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Phase changeable memory cell includes top electrode whose tip extends towards vertical portion of bottom electrode, and phase changeable memory layer pattern between top and bottom electrodes

机译:相变存储单元包括:顶部电极,其顶端向底部电极的垂直部分延伸;以及顶部和底部电极之间的相变存储层图案

摘要

A phase changeable material layer pattern (64g) is pinched between top and bottom electrodes (66e,56e) on a substrate. The tip (T) of the top electrode, extends towards the vertical portion (56v) of the bottom electrode. An independent claim is also included for method of fabricating phase changeable memory cell.
机译:相变材料层图案(64g)被夹在基板上的顶部和底部电极(66e,56e)之间。顶部电极的尖端(T)朝向底部电极的垂直部分(56v)延伸。还包括用于制造相变存储单元的方法的独立权利要求。

著录项

  • 公开/公告号DE10351017A1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-05-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号DE2003151017

  • 发明设计人 HWANG YOUNG-NAM;LEE SE-HO;

    申请日2003-10-31

  • 分类号H01L27/24;H01L21/822;H01L27/105;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 22:43:10

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