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Method and system for providing a heuristic approach for testing cell libraries

机译:提供用于测试单元库的启发式方法的方法和系统

摘要

Method and system for testing building blocks or cells stored in cell libraries used in digital design including generating a test design configuration of rows and columns of cells of the particular cell library and interconnecting each pin of each cell in the test design for isolating and correcting faulty cells in the cell library such that error check at the cell level and simultaneously checking errors in the cell library is provided.
机译:用于测试在数字设计中使用的单元库中存储的构造块或单元的方法和系统,包括生成特定单元库的单元行和列的测试设计配置,以及互连测试设计中每个单元的每个引脚以隔离和纠正故障单元库中的单元,以便提供单元级别的错误检查并同时检查单元库中的错误。

著录项

  • 公开/公告号US6581192B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SUN MICROSYSTEMS INC.;

    申请/专利号US20010872065

  • 发明设计人 SURESH KRISHNAMOORTHY;

    申请日2001-05-31

  • 分类号G06F175/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:06:52

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