要解决的问题:提供一种能够有效地对X射线异物检查装置进行灵敏度校准操作的校准方法,并提供用于灵敏度校准的异物样品体。
解决方案:用于通过透射X射线检测样本中所含异物的X射线异物检查设备的灵敏度的校准方法使得能够使用与异物一体提供的异物样品体将具有第一体积的样品和具有第二体积的异物样品作为一组,以用X射线照射添加了异物样品体的样品。 X射线异物检查装置的灵敏度通过异物检测信号来校准,该异物检测信号参照具有不同体积的异物样本,该异物样本基于关于其透射的X射线图像的图像数据而输出。
版权:(C)2003,日本特许厅
公开/公告号JP2003232752A
专利类型
公开/公告日2003-08-22
原文格式PDF
申请/专利权人 YAMATO SCALE CO LTD;
申请/专利号JP20020033359
发明设计人 KAWANISHI KATSUZO;
申请日2002-02-12
分类号G01N23/04;G01T7/00;
国家 JP
入库时间 2022-08-22 00:19:40