要解决的问题:提供一种抛光布,其可以通过抑制缺陷和抛光痕迹的产生而提供高度平坦的晶片,并且提供一种晶片抛光装置。
解决方案:通过用在其上电沉积有金刚石磨粒的研磨板19环形研磨外周,来降低用于抛光晶片W的研磨布12的外周表面的高度。因此,因为在抛光布12的外周中减小了抛光阻力,所以可以制造在外周中减少了平面滴的高度平坦的晶片W。
版权所有:(C)2006,JPO&NCIPI
公开/公告号JP2006147731A
专利类型
公开/公告日2006-06-08
原文格式PDF
申请/专利号JP20040333791
申请日2004-11-17
分类号H01L21/304;B24B37/00;B24D3/00;B24D3/34;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:51:46