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Method and apparatus for representing integrated circuit device characteristics using polynomial equations

机译:使用多项式方程表示集成电路器件特性的方法和装置

摘要

An approach for representing integrated circuit device characteristics using polynomial equations involves analyzing integrated circuit device characterization data in a lookup table form and using an order incremental scheme to determine a polynomial equation of a relatively low-order that satisfies specified accuracy criteria. In situations where a polynomial equation that has an order less than a maximum allowable order cannot be determined, the integrated circuit device characterization data is partitioned into sub-domains and polynomial equations are determined separately for each sub-domain. The separate polynomial equations are then combined to generate a piecewise polynomial equation that represents all of the integrated circuit device characterization data.
机译:一种使用多项式方程式表示集成电路器件特性的方法,涉及以查找表形式分析集成电路器件的特性数据,并使用阶数递增方案来确定满足指定精度标准的相对低阶的多项式方程。在无法确定其阶次小于最大允许阶次的多项式方程的情况下,将集成电路器件特征数据划分为多个子域,并分别为每个子域确定多项式方程。然后将单独的多项式方程式组合以生成代表所有集成电路器件特征数据的分段多项式方程式。

著录项

  • 公开/公告号US6615164B1

    专利类型

  • 公开/公告日2003-09-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SYNOPSYS INC.;

    申请/专利号US19990293560

  • 发明设计人 RUNIP GOPISETTY;GAO FENG WANG;

    申请日1999-04-15

  • 分类号G06F76/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:05:08

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