首页> 外国专利> Formation method of titanium nitride thin film and titanium nitride thin film formed according to the method

Formation method of titanium nitride thin film and titanium nitride thin film formed according to the method

机译:氮化钛薄膜的形成方法以及根据该方法形成的氮化钛薄膜

摘要

A method of forming a titanium nitride thin film using a chemical vapor deposition method, the method comprising: (a) forming a first titanium nitride film on a semiconductor substrate using a metal organic source containing titanium and nitrogen; (b) forming a second titanium nitride film by alternately using a metal organic source containing titanium and nitrogen and ammonia gas on the resultant in turn to provide a method of forming a titanium nitride thin film. According to the present invention, a titanium nitride thin film having excellent step coverage, specific resistance and stability can be obtained.
机译:一种使用化学气相沉积法形成氮化钛薄膜的方法,该方法包括:(a)使用包含钛和氮的金属有机源在半导体衬底上形成第一氮化钛膜; (b)通过依次在所得物上交替使用含钛和氮的金属有机源和氨气形成第二氮化钛膜,从而提供形成氮化钛薄膜的方法。根据本发明,可以获得具有优异的台阶覆盖率,电阻率和稳定性的氮化钛薄膜。

著录项

  • 公开/公告号KR970043359A

    专利类型

  • 公开/公告日1997-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 김광호;

    申请/专利号KR19950050679

  • 发明设计人 이현덕;

    申请日1995-12-15

  • 分类号C30B29/38;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 03:17:02

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号