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机译:用于光学外差的设备和用于这种设备的集成光学组件。
公开/公告号DE68910191T2
专利类型
公开/公告日1994-05-05
原文格式PDF
申请/专利权人 PHILIPS NV NL;
申请/专利号DE1989610191T
发明设计人 KHOE GIOK DJAN NL;
申请日1989-06-05
分类号H04B10/00;G02F2/00;G02B27/10;G02B27/28;H04J14/00;
国家 DE
入库时间 2022-08-22 04:35:21
机译: 用于光学外差检测的设备,以及适用于这种设备的集成光学组件。
机译: 适于在这种设备中使用的光学异物检测设备和集成光学组件
机译: 用于光学外差检测的设备和适用于这种设备的集成光学组件