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METHOD FOR FABRICATING TITANIUM NITRIDE LAYER TO IMPROVE PHYSICAL PROPERTY AND BARRIER CHARACTERISTIC

机译:制备氮化钛层以改善物理性能和阻挡层特性的方法

摘要

PURPOSE: A method for fabricating a titanium nitride layer is provided to enable a mass production by forming a titanium nitride layer while using only one LPCVD(low pressure chemical vapor deposition) thermal chamber, and to improve a barrier characteristic by forming the titanium nitride layer by a two-step process. CONSTITUTION: A titanium layer(6) is formed on a semiconductor substrate(1). The first titanium nitride layer(7) of a thickness from 50 angstroms to 100 angstroms is formed on the titanium layer by using either one of a TDMAT(tetrakis di-methyl amino titanium) source or a TDEAT(tetrakis di-ethyl amino titanium) source. The second titanium nitride layer(8) is formed on the first titanium nitride layer by using either one of TiCl4/N2 or TiCl4/NH3.
机译:用途:提供一种制造氮化钛层的方法,以通过仅使用一个LPCVD(低压化学气相沉积)热室而形成氮化钛层来实现批量生产,并通过形成氮化钛层来改善阻挡特性通过两步过程。组成:在半导体衬底(1)上形成钛层(6)。通过使用TDMAT(四甲基二甲基氨基钛)源或TDEAT(四乙基二乙基氨基钛)源之一在钛层上形成厚度为50埃至100埃的第一氮化钛层(7)。资源。通过使用TiCl 4 / N 2或TiCl 4 / NH 3中的任一个在第一氮化钛层上形成第二氮化钛层(8)。

著录项

  • 公开/公告号KR100439050B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC.;

    申请/专利号KR19960075202

  • 发明设计人 CHOI GYEONG GEUN;

    申请日1996-12-28

  • 分类号H01L21/28;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 22:46:57

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