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Failure analysis system and failure analysis method of logic LIS

机译:逻辑LIS的故障分析系统及故障分析方法

摘要

A failure analysis system of a logic LSI incorporates software therein. The analysis system includes a function to record the terminal signal information of said logic LSI in synchronization with a clock and a function to reproduce said recorded terminal signal information in synchronization with the clock. The analysis system further includes a function to compare said reproduced terminal signal information with the terminal signal information of a normal logic LSI.
机译:逻辑LSI的故障分析系统在其中结合了软件。分析系统包括与时钟同步地记录所述逻辑LSI的端子信号信息的功能和与时钟同步地再现所述记录的端子信号信息的功能。分析系统还包括将所述再现的终端信号信息与常规逻辑LSI的终端信号信息进行比较的功能。

著录项

  • 公开/公告号US2004044485A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 KONDO TAKAYUKI;

    申请/专利号US20030621603

  • 发明设计人 TAKAYUKI KONDO;

    申请日2003-07-18

  • 分类号G06F19/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 23:14:38

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