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Sample holder also for profilometer, phases of displacement that - interferometry - microscopes or scanning probe microscopes

机译:样品架还用于轮廓仪,位移相-干涉仪-显微镜或扫描探针显微镜

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号DE29516766U1

    专利类型

  • 公开/公告日1996-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 BRINK GUNNAR DR. 80801 MUENCHEN DE;

    申请/专利号DE1995216766U

  • 发明设计人

    申请日1995-10-24

  • 分类号G01B21/20;G01B9/08;G02B21/34;B01L9/00;H01J37/20;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 03:43:10

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