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Osmium rectification Schottky and ohmic junctions and tungsten / tungsten carbide / titanium carbide on silicon carbide ohmic contacts

机译:carbide整流肖特基和欧姆结以及碳化硅欧姆触点上的钨/碳化钨/碳化钛

摘要

Metal osmium on SiC (beta or ) forms an effective barrier to the diffusion of contact and conductive metals that are firmly attached to the SiC substrate. On p-type SiC (12), Os is 10-4ohm-cm2Contact resistivity of the ohmic contact. Ohmic and rectifying contacts to the TiC film 30 on the SiC substrate 12 are formed by sequentially depositing the WC film 32 and the metal W film 34 on the TiC film 30. [ These contacts are stable to at least 1150C. The electrode 38 is connected directly to the upper contact via a protective bonding film 36 such as Pt or PtAu.
机译:SiC上的金属(β或)对牢固附着在SiC衬底上的接触金属和导电金属的扩散形成有效的阻挡。在p型SiC(12)上,Os为<10 -4 ohm-cm 2 欧姆接触的接触电阻率。通过在TiC膜30上依次沉积WC膜32和金属W膜34,形成与SiC基板12上的TiC膜30的欧姆和整流接触。这些接触至少在1150C时稳定。电极38通过诸如Pt或PtAu的保护性接合膜36直接连接至上触点。

著录项

  • 公开/公告号KR19990087549A

    专利类型

  • 公开/公告日1999-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 헤이그 도널드 이.;

    申请/专利号KR19980706986

  • 发明设计人 파슨스 제임스 디.;

    申请日1998-09-05

  • 分类号H01L21/283;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-22 01:46:30

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