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Metal deposition onto a substrate surface with a recess especially a sub-micron size via in semiconductor device production

机译:在半导体器件生产中,将金属沉积到具有凹槽(尤其是亚微米尺寸的通孔)的基板表面上

摘要

Metal is deposited onto a substrate surface including a recess (5) at a deposition temperature and rate such that metal deposits on the recess bottom (20) but not on the side walls (25).
机译:金属以沉积温度和速率沉积在包括凹部(5)的基板表面上,使得金属沉积在凹部底部(20)上而不沉积在侧壁(25)上。

著录项

  • 公开/公告号DE19816927A1

    专利类型

  • 公开/公告日1999-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SIEMENS AG;

    申请/专利号DE1998116927

  • 发明设计人 RICHTER UWE;HELNEDER JOHANN;

    申请日1998-04-16

  • 分类号H01L21/285;H01L21/768;C23C14/34;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-22 02:12:46

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