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机译：分析电子显微镜。
公开/公告号NL1010087A1
专利类型
公开/公告日1999-03-22
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI LTD.;
申请/专利号NL19981010087
发明设计人 WATARU SHIMOYAMA;YUJI SATO;SHIGETO ISAKOZAWA;
申请日1998-09-14
分类号H01J37/26;H01J37/244;
国家 NL
入库时间 2022-08-22 02:26:57
机译： spinpolarisierte电子源使用多个mikrospitzen现有的发射阴极，用于电子材料的物理学或电子粒子在等离子体物理学，电子显微镜中的相互作用。
机译： 在扫描显微镜中能够通过二次电子提高图像中信噪比的装置。
