disclosed whereby extremely narrow line widths can be formed which heretofore have been unattainable by practicing conventional photolithography.
机译:公开了一种电隔离多个半导体集成电路部件并形成用于硅栅极晶体管的栅极元件的方法,由此可以形成非常窄的线宽,这是迄今为止通过实践传统的光刻技术无法获得的。

著录项

  • 公开/公告号FR2487125B1

    专利类型

  • 公开/公告日1984-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DATA GENERAL CORP;

    申请/专利号FR19810014109

  • 发明设计人

    申请日1981-07-20

  • 分类号H01L21/76;

  • 国家 FR

  • 入库时间 2022-08-22 08:45:49

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