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Optical barrier and methods for forming the optical barrier without etching a transparent layer below the optical barrier

机译:光学阻挡层和在不蚀刻光学阻挡层下方的透明层的情况下形成光学阻挡层的方法

摘要

An optical barrier made of tungsten (W) or titanium-tungsten (TiW). A layer of the optical barrier material is deposited over a transparent layer such as indium tin oxide (ITO). The optical barrier material is then patterned using photolithography processing steps and a dry etchant. The patterned optical barrier material acts as a light-shielding layer over a light-sensing device to form a dark reference device or dark pixel.
机译:由钨(W)或钛钨(TiW)制成的光学屏障。光学阻挡材料层沉积在诸如氧化铟锡(ITO)的透明层上。然后使用光刻处理步骤和干蚀刻剂对光学阻挡材料进行构图。图案化的光学阻挡材料用作光敏器件上的遮光层,以形成暗参考器件或暗像素。

著录项

  • 公开/公告号US6627866B2

    专利类型

  • 公开/公告日2003-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 AGILENT TECHNOLOGIES INC;

    申请/专利号US20010971433

  • 发明设计人 DAVID W. HULA;ROBERT G. LONG;

    申请日2001-10-05

  • 分类号H01L310/20;H01L210/20;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:05:40

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