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Semiconductor fuse blowing and verifying method and apparatus

机译:半导体保险丝熔断和验证方法及装置

摘要

One or more selected fuses among a plurality of fuses are blown by using electronic means to discharge a capacitor and route the resulting current spike to the selected fuse. Also, a driver output current is approximated by measuring suply currents for an unloaded output and for a loaded output and comparing the two supply currents. If the driver output is connected to the active end of a fuse, the supply current demanded by the driver indicates a state of the fuse. The invention finds particular utility when used on an integrated circuit memory array with fuse activated redundancy.
机译:通过使用电子装置使多个保险丝中的一个或多个选定的保险丝熔断,以使电容器放电并将所得的电流尖峰路由到选定的保险丝。同样,通过测量空载输出和空载输出的应有电流并比较两个电源电流,可以近似得出驱动器输出电流。如果驱动器输出连接到保险丝的有源端,则驱动器所需的电源电流会指示保险丝的状态。当在具有保险丝激活的冗余的集成电路存储器阵列上使用本发明时,发现特别有用。

著录项

  • 公开/公告号US4937465A

    专利类型

  • 公开/公告日1990-06-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MICRON TECHNOLOGY INC.;

    申请/专利号US19880281109

  • 发明设计人 JON P. BUSACK;GARY M. JOHNSON;

    申请日1988-12-08

  • 分类号H03K17/00;H03K19/003;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 06:07:15

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