要解决的问题:提供一种用于在过程检查中正确设置用于检测缺陷标志的检查标准的技术。解决方案:构成数据处理器,使得相对于过程检查的各个检查项目提取的特征量和最终检查的判断结果被存储在存储装置中,特征量的分布的分离度根据存储在存储装置中的多个产品的数据,计算在最终检查中被判定为良品组的产品组的特征量,以及在最终检查中被判定为不良产品组的产品组的特征量的分布。每个检查项目或每个检查项目的组合,根据分离度的大小和新的检查标准,从检查项目或检查项目的组合中选择用于重置检查标准的检查项目相对于所选检查项目设置。
版权:(C)2007,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP2006317266A
专利类型
公开/公告日2006-11-24
原文格式PDF
申请/专利权人 OMRON CORP;
申请/专利号JP20050139903
申请日2005-05-12
分类号G01N21/956;G05B19/418;H05K3;H05K3/34;G01B21;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 21:11:48