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MEASURING POSITIONS OR COPLANARITY OF CONTACT ELEMENTS OF AN ELECTRONIC COMPONENT WITH A FLAT ILLUMINATION AND TWO CAMERAS

机译:带有平面照明和两个摄像头的电子组件的接触元素的位置或共面性的测量

摘要

Measuring positions of a set of contact elements of an electronic component. They are illuminated with a light with an incident angle of at the most 20 degrees and first and second images are recorded with first and second cameras which are set up over a triangulation angle with respect to each other. A series of LEDs in rings of 15 cm diameter are used. Coplanarity is verified for a ball grid array (BGA) or with chip scale packaging (CSP) or flip chip devices. Calibration with a glass plate with crosses and subsequent processing of the doughnut shaped images with convolutions.
机译:测量电子组件的一组接触元件的位置。它们以入射角最大为20度的光照射,并使用第一和第二相机记录第一和第二图像,第一和第二相机相对于彼此设置在一个三角角度上。使用了一系列直径为15厘米的环形LED。已针对球栅阵列(BGA)或芯片级封装(CSP)或倒装芯片器件验证了共面性。使用带有十字的玻璃板进行校准,然后使用卷积对甜甜圈形图像进行后续处理。

著录项

  • 公开/公告号EP1185841B1

    专利类型

  • 公开/公告日2004-11-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ICOS VISION SYSTEMS NV;

    申请/专利号EP20000907364

  • 申请日2000-03-01

  • 分类号G01B11/03;H01L21/66;H05K13/08;G01N21/88;G06T7/60;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 22:11:55

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