机译:产生用于半导体的补偿区域的步骤包括:以横向移位的方式在第一区域中形成具有第一p导电性的初级掺杂材料储库,并扩散出初级掺杂材料储库。
公开/公告号DE10239580A1
专利类型
公开/公告日2004-03-18
原文格式PDF
申请/专利权人 INFINEON TECHNOLOGIES AG;
申请/专利号DE2002139580
发明设计人 RUEB MICHAEL;
申请日2002-08-28
分类号H01L21/334;H01L21/328;H01L29/06;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 22:43:57