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机译:混合电路结构中集成电路结构的组装方法和集成电路结构的封装
公开/公告号PL251256A1
专利类型
公开/公告日1986-07-01
原文格式PDF
申请/专利权人 OS BAD ROZWOJOWY MIKROELEKTRON;
申请/专利号PL19840251256
发明设计人 MAGONSKI ZBIGNIEW;BARAN KRZYSZTOF;WAZNY JOZEF;ROMANSKI LESZEK;
申请日1984-12-24
分类号H01L;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 07:40:29
机译: 组装集成电路以形成集成三维结构的方法,涉及以低熔点熔合合金层以在两个集成电路的金属线之间形成导电连接
机译: 将集成电路与另一集成电路组装以形成三维集成结构的方法,包括实现从集成电路正面到金属线的导电柱交叉
机译: 测量组装成三维集成结构的集成电路两部分之间的金属连接电阻的方法,包括在集成电路部分的非组装面上形成两个空腔